内底面缺陷检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种内底面缺陷检测装置及检测方法

【技术实现步骤摘要】
内底面缺陷检测装置及检测方法


[0001]本专利技术涉及盒体生产加工
，特别涉及一种内底面缺陷检测装置及检测方法
。

技术介绍

[0002]工业场景中盒体生产过程由于生产工艺
、
运输和存放方式等步骤会导致金属盒体内底面出现划痕或碎屑掉落等问题
。
需要对这些问题进行处理之后盒体才能出厂，但是由于盒体内底部有四个侧壁环绕，常规方案无法对底部进行多角度多方位有效打光，直接检测也就十分困难
。
[0003]所以现有技术中采用线扫相机配合平行光进行打光对盒体的内底面进行拍摄图像，根据图像进行缺陷检测，常见的检测方法有明场和暗场两种检测方式
。
其中明场检测法光束直上直下，若产品内底面为平整表面，反射光可认为是宏观均匀反射，内底部有缺陷时
(
凹陷或凸起
)
，反射光的光路会朝各个方向分散，缺陷部分返回镜头的光强减少，该区域灰度值
(
亮度
)
相较于没有缺陷的表面会变低，通过明暗变化判断内底面有无缺陷
。
但是若产品内底面平面表面粗糙，内底面平面会是一直存在明暗变化的效果，无法根据图像进行缺陷识别，所以需要配合暗场检测使用
。
暗场检测法光束斜进斜出，若内底面是光滑表面，则没有光返回镜头，图片效果为全暗状态
。
若内底面存在暗场缺陷，光束基于暗场缺陷表面反射，以产品内底面平面为参考面，可认为暗场缺陷位置发生漫反射
。
由于暗场缺陷位置发生漫反射，则斜进斜出光束会有部分光线反射进镜头，在效果上呈现一个亮点或者亮斑，但如果盒体的侧壁过高，由于盒体侧壁的阻挡，斜射光线无法对内底面进行完整的照射，也即无法对内底面进行完整的暗场检测
。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一
。
为此，本专利技术提出一种内底面缺陷检测装置，能够对侧壁较高的盒体的内底面进行全面的缺陷检测
。
[0005]本专利技术还提出一种应用述内底面缺陷检测装置的检测方法
。
[0006]根据本专利技术的第一方面实施例的内底面缺陷检测装置，包括：
[0007]支架；
[0008]光源，连接于所述支架，被配置为能够产生平行光，所述平行光用于对所述盒体内部进行照射，且所述平行光经过所述盒体的内侧面至少一次反射后照向所述内底面，再经过至少一次反射后从所述盒体内射出；
[0009]摄像组件，连接于所述支架，所述光源设于所述摄像组件的一侧，所述摄像组件用于在所述光源照射时获取所述内底面的图像信息；
[0010]控制器，被配置为基于所述摄像组件获取的图像信息进行缺陷检测
。
[0011]根据本专利技术一方面实施例的内底面缺陷检测装置，至少具有如下有益效果：
[0012]对盒体进行内底面的缺陷检测时，将盒体放置于支架下方，支架上至少设有摄像
组件和光源，其中摄像组件正对盒体的内底面，以拍摄内底面的图像，光源设置在摄像组件的一侧，进行检测时，光源朝盒体内部发射平行光，平行光经过盒体的内侧面的至少一次反射后照向盒体内底面，再经过至少一次反射后从盒体内射出，这个过程中，盒体侧壁不会对光线进行遮挡，光源和摄像组件也不会相互干扰，平行光能够完整的照射盒体的内底面，从而确保暗场检测能够顺利完成
。
[0013]根据本专利技术的一些实施例，所述光源具有多个，各所述光源沿所述摄像组件的周向间隔设置，定义平行于所述内底面的投影面，至少两个所述光源的光轴在所述投影面上的投影相交
。
[0014]根据本专利技术的一些实施例，所述内底面缺陷检测装置至少包括第一光源和第二光源，所述第一光源和所述第二光源的光轴在所述投影面上的投影相交，所述控制器被配置为能够控制所述第一光源执行第一照明操作，并在执行所述第一照明操作后控制所述摄像组件获取第一图像信息，以及，控制所述第二光源执行第二照明操作，并在执行所述第二照明操作后控制所述摄像组件获取第二图像信息，并且能够基于第一图像信息和第二图像信息进行缺陷检测
。
[0015]根据本专利技术的一些实施例，在所述盒体的长度方向上，所述第一光源和所述第二光源在分别位于所述摄像组件的两侧
。
[0016]根据本专利技术的一些实施例，所述内底面缺陷检测装置至少包括第一光源
、
第二光源
、
第三光源和第四光源，所述第一光源和所述第二光源的光轴在所述投影面上的投影相交，所述第三光源和所述第四光源的光轴在所述投影面上的投影相交，所述控制器被配置为能够控制所述第一光源和所述第二光源执行第一照明操作，并在执行所述第一照明操作后控制所述摄像组件获取第一图像信息，以及，控制所述第三光源和所述第四光源执行第二照明操作，并在执行所述第二照明操作后控制所述摄像组件获取第二图像信息，并且能够基于第一图像信息和第二图像信息进行缺陷检测
。
[0017]根据本专利技术的一些实施例，所述光源所发射的平行光线与所述内底面的夹角不小于5°
。
[0018]根据本专利技术的第二方面实施例的内底面缺陷检测装置，包括：
[0019]支架；
[0020]反射镜，贴合所述盒体的内侧面设置；
[0021]光源，连接于所述支架，被配置为能够产生平行光，所述平行光对所述盒体内部进行照射，且所述平行光经过所述反射镜至少一次反射后照向所述内底面，再经过至少一次反射后从所述盒体内射出；
[0022]摄像组件，连接于所述支架，所述光源设于所述摄像组件的一侧，所述摄像组件用于在所述光源照射时获取所述内底面的图像信息；
[0023]控制器，被配置为基于所述摄像组件获取的图像信息进行缺陷检测
。
[0024]根据本专利技术另一方面实施例的内底面缺陷检测装置，至少具有如下有益效果：
[0025]对盒体进行内底面的缺陷检测时，将盒体放置于支架下方，盒体的内侧面上设有反射镜，支架上至少设有摄像组件和光源，其中摄像组件正对盒体的内底面，以拍摄内底面的图像，光源设置在摄像组件的一侧，进行检测时，光源朝盒体内部发射平行光，平行光经过反射镜的至少一次反射后照向盒体内底面，再经过至少一次反射后从盒体内射出，这个
过程中，盒体侧壁不会对光线进行遮挡，光源和摄像组件也不会相互干扰，并且利用反射镜对平行光线进行反射，能够减少光效的损耗，平行光能够完整的照射盒体的内底面，从而确保暗场检测能够更好的完成
。
[0026]根据本专利技术的一些实施例，所述光源具有多个，各所述光源沿所述摄像组件的周向间隔设置，定义平行于所述内底面的投影面，至少两个所述光源的光轴在所述投影面上的投影相交
。
[0027]根据本专利技术的第三方面实施例的应用内底面缺陷检测装置的检测方法，包括：
[0028]所述内底面缺陷检测装置包括：
[0029]支架；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
内底面缺陷检测装置，用于对盒体的内底面进行缺陷检测，其特征在于，包括：支架；光源，连接于所述支架，被配置为能够产生平行光，所述平行光用于对所述盒体内部进行照射，且所述平行光经过所述盒体的内侧面至少一次反射后照向所述内底面，再经过至少一次反射后从所述盒体内射出；摄像组件，连接于所述支架，所述光源设于所述摄像组件的一侧，所述摄像组件用于在所述光源照射时获取所述内底面的图像信息；控制器，被配置为基于所述摄像组件获取的图像信息进行缺陷检测
。2.
根据权利要求1所述的内底面缺陷检测装置，其特征在于，所述光源具有多个，各所述光源沿所述摄像组件的周向间隔设置，定义平行于所述内底面的投影面，至少两个所述光源的光轴在所述投影面上的投影相交
。3.
根据权利要求2所述的内底面缺陷检测装置，其特征在于，所述内底面缺陷检测装置至少包括第一光源和第二光源，所述第一光源和所述第二光源的光轴在所述投影面上的投影相交，所述控制器被配置为能够控制所述第一光源执行第一照明操作，并在执行所述第一照明操作后控制所述摄像组件获取第一图像信息，以及，控制所述第二光源执行第二照明操作，并在执行所述第二照明操作后控制所述摄像组件获取第二图像信息，并且能够基于第一图像信息和第二图像信息进行缺陷检测
。4.
根据权利要求3所述的内底面缺陷检测装置，其特征在于，在所述盒体的长度方向上，所述第一光源和所述第二光源在分别位于所述摄像组件的两侧
。5.
根据权利要求2所述的内底面缺陷检测装置，其特征在于，所述内底面缺陷检测装置至少包括第一光源
、
第二光源
、
第三光源和第四光源，所述第一光源和所述第二光源的光轴在所述投影面上的投影相交，所述第三光源和所述第四光源的光轴在所述投影面上的投影相交，所述控制器被配置为能够控制所述第一光源和所述第二光源执行第一照明操作，并在执行所述第一照明操作后控制所述摄像组件获取第一图像信息，以及，控制所述第三光源和所述第四光源执行第二照明操作，并在执行所述第二照明操作后控制所述摄像组件获取第二图像信息，并且能够基于第一图像信息和第二图像信息进行缺陷检测
。6.
根据权利要求1所述的内底面缺陷检测装...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴平标，彭明，吴正军，杨延竹，于波，张华，
申请(专利权)人：深圳市格灵精睿视觉有限公司，
类型：发明
国别省市：