一种三坐标测轮廓的检测系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种三坐标测轮廓的检测系统及方法，属于三坐标测量机技术领域。该方法包括：S1：通过三坐标测量机探测标准品所有探测路径在不同温度范围下的标准轮廓的坐标值；S2：通过三坐标测量机探测待测件预设探测路径的待测轮廓的坐标值；S3：获取当前温度和当前预设探测路径，提取与当前温度、当前预设探测路径对应的标准轮廓的坐标值；S4：预设标准轮廓的坐标值与待测轮廓的坐标值之间的坐标偏差阈值范围。在探测待测件预设探测路径的待测轮廓的坐标值时，根据当时的探测温度，与对应温度范围的标准轮廓的坐标值进行对比，从而可以更加准确的待测件当前预设探测路径的轮廓大小、轮廓位置是否正确。轮廓位置是否正确。轮廓位置是否正确。

【技术实现步骤摘要】
一种三坐标测轮廓的检测系统及方法


[0001]本专利技术涉及三坐标测量机
，特别涉及一种三坐标测轮廓的检测系统及方法。

技术介绍

[0002]三坐标测量机，它是指在一个六面体的空间范围内，能够表现几何形状、 长度及圆周分度等测量能力的仪器，又称为三坐标测量仪或三坐标量床。三坐标测量仪可定义为“一种具有可作三个方向移动的探测器，可在三个相互垂直的导轨上移动，此探测器以接触或非接触等方式传送讯号，三个轴的位移测量系统(如光学尺)经数据处理器或计算机等计算出工件的各点坐标(X、 Y、Z)及各项功能测量的仪器”。三坐标测量仪的测量功能应包括尺寸精度、定位精度、几何精度及轮廓精度等。
[0003]现有的三坐标测量机的测量方法是预先在测量机中输入待测零件的数模，再通过测量判断实际值是否在预设数模之内，当在内部时，则判断轮廓正确，否则判断失效，但是工件随着温度的变化，表面的轮廓会发生变化，因此现有的方法测量不够精确。

技术实现思路

[0004]为了解决现有技术的问题，本专利技术提供了一种三坐标测轮廓的检测系统及方法。
[0005]一方面，提供了一种三坐标测轮廓的检测方法，所述方法包括：S1：通过三坐标测量机探测标准品所有探测路径在不同温度范围下的标准轮廓的坐标值；S2：通过三坐标测量机探测待测件预设探测路径的待测轮廓的坐标值；S3：获取当前温度和当前所述预设探测路径，提取与所述当前温度、当前所述预设探测路径对应的所述标准轮廓的坐标值；S4：预设所述标准轮廓的坐标值与所述待测轮廓的坐标值之间的坐标偏差阈值范围；S5：判断当前所述预设探测路径的待测轮廓的坐标值与对应的所述标准轮廓的坐标值之间的坐标值差值是否在所述坐标偏差阈值范围内，若不在，则说明所述待测件当前预设探测路径的轮廓大小、轮廓位置不正确，若在，则说明所述待测件当前预设探测路径的轮廓大小、轮廓位置正确。
[0006]进一步地，若所述待测件当前预设探测路径的轮廓大小、轮廓位置正确，则所述方法还包括：S6：检测所述待测件当前预设探测路径的轮廓缺陷。
[0007]进一步地，所述S6具体包括：基于当前预设探测路径的所述待测轮廓的坐标值绘制当前预设探测路径的第一图像，并基于所述标准轮廓的坐标值绘制标准品对应探测路径的第二图像；将所述第一图像与所述第二图像在显示装置显示，将所述第一图像与所述第二图像的中心重合使得所述第一图像的轮廓边界与所述第二图像轮廓边界均匀贴近，沿所述第
一图像的任意轮廓点，计算该点到对应的所述第二图像轮廓点的距离，预设距离阈值，若所述距离小于所述距离阈值，则认定该点没有缺陷，若所述距离大于所述距离阈值，则该点有缺陷。
[0008]进一步地，所述S6还包括：将有缺陷的轮廓点进行标记。
[0009]另一方面，提供了一种三坐标测轮廓的检测系统，所述系统包括：储存模块：用于储存不同温度范围下标准品所有探测路径的标准轮廓的坐标值；控制模块：用于控制三坐标测量机探测待测件预设探测路径的待测轮廓的坐标值；温度检测模块：用于获取当前温度；提取模块：用于基于所述当前温度和当前预设探测路径从所述储存模块提取对应的所述标准轮廓的坐标值；第一判断模块：用于储存预设的所述标准轮廓的坐标值与所述待测轮廓的坐标值之间的坐标偏差阈值范围，并判断当前所述预设探测路径的待测轮廓的坐标值与对应的所述标准轮廓的坐标值之间的坐标值差值是否在所述坐标偏差阈值范围内。
[0010]进一步地，所述系统还包括：检测模块：用于检测所述待测件当前预设探测路径的轮廓缺陷。
[0011]进一步地，所述检测模块包括：绘制模块：用于基于当前预设探测路径的所述待测轮廓的坐标值绘制当前预设探测路径的第一图像，和基于所述标准轮廓的坐标值绘制标准品对应探测路径的第二图像；显示装置：用于将所述第一图像与所述第二图像显示；调整模块：用于将所述第一图像与所述第二图像的中心重合使得所述第一图像的轮廓边界与所述第二图像轮廓边界均匀贴近，计算模块：用于计算所述第一图像的任意轮廓点到对应的所述第二图像轮廓点的距离；第二判断模块：用于存储距离阈值，并判断所述距离与所述距离阈值的大小。
[0012]进一步地，所述检测模块还包括：标记模块：用于将有缺陷的轮廓点进行标记。
[0013]本专利技术实施例提供的技术方案带来的有益效果是：在工件的轮廓线测量中，工件随着温度的变化，表面的轮廓会发生变化，因此预先通过三坐标测量机探测标准品所有探测路径在不同温度范围下的标准轮廓的坐标值，例如：11~20℃、21~30℃、31~40℃下各检测一次，从而在探测待测件预设探测路径的待测轮廓的坐标值时，根据当时的探测温度，与对应温度范围的标准轮廓的坐标值进行对比，从而可以更加准确的待测件当前预设探测路径的轮廓大小、轮廓位置是否正确。
[0014]其次，即使待测件当前预设探测路径的轮廓大小、轮廓位置在坐标偏差阈值范围内，但是待测件当前预设探测路径的轮廓可能存在凸出或者凹陷的缺陷，因此基于当前预设探测路径的待测轮廓的坐标值绘制当前预设探测路径的第一图像，并基于标准轮廓的坐标值绘制标准品对应探测路径的第二图像，沿第一图像的任意轮廓点，计算该点到对应的第二图像轮廓点的距离是否超过事先预设的距离阈值，从而使得轮廓的检测更加准确。
[0015]另外，将第一图像与第二图像在显示装置显示比对，并且将缺陷的位置进行标记，
从而可以更加直观的查看缺陷的位置。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是本专利技术提供的一种坐标差值与坐标上偏差值与坐标下偏差值的关系图；图2是本专利技术提供的一种第一图像与第二图像轮廓缺陷的对比示意图；图3是本专利技术提供的一种三坐标测轮廓的检测系统的结构示意图。
[0018]附图标记：1
‑
坐标差值；2
‑
坐标上偏差值；3
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坐标下偏差值；4
‑
第一图像；5
‑
第二图像；6
‑
距离。
具体实施方式
[0019]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。
[0020]实施例一一种三坐标测轮廓的检测方法，包括以下步骤：步骤（1）：预先通过三坐标测量机探测标准品所有探测路径在不同温度范围下的标准轮廓的坐标值，并将其储存。
[0021]步骤（2）：通过三坐标测量机探测待测件预设探测路径的待测轮廓1的坐标值。
[0022]步骤（3）：获取当前温度和当前预设探测路径，提取与当前温度、当前预设探测路径对应的标准轮廓的坐标值。
[0023]步骤（4）：预设标准轮廓的坐标值与待测轮廓的坐标值之间的坐标偏差阈值范围，并将其储存。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三坐标测轮廓的检测方法，其特征在于，所述方法包括：S1：通过三坐标测量机探测标准品所有探测路径在不同温度范围下的标准轮廓的坐标值；S2：通过三坐标测量机探测待测件预设探测路径的待测轮廓的坐标值；S3：获取当前温度和当前所述预设探测路径，提取与所述当前温度、当前所述预设探测路径对应的所述标准轮廓的坐标值；S4：预设所述标准轮廓的坐标值与所述待测轮廓的坐标值之间的坐标偏差阈值范围；S5：判断当前所述预设探测路径的待测轮廓的坐标值与对应的所述标准轮廓的坐标值之间的坐标差值是否在所述坐标偏差阈值范围内，若不在，则说明所述待测件当前预设探测路径的轮廓大小、轮廓位置不正确，若在，则说明所述待测件当前预设探测路径的轮廓大小、轮廓位置正确。2.根据权利要求1所述的一种三坐标测轮廓的检测方法，其特征在于，若所述待测件当前预设探测路径的轮廓大小、轮廓位置正确，则所述方法还包括：S6：检测所述待测件当前预设探测路径的轮廓缺陷。3.根据权利要求2所述的一种三坐标测轮廓的检测方法，其特征在于，所述S6具体包括：基于当前预设探测路径的所述待测轮廓的坐标值绘制当前预设探测路径的第一图像，并基于所述标准轮廓的坐标值绘制标准品对应探测路径的第二图像；将所述第一图像与所述第二图像在显示装置显示，将所述第一图像与所述第二图像的中心重合使得所述第一图像的轮廓边界与所述第二图像轮廓边界均匀贴近，沿所述第一图像的任意轮廓点，计算该点到对应的所述第二图像轮廓点的距离，预设距离阈值，若所述距离小于所述距离阈值，则认定该点没有缺陷，若所述距离大于所述距离阈值，则该点有缺陷。4.根据权利要求3所述的一种三坐标测轮廓的检测方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹云祥，代满仓，
申请(专利权)人：西安德普赛科计量设备有限责任公司，
类型：发明
国别省市：