一种方块电阻测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种方块电阻测试设备，包括箱体，所述箱体顶部设置有上盖，所述箱体底部两侧开设有通槽，所述箱体内部上方滑动设置有固定杆，所述固定杆两侧贯穿固定设置有接触杆，所述接触杆底部固定安装有与通槽相匹配的弧形测试块，所述接触杆顶部开设有插槽。本实用新型专利技术通过撤去下压外力，此时复位弹簧在自身伸缩性的作用，从而推动了滑块在滑槽内部上移，通过滑块与滑槽配合，从而提高了固定杆上下移动的稳定性，同时通过导向杆与导向槽相互配合，便于再次加强固定杆移动的稳定性，这样通过滑块上移从而带动了固定杆与接触杆复位，从而使得弧形测试块回缩到箱体内部，这样可以充分保护弧形测试块，防止弧形测试块损坏。防止弧形测试块损坏。防止弧形测试块损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种方块电阻测试设备


[0001]本技术涉及电学测试
，具体为一种方块电阻测试设备。

技术介绍

[0002]方块电阻是衡量导体导电性的电学参数之一，方块电阻的大小与样品长宽尺寸无关，其定义为任意大小的正方形导体边到边的电阻，方块电阻仅与导电膜的厚度和电阻率有关。常用于衡量薄膜膜层的导电性能。在导电薄膜及半导体领域较为常见。
[0003]现有方块电阻测试设备，大多对测试体没有相应的保护部件，从而容易造成损坏，同时整体的密封性较差，从而导致灰尘进入影响测试的精准度。因此，设计一种方块电阻测试设备是很有必要的。

技术实现思路

[0004]针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本技术提供一种方块电阻测试设备，有效的解决了大多对测试体没有相应的保护部件，从而容易造成损坏，同时整体的密封性较差，从而导致灰尘进入影响测试的精准度的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：包括箱体，所述箱体顶部设置有上盖，所述箱体底部两侧开设有通槽，所述箱体内部上方滑动设置有固定杆，所述固定杆两侧贯穿固定设置有接触杆，所述接触杆底部固定安装有与通槽相匹配的弧形测试块，所述接触杆顶部开设有插槽，所述上盖表面两侧开设有与插槽相匹配的通孔，所述通孔内部一侧开设有凹槽，所述凹槽内部滑动设置有封闭板，所述上盖顶部两侧开设有与凹槽相通的滑轨，所述滑轨内部滑动设置有与封闭板螺纹连接的固定螺栓。
[0006]优选的，所述固定杆两侧固定安装有滑块，所述箱体内部两侧开设有与滑块相匹配的滑槽。
[0007]优选的，所述滑槽内部固定安装有复位弹簧，所述复位弹簧表面涂有防锈剂。
[0008]优选的，所述箱体内部中间位置固定安装有导向杆，所述固定杆中间位置开设有与导向杆相匹配的导向槽。
[0009]优选的，所述通槽内部靠近复位弹簧的一侧开设有活动槽，所述活动槽内部滑动设置有密封板。
[0010]优选的，所述活动槽内部转动设置有与密封板螺纹连接的丝杆，所述箱体两侧下方转动设置有与丝杆连接的调节块。
[0011]本技术的有益效果为：
[0012]1、通过撤去下压外力，此时复位弹簧在自身伸缩性的作用，从而推动了滑块在滑槽内部上移，通过滑块与滑槽配合，从而提高了固定杆上下移动的稳定性，同时通过导向杆与导向槽相互配合，便于再次加强固定杆移动的稳定性，这样通过滑块上移从而带动了固定杆与接触杆复位，从而使得弧形测试块回缩到箱体内部，这样可以充分保护弧形测试块，防止弧形测试块损坏。
[0013]2、通过调节块带动丝杆进行转动，从而使得密封板伸出活动槽，这样即可对通槽进行密封，然后通过反转固定螺栓解除封闭板的固定，此时通过拉动固定螺栓在滑轨内部滑动，从而带动封闭板的移出凹槽对通孔进行封闭，然后通过转动固定螺栓进行限位，这样通过上下同时封闭，从而提高了整体的密封效果，这样避免了外界灰尘进入到箱体内部，从而使得测试效果更加精准。
附图说明
[0014]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：
[0015]图1是本技术主视图。
[0016]图2是本技术接触杆座结构示意图。
[0017]图3是本技术通槽结构示意图。
[0018]图中标号：1、箱体；2、上盖；3、通槽；4、固定杆；5、接触杆；6、弧形测试块；7、插槽；8、通孔；9、凹槽；10、封闭板；11、滑轨；12、滑块；13、滑槽；14、复位弹簧；15、导向杆；16、导向槽；17、活动槽；18、密封板；19、丝杆。
具体实施方式
[0019]下面结合附图1
‑
3对本技术的具体实施方式做进一步详细说明。
[0020]实施例一，由图1、图2和图3给出，本技术包括箱体1，箱体1顶部设置有上盖2，便于进行顶部保护，箱体1底部两侧开设有通槽3，箱体1内部上方滑动设置有固定杆4，起到很好的固定作用，固定杆4两侧贯穿固定设置有接触杆5，起到很好的传导效果，接触杆5底部固定安装有与通槽3相匹配的弧形测试块6，便于弧形测试块6穿过通槽3进行测试，接触杆5顶部开设有插槽7，上盖2表面两侧开设有与插槽7相匹配的通孔8，便于万能表试笔的插入，通孔8内部一侧开设有凹槽9，凹槽9内部滑动设置有封闭板10，便于对通孔8进程封闭，上盖2顶部两侧开设有与凹槽9相通的滑轨11，滑轨11内部滑动设置有与封闭板10螺纹连接的固定螺栓，便于通过固定螺栓对封闭板10进行限位。工作时通过将箱体1放到导电薄膜上，将万用电表调节到欧姆档，将第一测试表笔和第二测试表笔分别从通孔8中插入分别接触到两个插槽7，然后分别按压两个通槽3使的固定杆4带动接触杆5下移，进而使弧形测试块6穿过通槽3接触到导电薄膜，使得万用表笔测得导电薄膜的方块电阻阻值，在测试完成后撤去下压外力，此时复位弹簧14在自身伸缩性的作用，从而推动了滑块12在滑槽13内部上移，通过滑块12与滑槽13配合，从而提高了固定杆4上下移动的稳定性，同时通过导向杆15与导向槽16相互配合，便于再次加强固定杆4移动的稳定性，这样通过滑块12上移从而带动了固定杆4与接触杆5复位，从而使得弧形测试块6回缩到箱体1内部，这样可以充分保护弧形测试块6，防止弧形测试块6损坏，在不使用时弧形测试块6回缩到箱体1后，通过外力带动调节块转动，从而使得丝杆19进行转动，由于丝杆19与密封板18螺纹连接，从而使得密封板18伸出活动槽17，这样即可对通槽3进行密封，然后通过反转固定螺栓解除封闭板10的固定，此时通过拉动固定螺栓在滑轨11内部滑动，从而带动封闭板10的移出凹槽9对通孔8进行封闭，然后通过转动固定螺栓进行限位，这样通过上下同时封闭，从而提高了整体的密封效果，这样避免了外界灰尘进入到箱体1内部，从而使得测试效果更加精准。
[0021]实施例二，在实施例一的基础上，由图1给出，固定杆4两侧固定安装有滑块12，箱体1内部两侧开设有与滑块12相匹配的滑槽13，通过滑块12与滑槽13相互配合，便于固定杆4在箱体1内部上下滑动。
[0022]实施例三，在实施例一的基础上，由图1给出，滑槽13内部固定安装有复位弹簧14，复位弹簧14表面涂有防锈剂，通过复位弹簧14便于推动固定杆4复位。
[0023]实施例四，在实施例一的基础上，由图1给出，箱体1内部中间位置固定安装有导向杆15，固定杆4中间位置开设有与导向杆15相匹配的导向槽16，通过导向杆15与导向槽16相互配合，便于提高固定杆4移动的稳定性。
[0024]实施例五，在实施例一的基础上，由图3给出，通槽3内部靠近复位弹簧14的一侧开设有活动槽17，活动槽17内部滑动设置有密封板18，通过密封板18便于对通槽3进行密封。
[0025]实施例六，在实施例一的基础上，由图3给出，活动槽17内部转动设置有与密封板18螺纹连接的丝杆19，箱体1两侧下方转动设置有与丝杆19连接的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种方块电阻测试设备，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)顶部设置有上盖(2)，所述箱体(1)底部两侧开设有通槽(3)，所述箱体(1)内部上方滑动设置有固定杆(4)，所述固定杆(4)两侧贯穿固定设置有接触杆(5)，所述接触杆(5)底部固定安装有与通槽(3)相匹配的弧形测试块(6)，所述接触杆(5)顶部开设有插槽(7)，所述上盖(2)表面两侧开设有与插槽(7)相匹配的通孔(8)，所述通孔(8)内部一侧开设有凹槽(9)，所述凹槽(9)内部滑动设置有封闭板(10)，所述上盖(2)顶部两侧开设有与凹槽(9)相通的滑轨(11)，所述滑轨(11)内部滑动设置有与封闭板(10)螺纹连接的固定螺栓。2.根据权利要求1所述的一种方块电阻测试设备，其特征在于：所述固定杆(4)两侧固定安装有滑块(12)，所述箱体(1)内部两侧开设有与...

【专利技术属性】
技术研发人员：李峰，
申请(专利权)人：涌淳半导体无锡有限公司，
类型：新型
国别省市：