【技术实现步骤摘要】
本申请涉及机器视觉测量，尤其涉及一种基于多线激光的间隙面差测量方法、设备及存储介质。
技术介绍
1、在工业生产中，间隙面差测量是一项非常重要的检测项目。作为质量监控中一个十分重要的参数，其精确与否关系到工件的美观性、密封性。在特定领域，如汽车生产过程中，覆盖件的面差尺寸误差往往会造成整体面差精度的下降，还会影响整车的风燥、外观。
2、目前传统的测量间隙面差测量往往采用人工方式，在塞尺、游标卡尺、面差尺等工具辅助下做出是否达标的判断。但这样的方式效率低、精度低、且容易受测量人员的主观因素影响，无法满足高效率、高节拍、高精度的测量需求。
技术实现思路
1、本申请实施例的主要目的在于提出一种基于多线激光的间隙面差测量方法方装置、电子设备及存储介质，旨在测量间隙面差的精准性。
2、为实现上述目的，本申请实施例的第一方面提出了一种基于多线激光的间隙面差测量方法，所述方法包括：
3、获取目标点云数据；其中，所述目标点云数据为激光照射到至少两个目标工件上形成投射光线的点云数据，所述目标点云数据包括至少两条点云集，所述点云集包括原始间隙点；
4、对每一条所述点云集中的所述原始间隙点进行差分处理，得到差分间隙点；
5、对所述差分间隙点进行筛选处理，得到目标间隙点；其中，所述目标间隙点包括：左侧间隙点和右侧间隙点；
6、将所述左侧间隙点进行拟合处理，得到左拟合平面，将所述右侧间隙点进行拟合处理，得到右拟合平面；
7、获
8、获取所述左拟合平面和所述右拟合平面之间的面差值，得到目标面差值。
9、在一些实施例，所述对每一条所述点云集中的所述原始间隙点进行差分处理，得到差分间隙点，包括：
10、获取每一条所述点云集中的所述原始间隙点的坐标信息，得到原始坐标信息；
11、对所述原始坐标信息进行差分计算，得到坐标差分数据；其中，所述坐标差分数据包括z值差分数据和y值差分数据；
12、根据所述z值差分数据和预设阈值对所述原始间隙点进行筛选处理，得到有效z轴间隙点；
13、根据所述y值差分数据和所述预设阈值对所述有效z轴间隙点进行筛选处理，得到所述差分间隙点。
14、在一些实施例，所述对所述差分间隙点进行筛选处理，得到目标间隙点，包括：
15、将所述差分间隙点组合形成间隙点对；其中，所述间隙点对包括两个所述差分间隙点；
16、从所述间隙点对中选出两组作为基准间隙点对；
17、获取所述基准间隙点对的中心线，得到参考线段；
18、获取每一所述间隙点对的中部区域；
19、若参考线段经过所述中部区域，将每一所述间隙点对进行向量化处理，得到间隙向量；
20、获取每一所述间隙向量和所述参考线段之间的距离，得到线距离；
21、根据预设的相似度评价函数对所述线距离和所述间隙向量进行相似度评估，得到相似度评估数据；
22、根据所述相似度评估数据对所述差分间隙点对进行筛选处理，得到目标间隙点。
23、在一些实施例，所述根据所述相似度评估数据对所述两组差分间隙点对进行筛选处理，得到目标间隙点，包括：
24、从所述相似度评估数据中提取出最大评估数据；
25、将所述最大评估数据对应的所述两组差分间隙点作为所述目标间隙点。
26、在一些实施例，所述将所述左侧间隙点进行拟合处理，得到左拟合平面，将所述右侧间隙点进行拟合处理，得到右拟合平面，包括：
27、根据预设选取范围对所述左侧间隙点进行选取，得到左侧间隙点集合；基于所述左侧间隙点集合进行平面拟合，得到左拟合平面；
28、根据预设选取范围对所述右侧间隙点进行选取，得到右侧间隙点集合；基于所述右侧间隙点集合进行平面拟合，得到右拟合平面；
29、在一些实施例，所述获取所述左拟合平面和所述右拟合平面之间的间隙值，得到目标间隙值，包括：
30、获取所述左拟合平面的法向量，得到左法向量，获取所述右拟合平面的法向量，得到右法向量；
31、基于所述左法向量和所述右法向量构建投影平面；
32、将左侧间隙点投影至所述投影平面，得到左侧投影点，并将所述左侧投影点拟合成第一直线，获取所述左侧间隙点和所述第一直线之间的距离，得到第一距离；
33、将右侧间隙点投影至所述投影平面，得到右侧投影点，并将所述右侧投影点拟合成第二直线，获取所述右侧间隙点和所述第二直线之间的距离，得到第二距离；
34、对所述第一距离和所述第二距离进行均值计算，得到目标间隙值。
35、在一些实施例，所述获取所述左拟合平面和所述右拟合平面之间的面差值，得到目标面差值，包括：
36、获取所述左侧间隙点到所述右拟合面的距离，得到第一平均距离；
37、获取所述右侧间隙点到所述左拟合面的距离，得到第二平均距离；
38、根据所述第一平均距离和所述第二平均距离进行均值计算得到目标面差值；
39、在一些实施例，所述对每一条所述点云集中的所述原始间隙点进行差分处理，得到差分间隙点之前，还包括：
40、获取目标点云数据，包括：
41、获取原始点云数据；其中，所述原始点云数据为激光照射到至少两个目标工件上形成投射光线的点云数据；
42、对所述原始点云数据进行滤波处理，得到所述目标点云数据；
43、为实现上述目的，本申请实施例的第二方面提出了一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面所述的方法。
44、为实现上述目的，本申请实施例的第三方面提出了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面所述的方法。
45、本申请提出的基于多线激光的间隙面差测量方法、电子设备及存储介质，其通过获取多线激光照射到至少两个目标工件得到原始间隙点形成的点云集，再对点云集进行差分处理得到差分间隙点，对差分间隙点进行筛选处理以得到目标间隙点。其中，目标间隙点包括左侧间隙点和右侧间隙点，根据左侧间隙点构建左拟合平面，根据右侧间隙点构建右拟合平面，最后根据左拟合平面和右拟合平面得到间隙值和面差值。因此，通过多线激光测量，得到高精度的点云数据，然后通过自动化对点云数据进行差分处理，筛选处理，拟合处理，减少人工参与的环节，从而降低测量所需的人力门槛与人力资源，实现自动化的间隙面差测量，以提高了间隙面差的测量效率。在进行间隙和面差测量之前，先进行筛选处理可以提高数据的有效性，减少因数据存在的系统误差带来的测量误差，从而提高产品生产和制造质量。
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1.一种基于多线激光的间隙面差测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每一条所述点云集中的所述原始间隙点进行差分处理，得到差分间隙点，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述差分间隙点进行筛选处理，得到目标间隙点，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述相似度评估数据对所述两组差分间隙点对进行筛选处理，得到目标间隙点，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述左侧间隙点进行拟合处理，得到左拟合平面，将所述右侧间隙点进行拟合处理，得到右拟合平面，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述左拟合平面和所述右拟合平面之间的间隙值，得到目标间隙值，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述左拟合平面和所述右拟合平面之间的面差值，得到目标面差值，包括：
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每一条所述点云集中的所述原始间隙点进行差分处理，得到差分间隙点之
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至8任一项所述的基于多线激光的间隙面差测量方法。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至8中任一项所述的基于多线激光的间隙面差测量方法。
...【技术特征摘要】
1.一种基于多线激光的间隙面差测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每一条所述点云集中的所述原始间隙点进行差分处理，得到差分间隙点，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述差分间隙点进行筛选处理，得到目标间隙点，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述相似度评估数据对所述两组差分间隙点对进行筛选处理，得到目标间隙点，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述左侧间隙点进行拟合处理，得到左拟合平面，将所述右侧间隙点进行拟合处理，得到右拟合平面，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述左拟合平面和所述右拟...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈粤林，张旭堂，杨延竹，于波，张华，
申请(专利权)人：深圳市格灵精睿视觉有限公司，
类型：发明
国别省市：
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