制造集成电路的方法、该方法获得的集成电路、提供有该方法获得的集成电路的晶片和包括由该方法获得的集成电路的系统技术方案

技术编号:3205964 阅读:121 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及在管芯(402)上制造集成电路(404)的方法,其中管芯(402)形成包括多个通过划片通道(403)相互分离的管芯的晶片(401)的可分离部分。本方法包含下述步骤,即在至少其中一个划片通道(403)上施加金属化图形(407),以形成包含至少一个作为集成电路(404)的一部分的通信总线电路(405)的通信总线。在紧接的下一步骤中,集成电路(404)依据预定的测试方法进行测试,该测试方法使用通信总线电路(405)与集成电路(404)通信。在接下来的步骤中,管芯(402)被从晶片(401)上分离。通信总线电路(405)被设计为在晶片测试模式以及功能性模式下都可以通信。在集成电路(404)的测试过程中,它在晶片测试模式下通信。本发明专利技术还涉及利用该制造方法获得的集成电路(404),包含利用该制造方法获得的集成电路(404)的晶片(401),以及包含利用该制造方法获得的集成电路(404)的系统。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种在形成作为晶片的可分离部分的管芯上制造集成电路的方法,该方法包含在至少一个划片通道(dicing lane)中提供金属化图形的步骤,以形成包含至少一个通信总线电路的通信总线,该通信总线电路形成集成电路的一部分,在紧接的下一个步骤中,根据将通信总线电路用于与集成电路通信的预定测试方法对集成电路进行测试,在此后执行将管芯从晶片上分离的步骤。本专利技术还涉及提供有通信总线电路并位于管芯上的集成电路,在集成电路的制造过程中,该管芯是晶片的可分离部分,晶片包含大量通过划片通道互相分离的管芯,用于形成包含通信总线电路的通信总线的金属化图形形成在至少其中一个划片通道中。本专利技术还涉及用于根据本专利技术的方法中的晶片,该晶片包含在至少其中一个上实现集成电路的管芯,而且还包含提供有金属化图形的至少一个划片通道。本专利技术还涉及包含第一和第二集成电路的系统,其都提供有互连以形成通信总线的通信总线电路。这一方法从美国专利说明书5,808,947中已知。集成电路的制造是非常复杂的过程,大体上说,这个过程可以分为两个部分。在第一部分中,被用作起始材料的半导体材料的切片,例如硅,进行多本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在管芯(402)上制造集成电路(404)的方法,管芯形成为包含多个管芯(402)的晶片(401)的可分离部分,管芯通过划片通道(403)相互分离,该方法包含在其中至少一个划片通道(403)中提供金属化图形(407)的步骤,以形成包含形成集成电路(404)一部分的至少一个通信总线电路(405)的通信总线,该步骤之后的步骤为按照利用通信总线电路(405)与集成电路(404)进行通信的预定测试方法,对集成电路(404)进行测试,之后进行的步骤是将管芯(402)从晶片(401)分离开,其特征在于,通信总线电路(405)被具体化以在晶片测试模式和功能模式下都能进行通信,在集成电路(404)的测试过程...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2001-9-28 01203704.01.一种在管芯(402)上制造集成电路(404)的方法,管芯形成为包含多个管芯(402)的晶片(401)的可分离部分,管芯通过划片通道(403)相互分离,该方法包含在其中至少一个划片通道(403)中提供金属化图形(407)的步骤,以形成包含形成集成电路(404)一部分的至少一个通信总线电路(405)的通信总线,该步骤之后的步骤为按照利用通信总线电路(405)与集成电路(404)进行通信的预定测试方法,对集成电路(404)进行测试,之后进行的步骤是将管芯(402)从晶片(401)分离开,其特征在于,通信总线电路(405)被具体化以在晶片测试模式和功能模式下都能进行通信,在集成电路(404)的测试过程中,所述的通信总线电路在晶片测试模式下进行通信。2.权利要求1中的方法,其特征在于该方法用来制造包含具有图像拾取单元(1002)的固态图像传感器的集成电路(1001)。3.权利要求1中的方法,其特征在于该方法用于制造包含CMOS图像传感器的集成电路(1001)。4.权利要求1中的方法,其特征在于当用在测试方法时通信总线按照串行模式进行通信。5.权利要求1中的方法,其特征在于当用于测试方法中时,通信总线按照I2C标准进行通信。6.权利要求2中的方法,其特征在于该测试方法测试单元组中的至少一个单元,该单元组包含集成电路(1001)的图像拾取单元(1002)、模拟单元(1003)和数字单元(1004)。7.一种提供有通信总线电路(405)并且位于管芯(401)上的集成电路(404),在集成电路(404)的制造过程中管芯是晶片(401)的可分离部分,晶片(401)包含大量彼此之间通过划片通道(403)相互分离的管芯(402),在其中至少...

【专利技术属性】
技术研发人员:APM范阿伦当克E罗克斯AJ米罗普
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利