一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机制造技术

技术编号:31503525 阅读:33 留言:0更新日期:2021-12-22 23:30
本发明专利技术涉及一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,包括机箱,所述机箱内自上至下依次设有测试治具组件、转接器针盘组件和高压箱组件,所述高压箱组件由多组高压箱构成,每组高压箱上均设有多组扫描点,每组扫描点分别与转接器针盘组件连接,所述转接器针盘组件与测试治具组件连接,形成多个测试通道,每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。本发明专利技术多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机能够实现多PCS连片板自动化测试及自动识别出不良PCS,且大大提升了多PCS连片板的测试效率。且大大提升了多PCS连片板的测试效率。且大大提升了多PCS连片板的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机


[0001]本专利技术涉及Hipot测试机
,具体为一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机。

技术介绍

[0002]传统的Hipot测试机是以单通道或8个通道为主,其不管是单通道测试机还是8个通道的测试机,其测试都只能判别整个PCS连片板是否NG。而对于单PCS板是否合格,则需辅助手动进行找点,方可识别出不合格的pcs板。该传统Hipot测试机其人力成本高,测试效率低。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种自动化测试识别不合格板单PCS以及测试效率高的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机。
[0004]为了实现上述目的,通过以下技术方案实现。
[0005]一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,用于线圈板的多项目测试,包括机箱,所述机箱内自上至下依次设有测试治具组件、转接器针盘组件和高压箱组件,所述高压箱组件由多组高压箱构成,每组高压箱上均设有多组扫描点,每组扫描点分别与转接器针盘组件连接,所述转接器针盘组件与测试治具组件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于:包括机箱,所述机箱内自上至下依次设有测试治具组件、转接器针盘组件和高压箱组件,所述高压箱组件由多组高压箱构成,每组高压箱上均设有多组扫描点,每组扫描点分别与转接器针盘组件连接,所述转接器针盘组件与测试治具组件连接,形成多个测试通道,每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。2.根据权利要求1所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述测试治具组件包括两个治具夹,两个治具夹之间设有若干个单PCS测试组件。3.根据权利要求2所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述治具夹包括面板承载板和治具承载架,所述面板承载反的一面与若干个单PCS测试组件接触连接,另一面设有治具承载架。4.根据权利要求3所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述治具承载架为U型架,所述U型架为一体成型结构或分体结构,所述U型架与面板承载板之间设有多个支撑柱。5.根据权利要求3所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述单PCS测试组件包括测试面板,所述测试面板的中部设有直接与油...

【专利技术属性】
技术研发人员:鄢超代伟古良永
申请(专利权)人:胜宏科技惠州股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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