本发明专利技术公开了一种半自动化芯片测试机台及工作方法，包含测试机座、测试台与动作机构，所述的测试台设置在所述的测试机座上，是由底板、背板与左右各一个支撑板组成的开放式箱体，用于置放测试芯片并执行测试动作；所述的动作机构包含气缸，设置在所述的测试台的顶端，用于自动压紧测试芯片，本发明专利技术的工作方法为步骤S101测试机台通电；步骤S102装载待测芯片；步骤S103启动芯片测试；步骤S104芯片测试结束；步骤S105输出芯片测试结果，本发明专利技术整个测试过程由程序控制，减少人的参与，大大提高了内存芯片的测试效率与减少纯人工测试的失误率，本技术方案可以实现对内存芯片的半自动化测试，可以达到为企业节省成本的目的。到为企业节省成本的目的。到为企业节省成本的目的。
【技术实现步骤摘要】
一种半自动化芯片测试机台及工作方法
[0001]本专利技术涉及一种芯片测试
，特别是涉及一种半自动化芯片测试机台及工作方法。
技术介绍
[0002]内存芯片常被人叫做“内存颗粒”，内存芯片是存储器件中最核心的部件，内存芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。因为芯片都有一定的不良率，所以内存芯片在其应用前要进行严格的检测。
[0003]现有技术中常采用人工操作的方式对内存芯片进行测试，比如把内存芯片装载入特定的夹具，之后工人把装好内存芯片的夹具插入测试设备中，之后进行测试，测试完后再由工人手动拔下夹具。这种人工的操作方式效率很低，投入人工成本大，而且对测试中程中的任何环节都容易出错，从而影响测试效率。
[0004]鉴于此，如何开发一种新的内存芯片测试方法，以自动测试来替代纯人工测试是本领域内技术人员普遍关注的问题。
技术实现思路
[0005]针对以上现有技术的不足，本专利技术公开了两种技术方案，第一种技术方案为一种对内存芯片进行自动测试的测试机台，所述的测试机台包含机座、测试台与动作机构，可以实现对内存芯片的半自动化测试，大大提高了内存芯片的测试效率，与节约了人力成本；第二种技术方案为基于第一种技术方案的一种工作方法。
[0006]本专利技术的第一种技术方案具体如下：一种半自动化芯片测试机台，包含测试机座、测试台与动作机构。
[0007]所述的测试机座首选为长方体型（也可以为正方体型、或其可满足本技术方案的多边体型，具体不做太多限定），所述的测试机座内部安装有控制板，所述的控制板用于控制测试台进行测试动作以及用于控制动作机构进行压紧动作。
[0008]所述的测试台设置在所述的测试机座上，所述的测试台是由底板、背板与左右各一个支撑板组成的开放的箱体，用于测试内存芯片并执行测试动作。
[0009]所述的测试台包含测试板，本技术方案中，所述的测试板设置在所述的背板上，与所述的测试机座内部安装的控制板电性连接并进行信息通信。所述的测试板的作用是执行对内存芯片的测试。
[0010]本技术方案中的动作机构，包含有气缸，所述的动作机构设置在所述的测试台的顶端，用于自动压紧测试芯片。
[0011]进一步地，所述的背板上还设置有第一支架，所述的第一支架上安装有芯片载台，所述的芯片载台设置在正对所述测试板的测试接口位置。
[0012]进一步地，所述的动作机构包还包含第二支架、电磁阀与调压阀，所述的气缸、电磁阀与调压阀设置在所述的第二支架上。
[0013]进一步地，所述的调压阀的出气管连接所述电磁阀的进气管，所述电磁阀的出气管连接所述气缸。
[0014]进一步地，所述的电磁阀通过继电器连接所述的控制板，所述的继电器设置在测试机座里。
[0015]在更优的技术方案中，所述的气缸的伸缩杆终端设置有压板，当所述的气缸工作时，所述的压板压紧所述的芯片载台。
[0016]进一步地，所述的半自动化芯片测试机台还包含电源接口，所述的电源接口优选设置在所述的测试机座侧面，还可以设置在测试机座或测试台的其他位置，所述的电源接口电性连接测试机座内部的电源模块。
[0017]进一步地，所述的半自动化芯片测试机台还包含操作控件，所述的操作控件包含电源开关按键、测试开始按键、紧急停止按键与上升按键中的一种或多种，具体来说：所述的电源开关按键设置在所述的测试机座侧面，电性连接所述的电源模块，用于控制所述的半自动化芯片测试机台电源的开与关；所述的测试开始按键，设置在所述的测试机座上表面边沿处或所述的测试台的底板上，与所述的控制板电性连接，用于开启测试；所述的紧急停止按键，设置在所述的测试机座上表面边沿处或所述的测试台的底板上，与所述的电源模块电性连接，用于紧急情况下切断半自动化芯片测试机台的电源，从而达到终止测试的目的；所述的上升按键，设置在所述的测试机座上表面边沿处或所述的测试台的底板上，与所述的控制板电性连接，用于控制所述的气缸提起所述的压板。
[0018]进一步地，所述的半自动化芯片测试机台还包含显示模块或/和声音提示模块。本技术方案中，所述的显示模块设置在所述的第二支架的一端，电性连接所述的控制板用于显示芯片的测试结果；所述的声音提示模块，所述的声音提示模块设置在所述的测试台的底板上，电性连接所述的控制板，用于测试结束时进行声音提示。
[0019]进一步地，所述的显示模块为数模显示管，所述的声音提示模块为蜂鸣器。
[0020]进一步地，所述的测试机座底部的四角各设置有一个支脚。
[0021]本专利技术的第二种技术方案为一种应用于第一种技术方案的工作方法，具体工作方法如下：S101.测试机台（或叫半自动化芯片测试机台）通电；所述的步骤S101具体为：外部电源接入所述的测试机台的电源接口，之后打开所述的电源开关按键；S102.放置待测芯片；所述的步骤S102具体为：操作人员手动把待测芯片正确的装载入所述的芯片载台；S103.启动芯片测试；所述的步骤S103具体为：按下所述的测试开始按键，所述的控制板控制所述的动作机构压紧所述的芯片载台，所述的控制板控制所述的测试板开始测试；S104.芯片测试结束；所述的步骤S104具体为：当芯片测试结束时，所述的测试板向所述的控制板发送芯片测试结束信号，所述的控制板控制所述的声音提示模块进行芯片测试结束的声音提示；
S105.输出芯片测试结果；所述的步骤S105具体为：当芯片测试结束时，所述的测试板向所述的控制板发送芯片测试结果信息，所述的控制板把芯片测试的结果发送给所述的显示模块进行显示。
[0022]进一步地，所述的步骤S103还包含：紧急停止操作，当出现紧急情况时，芯片测试可以紧急停止，所述的紧急停止操作为：按下所述的紧急停止按键，所述的半自动化芯片测试机台断电，芯片测试活动结束；和/或抬起压紧芯片载台压板的操作，当出现突发需要纠正的情况，需要重新抬起压紧芯片载台的压板或其他情况时，所述的抬起压紧芯片载台压板的操作为：按下所述的上升按键，所述的压板会被抬起。
[0023]本专利技术一种半自动化芯片测试机台及工作方法，包含机座、测试台与动作机构，整个测试过程由程序控制减少人的参与，大大提高了内存芯片的测试效率与减少纯人工测试的失误率，本技术方案可以实现对内存芯片的半自动化测试，可以达到为企业节省成本的目的。
附图说明
[0024]图1本专利技术一种半自动化芯片测试机台一个实施例的整体结构示意图。
[0025]图2本专利技术一种半自动化芯片测试机台一个实施例的立体示意图。
[0026]图3本专利技术一种半自动化芯片测试机台一个实施例工作中压板压紧芯片载台的立体示意图。
[0027]图4本专利技术一种半自动化芯片测试机台一个实施例的主视图。
[0028]图5本专利技术一种半自动化芯片测试机台的工作方法流程图。
具体实施方式
[0029]下面结合附图对本专利技术做进一步详细的说明。
[0030]为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半自动化芯片测试机台，其特征在于，包含：测试机座；测试台，设置在所述的测试机座上，所述的测试台是由底板、背板与左右各一个支撑板组成的开放式箱体，用于置放测试芯片并执行测试动作；动作机构，包含气缸，所述的动作机构设置在所述的测试台的顶端，用于自动压紧测试芯片。2.如权利要求1所述的半自动化芯片测试机台，其特征在于，所述的测试机座为长方体型，内部安装有控制板，所述的控制板用于控制测试台进行测试动作以及用于控制动作机构进行压紧动作。3.如权利要求2所述的半自动化芯片测试机台，其特征在于，所述的测试台还包含测试板，所述的测试板设置在所述的背板上，所述的测试板电性连接所述的控制板，并进行数据通信。4.如权利要求3所述的半自动化芯片测试机台，其特征在于，所述的背板上还设置有第一支架；所述的第一支架上安装有芯片载台，所述的芯片载台设置在正对所述测试板的测试接口位置。5.如权利要求4所述的半自动化芯片测试机台，其特征在于，所述的动作机构包还包含第二支架、电磁阀与调压阀，所述的气缸、电磁阀与调压阀设置在所述的第二支架上；所述的调压阀的出气管连接所述电磁阀的进气管，所述电磁阀的出气管连接所述气缸的进气管；所述的气缸的伸缩杆终端设置有压板，当所述的气缸工作时，所述的压板压紧所述的芯片载台。6.如权利要求5所述的半自动化芯片测试机台，其特征在于，所述的半自动化芯片测试机台还包含电源接口，所述的电源接口设置在所述的测试机座侧面，连接测试机座内部的电源模块；所述的半自动化芯片测试机台还包含操作控件，所述的操作控件包含：电源开关按键，设置在所述的测试机座侧面，连接测试机座内部的电源模块，用于控制所述的半自动化芯片测试机台电源的开与关；测试开始按键，设置在所述的测试机座上表面边沿处或所述的测试台的底板上，与所述的控制板电性连接，用于开启测试；紧急停止按键，设置在所述的测试机座上表面边沿处或所述的测试台的底板上，与所述的电源模块电性连接，用于紧急情况下切断电源终止测试；上升按键，设置在所述的测试机座上表面边沿处或所述的测试台的底板上，与所述的控制...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨密凯，杨松坤，李斌，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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