【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种用于测试及老化的金属圆壳封装集成电路插座，包括一个上压板，其特征在于，在上压板１的中部距中心等距处均匀地开有与金属圆壳封装集成电路管脚数相同且内侧壁上开有限位槽１ｂ的长方形插孔１ａ，所说的插孔１ａ距中心距离为４．０－６．０ｍｍ，在上压板１的侧壁下端开有与所说的插孔１ａ相对应且分别与其相通的凹槽１ｃ，在每个插孔１ａ内分别插装有一个双弹簧片２（３），所说的双弹簧片２（３）的上端分别安装在插孔１ａ上的定位槽１ｂ内和其外侧壁上端，在上压板１的侧壁下端、双弹簧片２（３）引出处套装有将双弹簧片２（３）下部卡紧的圆环状下压板４，并通过螺丝６与上压板１紧固在一起。
【技术特征摘要】
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