光学元件面型测量设备的辅助测量工装及面型测量设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学元件面型测量设备的辅助测量工装及面型测量设备，该辅助测量工装包括：支撑结构，弯折杆，可调纱网；弯折杆能够灵活弯折并保持弯折状态，弯折杆的两端分别与支撑结构和可调纱网连接；支撑结构用于提供支撑，可调纱网用于伸入面型测量设备的激光装置和测试台之间，其中，面型测试设备未安装纱网。使用该光学元件面型测量设备的辅助测量工装时，通过支撑结构对整个辅助测量工装提供支撑，通过弯折杆灵活弯折，变化可调纱网在激光装置和测试台之间的高度和可调纱网的激光透射角度，以便透射适宜的光满足不同结构光学元件面型的测量。该辅助测量工装结构简单，便于制造和使用，能够省时省力地完成光学元件面型的测量。面型的测量。面型的测量。

【技术实现步骤摘要】
光学元件面型测量设备的辅助测量工装及面型测量设备


[0001]本技术涉及光学元件面型测量领域，尤其是一种激光光学元件面型测量设备用的辅助测量工装及包括该辅助测量工装的面型测量设备。

技术介绍

[0002]如图1所示的一种激光光学元件面型测量设备，该设备包括由上到下依次设置的激光装置a，测试台b和纱网c，光学元件置于测试台b上，激光装置a向下投射激光，纱网c用于遮挡部分激光，使透过纱网c的光更适宜完成光学元件面型的测量。
[0003]由于光学元件的高度不一致，不同待测试面与透过纱网c的光的夹角也不一致（不同待测试面可与水平面呈各种角度），现有面型测量设备的纱网c固定到设备的中部，纱网c不能进行高度和角度的调整，透过纱网c的光不能或不便于测量不同结构学元件面型，设备通用性差。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的问题，本技术的目的在于提供一种光学元件面型测量设备的辅助测量工装，以解决现有面型测量设备不能或不易测量不同结构学元件面型的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术的技术方案如下：
[0006]一种光学元件面型测量设备的辅助测量工装，包括：支撑结构，弯折杆，可调纱网；所述弯折杆能够灵活弯折并保持弯折状态，所述弯折杆的两端分别与所述支撑结构和所述可调纱网连接；所述支撑结构用于提供支撑，所述可调纱网用于伸入面型测量设备的激光装置和测试台之间，其中，所述面型测试设备未安装纱网。
[0007]进一步，所述弯折杆一端与所述可调纱网铰接连接。
[0008]进一步，所述弯折杆另一端与所述支撑结构铰接连接。
[0009]进一步，所述支撑结构为可置于平面上的支撑座。
[0010]进一步，所述支撑座为圆盘状。
[0011]进一步，所述支撑结构为夹持器。
[0012]使用本技术光学元件面型测量设备的辅助测量工装时，通过支撑结构对整个辅助测量工装提供支撑，通过弯折杆灵活弯折，变化可调纱网在激光装置和测试台之间的高度和可调纱网的激光透射角度，以便透射适宜的光满足不同结构光学元件面型的测量。该辅助测量工装结构简单，便于制造和使用，能够省时省力地完成光学元件面型的测量，增强了光学元件面型测量设备的通用性。
[0013]本技术还提供了一种光学元件面型测量设备，包括：上述辅助测量工装，测量设备本体；所述测量设备本体包括激光装置和设置在所述激光装置下方的测试台，所述辅助测量工装的所述可调纱网置于所述激光装置和所述测试台之间。
[0014]本技术的光学元件面型测量设备包括本技术的辅助测量工装，能够取得
辅助测量工装所能够取得的技术效果。
附图说明
[0015]图1为现有技术中激光光学元件面型测量设备结构示意图；
[0016]图2为本技术示例提供的光学元件面型测量设备的辅助测量工装结构示意图；
[0017]图3为本技术示例提供的光学元件面型测量设备示意图；
[0018]图中：
[0019]1—支撑结构；2—弯折杆；3—可调纱网；4—第一铰接轴；5—第二铰接轴；6—测量设备本体；6
‑
1—激光装置；6
‑
2—测试台。
具体实施方式
[0020]为了使本领域的技术人员更好地理解本技术的方案，下面结合本技术示例中的附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的示例仅仅是本技术的一部分示例，而不是全部的示例。基于本技术中的示例，本领域的普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下，所获得的所有其他实施方式都应当属于本技术保护的范围。
[0021]在本实施方式的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于区别类似的对象，而不能理解为特定的顺序或先后次序，应该理解这样的使用在适当情况下可以互换。
[0022]如图2
‑
3所示的示例，提供了本技术一种光学元件面型测量设备的辅助测量工装，包括：支撑结构1，弯折杆2，可调纱网3；弯折杆2能够灵活弯折并保持弯折状态，弯折杆2的两端分别与支撑结构1和可调纱网3连接；支撑结构1用于提供支撑，可调纱网3用于伸入面型测量设备的激光装置和测试台之间，其中，面型测试设备未安装纱网。
[0023]使用本示例光学元件面型测量设备的辅助测量工装时，通过支撑结构1对整个辅助测量工装提供支撑，通过弯折杆2灵活弯折，变化可调纱网3在激光装置和测试台之间的高度和可调纱网3的激光透射角度，以便透射适宜的光满足不同结构光学元件面型的测量。该辅助测量工装结构简单，便于制造和使用，能够省时省力地完成光学元件面型的测量，增强了光学元件面型测量设备的通用性。
[0024]在本示例中，弯折杆2一端通过第一铰接轴4与可调纱网3铰接连接，当弯折杆2因局部应力过大不方便向某个方向弯折时，弯折杆2与可调纱网3铰接便于调整可调纱网3的激光透射角度。
[0025]优选地，弯折杆2另一端通过第二铰接轴5与支撑结构1铰接连接，当弯折杆2因局部应力过大不方便向某个方向弯折时，弯折杆2与支撑结构1铰接便于调整支撑结构1对整个辅助测量工具的支撑。
[0026]参见图2，支撑结构1为可置于平面上的支撑座。优选地，支撑座为重心较低能够提供稳定支撑的圆盘状；支撑座也可以是便于支撑的其他形状。
[0027]在本技术的其他实施方式中，支撑结构为夹持器。夹持器可常见于具有夹持功能的台灯和手机支架中。
[0028]需要说明的是，弯折杆2的结构和材质可常见于台灯或床头手机支架的弯折杆的
结构和材质。
[0029]参见图3，本示例还提供了一种光学元件面型测量设备，包括：本示例的辅助测量工装，测量设备本体6；测量设备本体6包括激光装置6
‑
1和设置在激光装置6
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1下方的测试台6
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2，辅助测量工装的可调纱网3置于激光装置6
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1和测试台6
‑
2之间。
[0030]本示例的光学元件面型测量设备包括本示例的辅助测量工装，能够取得本示例辅助测量工装所能够取得的技术效果。
[0031]最后，可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本技术的原理而采用的示例性实施方式，然而本技术并不局限于此。对于本领域普通技术人员而言，在不脱离本技术的原理和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学元件面型测量设备的辅助测量工装，其特征在于，包括：支撑结构，弯折杆，可调纱网；所述弯折杆能够弯折并保持弯折状态，所述弯折杆的两端分别与所述支撑结构和所述可调纱网连接；所述支撑结构用于提供支撑，所述可调纱网用于伸入面型测量设备的激光装置和测试台之间，其中，所述面型测量设备未安装纱网。2.根据权利要求1所述的辅助测量工装，其特征在于，所述弯折杆一端与所述可调纱网铰接连接。3.根据权利要求1或2所述的辅助测量工装，其特征在于，所述弯折杆另一端与所述支撑结构铰接连接。4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘景峰，
申请(专利权)人：四川奇峰景行光学科技有限公司，
类型：新型
国别省市：