本实用新型公开了一种金属圆壳封装集成电路测试及老化插座，它在上压板上等中心距处均匀地加工有内侧壁上开有限位槽的长方形插孔，所说的插孔中心距为４．０－６．０ｍｍ，在每个插孔内分别插装有一个双弹簧片，在上压板的侧壁下端、双弹簧片引出处套装有...

本实用新型公开了一种电接触可靠，使用寿命长的双列直插集成电路测试和老化用插座，它在上、下板的内表面右端中部分别加工有与左中定位台结构相同的右中定位台，在上板的内表面右端后部还加工有与其左前定位台结构相同的右后定位台，且在上、下板的右后端...