下载光学元件面型测量设备的辅助测量工装及面型测量设备的技术资料

文档序号:34865073

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本实用新型公开了一种光学元件面型测量设备的辅助测量工装及面型测量设备,该辅助测量工装包括:支撑结构,弯折杆,可调纱网;弯折杆能够灵活弯折并保持弯折状态,弯折杆的两端分别与支撑结构和可调纱网连接;支撑结构用于提供支撑,可调纱网用于伸入面型测量...
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