本发明专利技术公开了一种自动化存储芯片测试装置，包含固定部与滑动部，所述滑动部活动设置在所述固定部之上，所述滑动部可以相对于所述固定部保持水平状态向后上方或前下方滑动，所述固定部包含芯片测试座，所述芯片测试座设置在所述固定部的正面，所述滑动部包含芯片压紧件，所述芯片压紧件设置在所述滑动部的正面，当所述滑动部向前下方滑动至工作位时，所述的芯片压紧件刚好压在所述的芯片测试座上，本发明专利技术在驱动气缸的驱动下可以实现自动开合以及自动化装载或卸载存储芯片,存储芯片装载到位后,本发明专利技术再在驱动气缸的驱动下闭合,从而实现存储芯片自动化装载与测试，本发明专利技术是实现存储芯片自动化测试的关键技术。储芯片自动化测试的关键技术。储芯片自动化测试的关键技术。
【技术实现步骤摘要】
一种自动化存储芯片测试装置
[0001]本专利技术涉及一种存储芯片测试
，特别是涉及一种自动化存储芯片测试装置。
技术介绍
[0002]IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。
[0003]现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高。存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向，只有采用自动化的测试，存储芯片才能实现规模化生产、才能有效的控制生产成本，提高企业的核心竞争力。
[0004]而存储芯片测试的一个关键部件就是存储芯片测试装置，存储芯片测试装置是为了实现存储芯片的自动化测试而开发的一种容置待测存储芯片的部件，存储芯片测试装置可以有效的减少手动测试存储芯片的电路板接口的插拔动作，容易实现存储芯片测试的自动化。
技术实现思路
[0005]针对以上现有技术的不足，本专利技术公开了一种自动化存储芯片测试装置，包含固定部与滑动部两部分, 滑动部可以在驱动气缸的驱动下向后上方滑动,此时表现为自动化存储芯片测试装置处于打开状态,在打开状态下可以实现自动化装载或卸载存储芯片,存储芯片装载到位后, 滑动部再在驱动气缸的驱动下向前下方闭合,直至压紧待测存储芯片。本专利技术记载的技术方案是实现存储芯片自动化测试的关键技术,本技术方案具体如下：一种自动化存储芯片测试装置，包含固定部与滑动部，所述的滑动部活动设置在所述的固定部之上，所述的滑动部可以相对于所述的固定部向后上方或前下方滑动(本技术方案需要说明的是，“后上方”以及
ꢀ“
前下方”等方位词都是以本技术方案的主视图的主视方向为前方或正面，后视方向为后方或背面为参照的)。
[0006]进一步地，所述的固定部包含芯片测试座，所述的芯片测试座设置在所述固定部的正面。
[0007]进一步地，所述的滑动部包含芯片压紧件，所述的芯片压紧件设置在所述滑动部的正面，当所述滑动部向前下方滑动至工作位时，所述的芯片压紧件刚好压在所述的芯片测试座上。
[0008]进一步地，所述的固定部还包含固定板，所述的固定板上竖直设置有驱动气缸。
[0009]进一步地，所述的滑动部还包含滑动板，所述的滑动板上设置有滑动座，所述的滑动座连接所述驱动气缸的伸缩部，所述的滑动座被所述驱动气缸驱动并带动所述的滑动部
滑动。
[0010]进一步地，所述的固定板的两侧端各设置有一个第一支撑板，所述的第一支撑板上设置有第一滑动槽。
[0011]所述的滑动板的两侧端各设置有一个第二支撑板，所述的第二支撑板上固定设置有滑动销。
[0012]所述的滑动销插接入所述的滑动槽中,并在所述的滑动槽中滑动。
[0013]进一步地，所述的固定板还设置有两个水平滑动的第一滑动件，所述的第一滑动件上设置有第三支撑板，所述的第三支撑板上设置第二滑动件。
[0014]所述的滑动板上设置有两个第四支撑板，两个所述的第四支撑板分别固定在两个所述的第二滑动件上并在所述的第二滑动件上竖直滑动。
[0015]进一步地，所述的滑动板上开设有U型口，所述的滑动座竖直相对的两个面上各设置有一个第二滑动槽，所述的第二滑动槽上下两边对称位置设置有第一滑轮。
[0016]所述的滑动座顺着所述第二滑动槽的方向插接入所述滑动板的U型口内，所述的第一滑轮可以沿着所述滑动板的U型口两边滑动。
[0017]本实施例在更优的技术方案中，所述的固定板上还设置有：第一传感器，用于探测所述的滑动部向后上方滑动至第一目标位置;第二传感器，用于探测所述的滑动部向前下方滑动至第二目标位置。
[0018]进一步地，所述的固定板上还设置有两个缓冲器,两个所述的缓冲器分别设置在所述第二支撑板的下面，当所述的第二支撑板向前下方滑动接近所述的第二目标位置时可以给所述的第二支撑板缓冲作用。
[0019]进一步地，所述的芯片测试座至少包含一个芯片测试位。
[0020]进一步地，所述的芯片测试位容置一个存储芯片。
[0021]本专利技术一种自动化存储芯片测试装置在驱动气缸的驱动下可以实现自动开合,自动化存储芯片测试装置处于打开状态时自动化装载或卸载存储芯片, 存储芯片装载到位后,自动化存储芯片测试装置再在驱动气缸的驱动下闭合,从而实现存储芯片自动化装载与测试，本技术方案是实现存储芯片自动化测试的关键技术。
附图说明
[0022]图1本专利技术一种自动化存储芯片测试装置的整体结构示意图。
[0023]图2本专利技术一种自动化存储芯片测试装置闭合状态的示意图。
[0024]图3本专利技术一种自动化存储芯片测试装置打开状态的示意图。
[0025]图4本专利技术一种自动化存储芯片测试装置的主视图。
[0026]图5本专利技术一种自动化存储芯片测试装置结构的背面角度立体示意图。
[0027]图6本专利技术一种自动化存储芯片测试装置结构的闭合状态的左视图。
[0028]图7本专利技术一种自动化存储芯片测试装置结构的打开状态的左视图。
具体实施方式
[0029]下面结合附图对本专利技术做进一步详细的说明。
[0030]为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品
的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相同或相似的标号对应相同或相似的部件。
[0031]现有技术中对存储芯片（比如内存芯片）的测试还是以手动测试为主的，不管在哪个领域手动的操作就意味着效率低、成本高（比如需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高）。而在存储芯片测试领域手动测试的上述问题尤其凸出。所以如何开发一种效率高的自动存储芯片测试设备或方法，是本领域技术人员重点关注与需要解决的问题。
[0032]本专利技术主要公开了一种用于实现存储芯片自动化测试的存储芯片测试装置，这个测试装置用于在测试活动中自动化装载或卸载存储芯片，非常的方便与快捷。
[0033]本测试装置还可以有效的减少手动测试存储芯片中电路板接口的插拔动作，容易实现存储芯片测试的自动化。而存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向。只有采用自动化测试，存储芯片才能实现规模化生产之后、才能有效的控制生产成本，提高企业的核心竞争力。
[0034]本专利技术在驱动气缸的驱动下可以实现自动化存储芯片测试装置的自动开合, 自动化存储芯片测试装置处于打开状态时自动化装载或卸载存储芯片, 存储芯片装载到位后,自动化存储芯片测试装置再在驱动气缸的驱动下闭合,从而实现存储芯片自动化装载与测试，本技术方案是实现存储芯片自动化测试的关键本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种自动化存储芯片测试装置，包含固定部与滑动部，其特征在于，所述的滑动部活动设置在所述的固定部之上，所述的滑动部相对于所述的固定部向后上方或前下方滑动；所述的固定部包含芯片测试座，所述的芯片测试座设置在所述固定部的正面；所述的滑动部包含芯片压紧件，所述的芯片压紧件设置在所述滑动部的正面，当所述滑动部向前下方滑动至工作位时，所述的芯片压紧件刚好压在所述的芯片测试座上。2.如权利要求1所述的自动化存储芯片测试装置，其特征在于，所述的固定部还包含固定板，所述的固定板上竖直设置有驱动气缸；所述的滑动部还包含滑动板，所述的滑动板上设置有滑动座，所述的滑动座连接所述驱动气缸的伸缩部，所述的滑动座被所述驱动气缸驱动并带动所述的滑动部滑动。3.如权利要求2所述的自动化存储芯片测试装置，其特征在于，所述的固定板的两侧端各设置有一个第一支撑板，所述的第一支撑板上设置有第一滑动槽；所述的滑动板的两侧端各设置有一个第二支撑板，所述的第二支撑板上固定设置有滑动销；所述的滑动销插接入所述的滑动槽中,并在所述的滑动槽中滑动。4.如权利要求2所述的自动化存储芯片测试装置，其特征在于，所述的固定板还设置有两个水平滑动的第一滑动件，所述的第一滑动件上设置有第三支撑板，所述的第三支撑板上...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨密凯，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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