电子元件的测试装置制造方法及图纸

一种电子元件的测试装置，其特征在于，它包括： 座体（１０），其可向测试物（２０）提供一适当的测试位置（１１）； 后垣壁（４１），其垂直设置在所述座体（１０）上； 测试座（４０），其设置在后垣壁（４１）上，该测试座上设有动作臂（４２），该动作臂垂直于所述座体（１０）并由驱动机构驱动； 测具（３０），其设置在后垣壁（４１）上，并与所述动作臂（４２）的下方连接；在测具下前方设有与所述测试位置（１１）相对的测针座（３１），该测针座上设有测试探针（３１１）；测具上还设有与所述测针座相连的调整装置（３２），该调整装置用来调整测具（３０）的可测范围； 测试座的动作臂（４２）受压后可下压测具（３０），使测具的测试探针与测试物接触，从而进行测试。（*该技术在2011年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试装置，特别涉及一种电子元件的测试装置。
技术介绍
大家都知道，半导体产业技术进步迅速，晶片的制造过程不断提高，已经由0.18微米进步到现在的0.13微米，晶粒是愈做愈小，所以使电子产品愈渐小型化，降低了生产成本，提高了经济效益。同样，电阻、电容和电压器甚至直流电阻阻抗(DCR)等元件也是朝此趋势发展。但是，小型化的产品在制作、品保过程中，因体积小、脚距窄使操作人员在检验或测试时不易测量，还会因人为疏忽而产生误差，导致最终组装成品的不合格率提高。例如以往使用电感电容电阻测试器(LCR-meter)测量参数数据时通常是利用手持探测棒的方法来测量，由此很可能会因手指颤动而造成误差值过大或误判断，并且在测量时还需考验操作人员的稳定度以及耐心，除了造成品质不稳定延误出货外，还会产生操作人员由于赶工加班而心情浮躁、情绪不佳的负面效果。
技术实现思路
为克服现有技术的缺点，本技术的目的是提供一种可精确、快速地对电子元件进行测试的装置。为了实现上述目的，本技术提供一种电子元件的测试装置，它包括座体，其可向测试物提供一适当的测试位置；后垣壁，其垂直设置在所述座体上；测试座，其设置在后垣本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件的测试装置，其特征在于，它包括座体(10)，其可向测试物(20)提供一适当的测试位置(11)；后垣壁(41)，其垂直设置在所述座体(10)上；测试座(40)，其设置在后垣壁(41)上，该测试座上设有动作臂(42)，该动作臂垂直于所述座体(10)并由驱动机构驱动；测具(30)，其设置在后垣壁(41)上，并与所述动作臂(42)的下方连接；在测具下前方设有与所述测试位置(11)相对的测针座(31)，该测针座上设有测试探针(311)；测具上还设有与所述测针座相连的调整装置(32)，该调整装置用来调整测具(30)的可测范围；测试座的动作臂(42)受压后可下压测具(30)，使测具的测试探针与测试物接触，从而进行测试。2.如权利要求1所述的装...

【专利技术属性】
技术研发人员：王士伟，
申请(专利权)人：致茂电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：