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本实用新型公开了一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，包括活动模、固定模、测试件和进给机构，所述测试件与活动模相连接，所述测试件上设有测试平面，所述固定模上设有载物槽，所述进给机构与活动模相连接，所述载物槽用于放置待测件，所述测试平面能与载物...
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