一种平面接触式芯片或摄像头测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，包括活动模、固定模、测试件和进给机构，所述测试件与活动模相连接，所述测试件上设有测试平面，所述固定模上设有载物槽，所述进给机构与活动模相连接，所述载物槽用于放置待测件，所述测试平面能与载物槽上放置的待测件相接触。本实用新型专利技术中，通过设置进给机构，能使得活动模朝向固定模进行移动，从而测试平面能与载物槽上的待测件实现接触来对待测件进行测试，而且进给机构能提供一定的压力来保证测试件和待测件的可靠接触，同时，由于测试件是通过测试平面来与待测件进行接触的，其接触面大，待测件受到的压强小，能有效降低对待测件造成损伤的概率，保证测试后的产品的使用可靠性。品的使用可靠性。品的使用可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种平面接触式芯片或摄像头测试装置


[0001]本技术涉及测试装置设计领域，尤其是涉及一种平面接触式芯片或摄像头测试装置。

技术介绍

[0002]为了验证芯片或者摄像头能否正常工作，常需要对芯片或者摄像头进行测试操作，而现在常见的芯片或者摄像头测试装置多是依靠其上的测试凸点与芯片或者摄像头上的PAD(即接线点)直接接触，以此来对芯片或者摄像头实现测试的。
[0003]这种凸点接触测试的方式，由于需要保证凸点和芯片或者摄像头上的PAD充分接触来保证测试可靠性，常需要对其之间施加一定的压力使其能紧密接触。但是，由于凸点上与PAD的接触的位置的表面积小，于凸点处施力时，PAD受到的压强大，容易造成PAD的损伤，影响测试后的芯片或者摄像头的正常使用。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，可以解决上述问题的一个或者多个。
[0005]根据本技术的一个方面，提供了一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，包括活动模、固定模、测试件和进给机构，所述测试件与活动模相连接，所述测试件上设有测试平本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，其特征在于，包括活动模、固定模、测试件和进给机构，所述测试件与活动模相连接，所述测试件上设有测试平面，所述固定模上设有载物槽，所述进给机构与活动模相连接，所述载物槽用于放置待测件，所述测试平面能与载物槽上放置的待测件相接触。2.根据权利要求1所述的一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，其特征在于，包括导柱，所述导柱为多个，所述导柱的一端与活动模相连接，另一端与固定模相连接。3.根据权利要求1所述的一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，其特征在于，包括缓冲垫，所述测试件通过缓冲垫与活动模相连接。4.根据权利要求1所述的一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，其特征在于，所述固定模上设有防退槽，所述防退槽能...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱晓莹，
申请(专利权)人：东莞市图锐科技有限公司，
类型：新型
国别省市：