用于校准具有多个重复硬件组件的至少一个分析装置的方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置(112)的方法。所述分析装置(112)包括多个硬件组件(114)。所述方法包括以下步骤：a)提供至少一个具有至少一种分析物的浓度的已知目标值的校准品样品i；b)至少一个测量步骤，其中所述测量步骤包括使用所述分析装置对所述校准品样品进行至少一次测量，其中获取至少一个检测器信号s

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于校准具有多个重复硬件组件的至少一个分析装置的方法


[0001]本专利技术涉及一种用于校准至少一个分析装置的方法、一种用于校准至少一个分析装置的装置、一种计算机或计算机网络以及一种计算机程序。

技术介绍

[0002]一般来说，已知有几种用于校准分析装置的方法。具体地，为了从分析装置获得浓度值，需要对分析装置进行校准。特别是，需要建立分析装置的原始信号与浓度之间的关系。为了做到这一点，在分析装置上测量具有已知浓度值的样品，称为“校准品”，并将函数与获得的数据拟合。
[0003]设 f 为校准函数：f：浓度
→
信号f
p
(浓度) = 信号，其中 p = (p1, p2,
ꢀ…
, p
n
)，n ≥ l，其中 n 表示校准模型中的参数数量，并且其中 p 表示校准函数的参数。一般来说，校准模型越复杂，建立完整的校准模型所需的校准品水平就越高。质谱分析测定的校准曲线通常基于三到八个校准品水平。例如，参考“Liquid Chromatography
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Mass Spectrometry Methods”；Approved Guideline, Clinical and Laboratory Standards Institute (CLSI), document C62
‑
A, Vol. 34 No. 16 2014。
[0004]普遍地，新的液相色谱
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质谱仪器可能有硬件设置，其中一些硬件组件在仪器上是重复的。实例为使用高效液相色谱 (HPLC) 复用来提高系统的生产量。目前已知有两种校准方案：(1) 对每个高效液相色谱复用流使用单独匹配的校准函数；(2) 对所有流使用单一的平均函数。如果现在具体的硬件组件需要单独的校准函数（选项 (1)），通常对每个部件单独匹配函数 f，并得到不同的预估参数值（，，J ≥ 1，其中 J 是指硬件组件的数量）。
[0005]两种方案都可能具有明显的缺点。如果高效液相色谱复用流不是完全可比教的，平均校准函数的在单个流上获得的分析结果将一直产生偏差。另一方面，为每个单个流进行专门校准将导致非常高的校准负担，有时甚至是不可行的。
[0006]有待解决的问题因此，本专利技术的目的是提供一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置的方法、一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置的装置、一种计算机或计算机网络以及一种计算机程序，这些避免了上述已知方法、装置、计算机和计算机程序的缺点。特别是，用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置的方法、用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置的装置、计算机或计算机网络以及计算机程序应减少具有重复硬件组件的分析装置的校准负担。

技术实现思路

[0007]这个问题通过用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置的方法、用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置的装置、计算机或计算机网络以及计算机程序来解决，且具有独立权利要求的特征。在从属权利要求中公开了本专利技术的优选实施例，其可以以单独方式或以任何任意组合来实现。
[0008]如下所用，术语“具有”、“包括”或“包含”或其任意语法变化形式以非排他性方式使用。因此，这些术语既可指除了由这些术语引入的特征之外，在此上下文中描述的实体中不存在其他特征的情况，也可指存在一个或多个其他特征的情况。作为示例，表述“A 具有 B”、“A 包含 B”和“A 包括 B”可指除 B 之外，A 中不存在其他任何元素的情况（即，A 单独地和排他地由 B 组成的情况），以及除 B 之外，实体 A 中还存在一个或多个其他元素诸如元素 C、元素 C 和 D 或甚至其他元素的情况。
[0009]此外，如下所用，术语“优选地”、“更优选地”、“特别地”、“更特别地”、“具体地”、“更具体地”或类似的术语与可选特征结合使用，而不限制替代可能性。因此，由这些术语引入的特征是任选特征，并且无意以任何方式限制权利要求的范围。如技术人员将认识到的，本专利技术可通过使用替代特征来执行。类似地，由“在本专利技术的实施例中”引入的特征或类似表述意图成为可选特征，而对本专利技术的替代实施例没有任何限制，对本专利技术的范围没有任何限制，并且对将以这种方式引入的特征与本专利技术的其他可选或非可选特征相结合的可能性也没有任何限制。
[0010]在本专利技术的第一方面，公开了一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置的方法，其中该分析装置包括多个硬件组件。
[0011]如本文所用，术语“分析装置”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义含义。该术语具体地可指，但不限于，经配置用于执行至少一种分析检测的任意装置。如本文进一步所用，术语“检测”是指确定样品中至少一种分析物的存在和/或量和/或浓度的过程。因此，检测可以是或可以包括定性检测，其简单地确定至少一种分析物的存在或至少一种分析物的不存在，并且/或者可以是或可以包括定量检测，其确定至少一种分析物的量和/或浓度。
[0012]具体地，分析装置可以是用于确定样品（诸如液体）中分析物浓度的装置。术语“分析物”一般是指可能存在于样品中的任意元素、成分或存在于样品中的化合物，其存在和/或浓度可能是目标用户、病人或医务人员，如医生。特别地，分析物可以是或可以包括可参与使用者或病人的代谢的任意化学物质或化学化合物，诸如至少一种代谢物。至少一种分析物的检测具体可以是具体
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分析物检测。然而，其他种分析物也是可行的。
[0013]如本文所用，术语“浓度”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯用的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体地可指，但不限于，成分的丰度除以混合物的总体积，如溶液中的溶质和/或溶剂。浓度可以用不同种类的量来描述，如质量浓度、摩尔浓度、数量浓度或体积浓度。
[0014]具体地，分析装置选自由以下项组成的组：质谱装置，具体为液相色谱质谱装置；免疫测定分析仪；光度测量装置，血气分析仪，血液学分析仪，DNA 分析仪。然而，其他种分析装置也可能是可行的。
[0015]如本文所用，术语“质谱分析 (MS) 装置”是广义的术语且被赋予对本领域普通技
术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体地可指但不限于经配置用于基于质荷比来检测至少一种分析物的质量分析仪。质谱装置可为或可包括至少一个四极杆质谱装置。耦接 LC 装置和 MS 的接口可包括至少一个电离源，该电离源经配置用于生成分子离子并且用于将分子离子转移至气相中。
[0016]如本文所用，术语“液相色谱 (LC) 装置”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体地可指但不限于分析模块，该分析性模块配置为将样品的一种或多种目标分析物与样品的其他组分进行分离，以用于使用质谱装置来检测所述一种或多种分析物。LC 装置可包括至少一个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置 (112) 的方法，其中所述分析装置 (112) 包括多个硬件组件 (114)，其中硬件组件是所述分析装置 (112) 的物理和/或有形部件，其中所述方法包括以下步骤：a) 提供至少一个具有至少一种分析物的浓度的已知目标值的校准品样品i；b) 至少一个测量步骤，其中所述测量步骤包括使用所述分析装置 (112) 对所述校准品样品进行至少一次测量，其中获取至少一个检测器信号s
ijk
，其中i = 1,
ꢀ…
I，其中I ≥2，其中i是指所述校准品样品的数量，j = 1,
ꢀ…
J，其中J ≥2，其中j是指所述硬件组件的数量，其中k =1,
ꢀ…
K
ij
，其中K
ij ≥ 1，其中k是指所述测量步骤的重复次数；c) 至少一个校准步骤，其中确定所述检测器信号与所述分析物的所述浓度之间的关系，其中所述校准步骤包括：c.1：提供至少一个参数化函数，其中所述参数化函数具有参数组，其中所述参数组包括描述所述参数化函数的分析物特定部分的参数，其中所述参数组进一步包括用于调整所述硬件组件 (114) 的所述参数化函数的参数；c.2：通过进行基于所述参数化函数的校准来确定校准值；以及c.3：基于所述参数化函数的反函数和确定的校准值来确定分析函数。2.一种用于校准具有重复硬件组件的至少一个分析装置 (112) 的方法，其中所述分析装置 (112) 包括多个硬件组件 (114)，其中硬件组件是所述分析装置 (112) 的物理和/或有形部件，其中所述方法包括以下步骤：A) 提供至少一个校准品样品i，所述校准品样品具有至少一种分析物的浓度的已知目标值和平均校准曲线，从中得出所述至少一个校准品样品的理论信号；B) 至少一个测量步骤，其中所述测量步骤包括使用所述分析装置 (112) 对所述校准品样品进行至少一次测量，其中获取至少一个检测器信号s
ijk
，其中 i = 1,
ꢀ…
I，其中I ≥1，其中i是指所述校准品样品的数量，j = 1,
ꢀ…
J，其中J ≥2，其中j是指所述硬件组件的数量，其中 k = 1,
ꢀ…
K
ij
，其中K
ij ≥ 1，其中k是指所述测量步骤的重复次数；C) 至少一个校准步骤，其中确定所述检测器信号与理论信号值之间的关系，其中所述校准步骤包括：
‑ꢀ
提供至少一个参数化函数，其中所述参数化函数具有参数组，其中所述参数组包括描述所述参数化函数的分析物特定部分的参数，其中所述参数组进一步包括用于调整所述硬件组件 (114) 的所述参数化函数的参数；
‑ꢀ
通过进行基于所述参数化函数的校准来确定校准值；以及
‑ꢀ
基于所述参数化函数的反函数和确定的校准值来确定分析函数。3.根据权利要求 1 或 2 所述的方法，其中所述方法进一步包括：对另外的样品进行至少一次测量，其中通过使用所述分析函数，基于所述另外的样品的测量信号来确定所述另外的样品的浓度。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述参数组由表示，其中n和r为正整数，其中对应于描述所述参数化函数的分析物特定部分的所述参数，其中是指描述用于调整所述硬件组件 (114) 的所述参数化函数的所述参数的向量，其中所述校准值由
表示。5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中确定所述检测器信号与所述理论信号值之间的关系，其中所述参数化函数是信号调整函数。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中确定所述检测器信号与所述分析物的浓度之间的关系，其中所述参数化函数是信号
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【专利技术属性】
技术研发人员：N，
申请(专利权)人：豪夫迈，
类型：发明
国别省市：