一种基于super220半导体封装元件的测试装置制造方法及图纸

技术编号:33737201 阅读:33 留言:0更新日期:2022-06-08 21:34
本实用新型专利技术公开了一种基于super220半导体封装元件的测试装置,包括箱体,所述箱体内腔的底部通过螺栓固定连接有步进电机,所述步进电机的输出轴通过联轴器固定连接有转杆,所述转杆的顶部通过螺栓固定连接有转台,所述转台的顶部固定连接有测试机构,所述箱体的顶部分别焊接有固定架和机架,所述固定架的底部通过螺栓固定连接有上料机构,所述机架的顶部固定安装有控制器,所述测试机构包括安装板,所述安装板的顶部分别固定安装有指示灯和测试座。本实用具备精准上料的优点,解决了半导体封装元件测试装置在使用的过程中,不便于对半导体元件进行精准上料,人工上料容易导致半导体元件引脚损坏的问题。体元件引脚损坏的问题。体元件引脚损坏的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于super220半导体封装元件的测试装置


[0001]本技术涉及半导体元件生产
,具体为一种基于super220半导体封装元件的测试装置。

技术介绍

[0002]半导体是一种电导率在绝缘体至导体之间的物质,其电导率容易受控制,可作为信息处理的元件材料,从科技或是经济发展的角度来看,半导体非常重要,很多电子产品,如计算机、移动电话、数字录音机的核心单元都是利用半导体的电导率变化来处理信息,常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,而硅更是各种半导体材料中,在商业应用上最具有影响力的一种,半导体元件在封装完成后,需要进行引脚通电检测,来测试半导体元件的合格率。
[0003]半导体封装元件测试装置在使用的过程中,不便于对半导体元件进行精准上料,人工上料容易导致半导体元件的引脚损坏,降低了测试装置的加工效率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种基于super220半导体封装元件的测试装置,具备精准上料的优点,解决了半导体封装元件测试装置在使用的过程中,不便于对半导体元件进行精准上料,人工上料容易导致半导体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于super220半导体封装元件的测试装置,包括箱体(1),其特征在于:所述箱体(1)内腔的底部通过螺栓固定连接有步进电机(11),所述步进电机(11)的输出轴通过联轴器固定连接有转杆(10),所述转杆(10)的顶部通过螺栓固定连接有转台(7),所述转台(7)的顶部固定连接有测试机构(8),所述箱体(1)的顶部分别焊接有固定架(9)和机架(6),所述固定架(9)的底部通过螺栓固定连接有上料机构(2),所述机架(6)的顶部固定安装有控制器(5),所述测试机构(8)包括安装板(16),所述安装板(16)的顶部分别固定安装有指示灯(15)和测试座(14),所述上料机构(2)包括伸缩气缸(17),所述伸缩气缸(17)的底部固定连接有框体(18),所述框体(18)的左右两侧均贯穿设置有夹持气缸(20),所述夹持气缸(20)相对的一端通过螺栓固定连接有夹具(19)。2.根据权利要求1所述的一种基于super220半导体封装元件的测试装置,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:廖弘昌钱进刘振东田亚南陈晓林
申请(专利权)人:日月新半导体威海有限公司
类型:新型
国别省市:

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