主动组件阵列基板制造技术

一种主动组件阵列基板，包括一基板、一像素阵列以及一周边电路。其中，基板具有一显示区以及一与显示区邻接的周边电路区。像素阵列配置于基板上的显示区内。周边电路配置于基板上的周边电路区内，且此周边电路包括一第一讯号线、一第二讯号线、一第一旁通线、一第二旁通线、多个芯片接合垫、一第一拟接合垫以及多个第二拟接合垫。第一旁通线与第一讯号线传递相同的一讯号，第二旁通线与第二讯号线传递相同的一讯号。芯片接合垫配置于旁通线与像素阵列之间，且与像素阵列电连接。第一拟接合垫电连接于第一旁通线。每一第二拟接合垫与第二旁通线电连接。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种主动组件阵列基板(active matrix substrate)，特别是涉及一种具有旁通线(bypass line)的主动组件阵列基板。
技术介绍
为了配合现代的生活模式，视讯或影像装置的体积日渐趋于轻薄。虽然传统的阴极射线管(cathode ray tube，CRT)显示器仍有其优点，但是由于其内部电子腔的结构，使得阴极射线管显示器的体积显得庞大而且占空间，并且在阴极射线管显示器输出影像的同时会产生辐射线，造成眼睛伤害等问题。因此，配合光电技术与半导体制造技术所发展的平面型显示器(flat paneldisplay，FPD)，例如液晶显示器，已逐渐成为显示器产品的主流。图1A示出了已知一液晶显示面板的结构示意图。图1B示出了图1A中区域S10的薄膜晶体管阵列基板的局部放大图。图1C示出了图1A中区域S20的薄膜晶体管阵列基板的局部放大图。请先参照图1A，已知液晶显示面板100包括一薄膜晶体管阵列基板110、一彩色滤光基板120、一印刷电路板130、多个扫描驱动芯片140以及多个数据驱动芯片150。其中，彩色滤光基板120配置于薄膜晶体管阵列基板110的上方。印刷电路板130上配置有多个数据驱动芯片150，而印刷电路板130上的数据驱动芯片150适于与薄膜晶体管阵列基板110的数据线DL(标示于图1C中)连接。此外，扫描驱动芯片140适于与薄膜晶体管阵列基板110的扫描线SL(标示于图1B与图1C中)连接，且印刷电路板130与扫描驱动芯片140用以驱动薄膜晶体管阵列基板110的像素阵列20。请继续参照图1B与图1C，上述的薄膜晶体管阵列基板110包括一玻璃基板10、一像素阵列20、一周边电路30、多条短路线40、50以及多条跨接线60。其中，像素阵列20、周边电路30、短路线40、50以及跨接线60皆配置于玻璃基板10上。像素阵列20由多个薄膜晶体管22、多个像素电极24、多条扫描线SL以及多条数据线DL所组成。其中，每一薄膜晶体管22分别与对应的扫描线SL以及数据线DL电连接，而每一像素电极24分别与对应的薄膜晶体管22电相连。周边电路30包括多条讯号线(signal line)32、多个芯片接合垫(chipbonding pad)33、多个拟接合垫(dummy pad)34以及多条旁通线(bypassline)35、36。其中，芯片接合垫33位于旁通线35、36与像素阵列20之间，并分别与扫描线SL电相连，可供扫描驱动芯片140接合薄膜晶体管阵列基板110之用。与薄膜晶体管阵列基板110接合后的扫描驱动芯片140藉由讯号线32以串连(cascade)的方式彼此电连接。短路线40连接所有奇数条的跨接线60，另一条短路线50则连接所有偶数条的跨接线60。芯片接合垫33连接于跨接线60与扫描线SL之间。值得注意的是，旁通线35、36位于短路线40、50与讯号线32之间，且分别电连接于对应的讯号线32。拟接合垫34与像素阵列20电绝缘，且位于芯片接合垫33的外侧。为了驱动液晶显示面板100上的像素阵列20，必须在液晶显示面板100的四周制作相关的电路与芯片，使电压与讯号能施加于像素阵列20的扫瞄线SL以及数据线DL。如图1A中所示的印刷电路板130，其电连接薄膜晶体管阵列基板110的数据线DL，使数据讯号可施加于数据线DL。此外，数个扫描驱动芯片(gate driver IC)140接合在薄膜晶体管阵列基板110的玻璃基板10上，其是以覆晶玻璃封装技术(chip on glass，COG)接合于薄膜晶体管阵列基板110的玻璃基板10上，且与薄膜晶体管阵列基板110的扫描线SL电连接，使扫描讯号可施加于扫描线SL。值得注意的是，由于彩色滤光基板120配置于薄膜晶体管阵列基板110后，薄膜晶体管阵列基板110左侧暴露出的面积较为狭长，为了能在薄膜晶体管阵列基板110上配置扫描驱动芯片140，因此将扫描驱动芯片140藉由讯号线32以串连(cascade)的方式接合于薄膜晶体管阵列基板110上(如图1A所示出了)。然而，在传递相关电压至各扫描驱动芯片140时，讯号线32的阻抗会造成电压衰减，这种情形在大型液晶显示面板中更为严重。为避免传递至扫描驱动芯片140上的电压不同，各扫描驱动芯片140旁配设有数条旁通线35、36(如图1A所示出了)，如此便可使每个扫描驱动芯片140上施加的电压相同。有关于此专利的详细说明可以参照专利号为TW 589598以及US 6844629的专利说明书。请继续参照图1B，在主动组件阵列基板110的制造过程中，难免因为异物掉落或其它制造过程因素而造成电路短路的情况。举例而言，在制造过程中，若有异物掉落在图1B中所标示的点A与点B时，位在点A与点B处的跨接线60会分别与位于这两条跨接线60下方的旁通线35、36短路。然而，这两条跨接线60是经由短路线40而短路，因此会造成位于点A与点B处下方的两旁通线35、36短路。在阵列测试(array test)时，测试探针会压在拟接合垫34与部份的芯片接合垫33(与扫描线SL连接的芯片接合垫33)上，但由于旁通线35、36未与拟接合垫34或是探针所压到的芯片接合垫33(与扫描线SL连接的芯片接合垫33)电连接，所以旁通线35、36的电压讯号无法测得，也就无法测出各旁通线35、36之间是否短路。一般而言，在进行完液晶单元制造过程(cell processes)后，薄膜晶体管阵列基板110上的短路线40、50依然会被留下。在液晶单元测试(cell test)时，由于测试机台例如采用卷带自动贴合封装体(tape automatic bonding，TAB)的探针进行测试，探针会直接压在连接有扫描线SL的芯片接合垫33上，因此无法测出旁通线35、36是否有短路的情形。当此旁通线35、36间发生短路的薄膜晶体管阵列基板110与彩色滤光基板120对组并注入液晶，然后再进行接合工艺(bonging process)之后，印刷电路板130与扫描驱动芯片140会接合于薄膜晶体管阵列基板110上，如此液晶显示面板100便大致完成。然而，此液晶显示面板100在进行模块测试时，由于旁通线35、36间发生短路，使得显示质量不良。换言之，薄膜晶体管阵列基板110在模块测试时才会被检测出旁通线35、36间发生短路。此外，由于未能于阵列测试时实时检测出旁通线35、36间的短路现象，使有问题的薄膜晶体管阵列基板110继续进行后续的工艺，不但浪费产能，也增加了液晶显示面板100的制造成本。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的就是在提供一种能于阵列测试时检测出旁通线短路的主动组件阵列基板。基于上述目的与其它目的，本专利技术提出一种主动组件阵列基板，此主动组件阵列基板包括一基板、一像素阵列以及一周边电路。基板具有一显示区以及一与显示区邻接的周边电路区。像素阵列配置于基板上的显示区内。周边电路配置于基板上的周边电路区内，此周边电路包括一第一讯号线、一第二讯号线、一第一旁通线、一第二旁通线、多个芯片接合垫、一第一拟接合垫以及多个第二拟接合垫。其中第一旁通线与第一讯号线传递相同的一讯号，第二旁通线与第二讯号线传递相同的一讯号。芯片接合垫配置于旁通线与像素阵列之间，且与本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种主动组件阵列基板，包括：　　　　一基板，具有一显示区以及一与该显示区邻接的周边电路区；　　　　一像素阵列，配置于该基板上的该显示区内；以及　　　　一周边电路，配置于该基板上的周边电路区内，该周边电路包括：　　　　一第一讯号线与一第二讯号线；　　　　一第一旁通线与一第二旁通线，其中该第一旁通线与该第一讯号线传递相同的一讯号，该第二旁通线与该第二讯号线传递相同的一讯号；　　　　多个芯片接合垫，配置于所述旁通线与该像素阵列之间，且与该像素阵列电连接；　　　　一第一拟接合垫，电连接于该第一旁通线；以及　　　　多个第二拟接合垫，其中每一第二拟接合垫与该第二旁通线电连接。

【技术特征摘要】
1.一种主动组件阵列基板，包括一基板，具有一显示区以及一与该显示区邻接的周边电路区；一像素阵列，配置于该基板上的该显示区内；以及一周边电路，配置于该基板上的周边电路区内，该周边电路包括一第一讯号线与一第二讯号线；一第一旁通线与一第二旁通线，其中该第一旁通线与该第一讯号线传递相同的一讯号，该第二旁通线与该第二讯号线传递相同的一讯号；多个芯片接合垫，配置于所述旁通线与该像素阵列之间，且与该像素阵列电连接；一第一拟接合垫，电连接于该第一旁通线；以及多个第二拟接合垫，其中每一第二拟接合垫与该第二旁通线电连接。2.如权利要求1所述的主动组件阵列基板，还包括多条配置于该周边电路区内的连接线，其中该第一拟接合垫与每一第二拟接合垫藉由所述连接线连接至该第一旁通线与该第二旁通线。3.如权利要求1所述的主动组件阵列基板，其中该第一拟接合垫与每一第二拟接合垫位于所述芯片接合垫的外侧。4.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙伟杰，陈晶川，黄威雄，黄淑仪，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]