【技术实现步骤摘要】
本案涉及一种在集成电路中之集成测试电路，其可被用来测试集成电路之内电压。本案亦有关于一种测试在集成电路中内电压之方法。
技术介绍
关于集成半导体电路的正确功能系在其制造期间与制造完成后进行检验，当测试半导体电路时必须，特别是，测试在半导体电路内部所产生的电压，也就是测试内部所产生的电压是否对应于期望的电压。为了此一目的，通常的状况是内部所产生的电压藉由特定的测试端而可由外部所存取，以至于连接的测试器装置可将电压引并且可以将后者与参考电压进行比较。为了节省在集成电路上的测试终端，已知的是，当有复数内部产生的电压时，在连接的外部测试器装置或是集成测试电路的控制之下，来提供可将不同的电压施用至为其所提供的共享测试终端之多任务器装置。透过该共享测试终端，内部所产生电压然后可与各自的参考电压依次地进行比较，其因而可能来检查内部所产生的电压是否对应于期望的电压。大体而言，为此所使用的测试终端仅仅是在前端测试期间是可利用，也就是在集成半导体电路未切割(unsawn)的状态。在电路已经切割与封装(housing)之后，已不再使用测试终端，因此，一般而言其已不再可能用来检查内电...
【技术保护点】
一种在集成电路（１）中之集成测试电路，用以测试复数内电压（Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２、…Ｖｎ）， 一交换装置（４），其系用以根据为了测试目的之一选择信号来选择其中一该内电压（Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２、…Ｖｎ）而被提供， 一比较器装置（５），其系依据该选择的内电压（Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２、…Ｖｎ），以比较一量测电压与一外部指定的参考电压（Ｖ↓［ｒｅｆ］），并且用以输出由于该比较之一错误信号。
【技术特征摘要】
DE 2003-2-18 10306620.91.一种在集成电路(1)中之集成测试电路，用以测试复数内电压(V0、V1、V2、…Vn)，一交换装置(4)，其系用以根据为了测试目的之一选择信号来选择其中一该内电压(V0、V1、V2、…Vn)而被提供，一比较器装置(5)，其系依据该选择的内电压(V0、V1、V2、…Vn)，以比较一量测电压与一外部指定的参考电压(Vref)，并且用以输出由于该比较之一错误信号。2.如权利要求第1项所述之测试电路，其中该量测电压系对应于该选择的内电压。3.如权利要求第1项所述之测试电路，其中为了至少一被测试的内电压，一配备系由一分压器所构成，用以产生该量测电压以做为该被测试的内电压之预先决定的部分。4.如权利要求第3项所述之测试电路，其中复数分压器(3)被提供，其系以从该内电压(V0、V1、V2、…Vn)所产生的量测电压分别地在该分压器上呈现的方式而被组态，其在每个该分压器(3)上具有相同的电位(potential)。5.如权利要求第3项至第4项其中之一所述之测试电路，其中一控制电路(6)被提供，用以将该复数分压器(3)之其中之一连接至该比较器装置(5)。6.如权利要求第1...
【专利技术属性】
技术研发人员：G弗兰科维斯基，R凯塞，
申请(专利权)人：因芬尼昂技术股份公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]
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