【技术实现步骤摘要】
引线框架、封装结构及封装方法
[0001]本专利技术涉及半导体领域,尤其涉及一种引线框架、封装结构及封装方法。
技术介绍
[0002]现有技术中的半导体封装结构,封装体的内部通常设置一个高精度电阻,封装工艺复杂。贴装高精度电阻需要专门的高精度SMT(表面贴装技术)设备,设备精度要求高,预贴装前需要把承载的部分刷上锡膏,同时,为了保证刷锡膏的一致性和精确位置,胶厚控制需要开发专门的钢网和配合使用的刮刀。刷胶结束后,用SMT设备把高精度电阻打上去,然后经过回流焊高温焊接,使高精度电阻和承载部分牢靠的焊接在一起。
[0003]现有技术的封装方法,在焊接高精度电阻时,由于焊接不良的识别难以控制,很容易出现诸如空焊、虚焊、电阻错位、电阻桥连、锡球、锡渣、污染异物、以及擦伤等问题,导致焊接的一致性和焊接的成品率低。
[0004]如何提高半导体封装结构的精度和可靠性,降低工艺难度,成为亟待解决的技术问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种引线框架、封装结构及封装方法,以提高半 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种引线框架,其特征在于,包括:电阻模块,所述电阻模块设置为蛇形结构,具有一预定的电阻值;载片岛,所述载片岛用于承载芯片;以及多个引脚,所述引脚用于与电阻模块以及载片岛上的芯片电连接。2.根据权利要求1所述的引线框架,其特征在于,所述引线框架采用金属铜材料。3.根据权利要求1所述的引线框架,其特征在于,所述电阻模块的蛇形结构按照一定的阻抗值预先设计,以固定引线框架的电阻值。4.根据权利要求1所述的引线框架,其特征在于,所述引线框架为一体结构,所述电阻模块采用化学刻蚀工艺制备。5.根据权利要求1所述的引线框架,其特征在于,部分所述引脚与电阻模块直接相连,部分所述引脚通过引线与芯片电连接。6.一种封装结构,其特征在于,包括:引线框架,采用如权利要求1
技术研发人员:王雄星,
申请(专利权)人:上海兴感半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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