自适应维特比检测器制造技术

本发明专利技术涉及一种自适应维特比检测器，以及一种使用这种自适应维特比检测器来读取和／或写入记录介质的设备。本发明专利技术的目的是针对自适应维特比检测器，提供一种备选设计，以针对呈现强烈垂直不对称的ＲＦ信号，改善锁相和正确的数据重建。通过具有适应参考电平的维特比检测器来实现本目的，该检测器用于从输入ＲＦ信号进行比特恢复，其中参考电平自适应输入的ＲＦ信号，所述检测器具有装置，用于针对每一个状态转换，根据输入ＲＦ电平和对应的参考电平之间的偏差，来优化参考电平，其中对应的参考电平是由具有最大似然的当前状态确定的。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种自适应维特比检测器，以及一种使用这种自适应维特比检测器来读取和/或写入记录介质的设备。
技术介绍
当今，光和磁盘介质是在工业和日常生活中广泛使用的主要介质。随着光学记录技术的发展，光学记录和重写速度快速提高。因为介质灵敏度、焦点的变化和不足的记录激光功率控制，所记录的凹坑偏离标称尺寸。正偏差使凹坑明显地比相同标称长度的平面长，而负偏差使凹坑明显地比相同标称长度的平面短。由此，从这种预标记或记录的盘中扫描再现的RF信号呈现垂直失真现象，该现象被称作不对称。这种垂直不对称失真导致与锁相有关的困难，并增加在获取中用于比特恢复的解码比特流的误码率(BER)，该获取根据传统信道模式工作，并采用具有固定判决电平的一般局部响应最大似然(PRML)检测器。美国专利申请2002/0174402A1和美国专利申请2002/0073378A1公开了具有对称参考电平PRML检测器的传统六状态维特比检测器，以及一种用于节省路径存储器中硬件的方法。美国专利申请2002/0021772A1教导了一种方法，其中根据两个不同的基准电平，采用两个维特比检测器，来解码相同但是具有不同DC电平的波形。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有自适应参考电平的维特比检测器，用于从输入ＲＦ信号进行比特恢复，其中参考电平与输入ＲＦ信号相适应，所述维特比检测器包括用于针对每一个状态转换、根据输入ＲＦ电平与对应的参考电平之间偏差来优化参考电平的装置，所述维特比检测器的特征在于，由具有最大似然的当前状态确定对应的参考电平。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯琪龙，
申请(专利权)人：汤姆森许可贸易公司，
类型：发明
国别省市：FR[]