调试电路、调试装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:33418676 阅读:19 留言:0更新日期:2022-05-19 00:11
本实用新型专利技术公开了一种调试电路、调试装置及电子设备,属于电路领域。调试电路包括主控模块和调试模块,其中,主控模块设置在主控电路板上,调试模块设置在调试电路板上;主控模块的第一调试接口连接调试模块的第二调试接口;主控模块用于通过第一调试接口发送调试信号至调试模块,调试模块用于通过第二调试接口接收调试信号,并将调试信号进行格式转换之后输出至调试终端,通过对主控模块和调试模块的分离设计,从而能够节省主控电路板的空间,还避免了电路的重复设计,同时电路结构简单,成本较低。本较低。本较低。

【技术实现步骤摘要】
调试电路、调试装置及电子设备


[0001]本技术涉及电路领域,尤其是涉及一种调试电路、调试装置及电子设备。

技术介绍

[0002]目前的设计电路中,对于以FPGA或ARM等为主控芯片的电路常常需要通过调试电路对电路中的信号进行调试,而目前的调试电路往往设计在主控板上,这会占用很大一部分主控板空间,导致电路设计难以实现小型化,因此,如何提供一种小型化的调试电路,实现对信号的调试,成为亟待解决的问题。

技术实现思路

[0003]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本技术提出一种调试电路,能够在满足电路小型化的同时,方便地对信号进行调试。
[0004]本技术还提出一种具有上述调试电路的调试装置。
[0005]本技术还提出一种具有上述调试装置的电子设备。
[0006]根据本技术的第一方面实施例的调试电路,包括:
[0007]主控模块和调试模块;
[0008]其中,所述主控模块设置在主控电路板上,所述调试模块设置在调试电路板上;
[0009]所述主控模块的第一调试接口连接所述调试模块的第二调试接口;
[0010]所述主控模块用于通过所述第一调试接口发送调试信号至所述调试模块,所述调试模块用于通过所述第二调试接口接收所述调试信号,并将所述调试信号进行格式转换之后输出至调试终端。
[0011]根据本技术实施例的调试电路,至少具有如下有益效果:调试电路能够通过第一调试接口将主控模块输出的调试信号发送至调试模块,调试模块通过第二调试接口接收调试信号,并将调试信号进行格式转换之后输出至调试终端,通过对主控模块和调试模块的分离设计,从而能够节省主控电路板的空间,实现了主控电路板的小型化设计,同时电路结构简单,成本较低。
[0012]根据本技术的一些实施例,所述调试信号包括MICRO SD信号、UART信号和JTAG信号中的至少一种。
[0013]根据本技术的一些实施例,所述调试信号包括MICRO SD信号,所述调试终端包括第一调试终端,所述调试模块包括:
[0014]电平转换单元,所述电平转换单元分别连接所述第二调试接口和所述第一调试终端,所述电平转换单元用于对所述MICRO SD信号进行电平转换处理,并将处理后的MICRO SD信号输出至所述第一调试终端。
[0015]根据本技术的一些实施例,所述电平转换单元包括:
[0016]电平转换芯片,所述电平转换芯片的输入端连接所述第二调试接口,所述电平转换芯片的输出端连接所述第一调试终端,所述电平转换芯片用于对接收到的所述MICRO SD
信号进行电平转换处理,并将处理后的MICRO SD信号输出至第一调试终端。
[0017]根据本技术的一些实施例,所述调试信号包括UART信号,所述调试终端包括第二调试终端,所述调试模块还包括:
[0018]串口转换单元,所述串口转换单元分别连接所述第二调试接口和所述第二调试终端,所述串口转换单元用于将所述UART信号转换成USB信号,并将所述USB信号输出至所述第二调试终端。
[0019]根据本技术的一些实施例,所述串口转换单元包括:
[0020]串口转换芯片,所述串口转换芯片的输入端连接所述第二调试接口,所述串口转换芯片的输出端连接所述第二调试终端,所述串口转换芯片用于将接收到的所述UART信号转换成USB信号,并将所述USB信号输出至所述第二调试终端。
[0021]根据本技术的一些实施例,所述调试信号包括JTAG信号,所述调试电路还包括:
[0022]第三调试终端,所述第三调试终端连接所述调试模块,所述第三调试终端用于接收所述调试模块输出的JTAG信号。
[0023]根据本技术的一些实施例,所述主控模块包括:
[0024]主控芯片,所述主控芯片用于发送所述调试信号至所述调试模块。
[0025]根据本技术的第二方面实施例的调试装置,包括根据第一方面实施例所述的调试电路。
[0026]根据本技术实施例的调试装置,至少具有如下有益效果:这种调试装置采用上述的调试电路能够通过第一调试接口将主控模块输出的调试信号发送至调试模块,调试模块通过第二调试接口接收调试信号,并将调试信号进行格式转换之后输出至调试终端,通过对主控模块和调试模块的分开设计,从而能够节省主控电路板的空间,实现了主控电路板的小型化设计,同时电路结构简单,成本较低。
[0027]根据本技术的第三方面实施例的电子设备,包括根据第二方面实施例所述的调试装置。
[0028]根据本技术实施例的电子设备,至少具有如下有益效果:这种电子设备采用上述的调试装置能够通过第一调试接口将主控模块输出的调试信号发送至调试模块,调试模块通过第二调试接口接收调试信号,并将调试信号进行格式转换之后输出至调试终端,通过对主控模块和调试模块的分开设计,从而能够节省主控电路板的空间,实现了主控电路板的小型化设计,同时电路结构简单,成本较低。
[0029]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0030]下面结合附图和实施例对本技术做进一步的说明,其中:
[0031]图1为本技术实施例的调试电路的模块示意图;
[0032]图2为本技术另一实施例的调试电路的模块示意图;
[0033]图3为本技术另一实施例的调试电路的模块示意图。
[0034]附图标记:100、主控模块;110、第一调试接口;120、主控芯片;200、调试模块;210、
第二调试接口;220、电平转换单元;221、电平转换芯片;230、串口转换单元;231、串口转换芯片;300、调试终端;310、第一调试终端;320、第二调试终端;330、第三调试终端;400、主控电路板;500、调试电路板。
具体实施方式
[0035]下面详细描述本技术的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本技术,而不能理解为对本技术的限制。
[0036]在本技术的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0037]在本技术的描述中,若干的含义是一个以上,多个的含义是两个以上,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.调试电路,其特征在于,包括:主控模块和调试模块;其中,所述主控模块设置在主控电路板上,所述调试模块设置在调试电路板上;所述主控模块的第一调试接口连接所述调试模块的第二调试接口;所述主控模块用于通过所述第一调试接口发送调试信号至所述调试模块,所述调试模块用于通过所述第二调试接口接收所述调试信号,并将所述调试信号进行格式转换之后输出至调试终端。2.根据权利要求1所述的调试电路,其特征在于,所述调试信号包括MICRO SD信号、UART信号和JTAG信号中的至少一种。3.根据权利要求2所述的调试电路,其特征在于,所述调试信号包括MICRO SD信号,所述调试终端包括第一调试终端,所述调试模块包括:电平转换单元,所述电平转换单元分别连接所述第二调试接口和所述第一调试终端,所述电平转换单元用于对所述MICRO SD信号进行电平转换处理,并将处理后的MICRO SD信号输出至所述第一调试终端。4.根据权利要求3所述的调试电路,其特征在于,所述电平转换单元包括:电平转换芯片,所述电平转换芯片的输入端连接所述第二调试接口,所述电平转换芯片的输出端连接所述第一调试终端,所述电平转换芯片用于对接收到的所述MICRO SD信号进行电平转换处理,并将处理后的MICRO SD信号输出至...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨延竹刘长清尹程斌于波张华
申请(专利权)人:深圳市格灵精睿视觉有限公司
类型:新型
国别省市:

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