本发明专利技术涉及一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机，包括机箱，所述机箱内自上至下依次设有测试治具组件、转接器针盘组件和高压箱组件，所述高压箱组件由多组高压箱构成，每组高压箱上均设有多组扫描点，每组扫描点分别与转接器针盘组件连接，所述转接器针盘组件与测试治具组件连接，形成多个测试通道，每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。本发明专利技术多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机能够实现多PCS连片板自动化测试及自动识别出不良PCS，且大大提升了多PCS连片板的测试效率。且大大提升了多PCS连片板的测试效率。且大大提升了多PCS连片板的测试效率。
【技术实现步骤摘要】
一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机
[0001]本专利技术涉及Hipot测试机
，具体为一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机。
技术介绍
[0002]传统的Hipot测试机是以单通道或8个通道为主，其不管是单通道测试机还是8个通道的测试机，其测试都只能判别整个PCS连片板是否NG。而对于单PCS板是否合格，则需辅助手动进行找点，方可识别出不合格的pcs板。该传统Hipot测试机其人力成本高，测试效率低。
技术实现思路
[0003]本专利技术提供一种自动化测试识别不合格板单PCS以及测试效率高的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机。
[0004]为了实现上述目的，通过以下技术方案实现。
[0005]一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机，用于线圈板的多项目测试，包括机箱，所述机箱内自上至下依次设有测试治具组件、转接器针盘组件和高压箱组件，所述高压箱组件由多组高压箱构成，每组高压箱上均设有多组扫描点，每组扫描点分别与转接器针盘组件连接，所述转接器针盘组件与测试治具组件连接，形成多个测试通道，每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。为实现多连片板Hipot自动测试，且可设备直接判别出具体的不良PCS板，提升测试效率。本专利技术在现有Hipot测试机结构基础上，通过增加多组高压箱，在每组高压箱上均设置多组扫描点，将每组扫描点通过本专利技术中的转接器针盘与测试治具组件连接，形成多个测试通道，每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。本专利技术通过将多组高压箱、转接器针盘以及测试治具组件一起集合在测试机上，最终实现了Hipot测试时单pcs不良可直接自动监测出，实现了自动化测试识别PCS不良板，有效降低了人力成本，提升了监测效率。
[0006]进一步地，所述测试治具组件包括两个治具夹，两个治具夹之间设有若干个单PCS测试组件。所述测试治具组件的开发与设置，用于独立测试单PCS，其中若干个单PCS测试组件的设置，用于与单PCS连接并进行测试，若干个单PCS测试组件两侧两个治具夹的设置，用于放置和固定单PCS测试组件，使若干个单PCS测试组件放置稳定。
[0007]进一步地，所述治具夹包括面板承载板和治具承载架，所述面板承载反的一面与若干个单PCS测试组件接触连接，另一面设有治具承载架。所述治具承载架用于为面板承载板提供支撑，所述面板承载板用于夹持和连接若干个单PCS测试组件，确保若干个单PCS测试组件设置稳定，进而确保测试效率。
[0008]进一步地，所述治具承载架为U型架，所述U型架为一体成型结构或分体结构，所述U型架与面板承载板之间设有多个支撑柱。本专利技术采用U型架作为治具承载架，可有少节省材料，同时减轻治具承载架的重量，多个支撑柱的设置，使治具承载架支撑面板承载板更为
稳定。
[0009]进一步地，所述单PCS测试组件包括测试面板，所述测试面板的中部设有直接与油墨接触且尺寸小于测试面板的铜块，所述铜块上设有向上凸出的铜柱，所述铜块外侧设有多组网络测试针。所述铜柱与铜块为一体，所述网络测试针分别与待测试板上对应的孔相接触，用于分别连通各层线圈网络，测试时通过设备高低压分配，实现层间耐电压、油面与外层铜面间耐电压，以及内槽与各层间线圈边缘耐电压的测试，本实施例中，所述层间耐电压的测试时，其不同线圈组的高低压不同；所述油面与外层铜面间耐电压测试时，铜块与油面接触，铜与油面下铜面为不同高低压端；所述内槽与各层间线圈边缘耐电压测试时，其内槽与各层线圈为不同高低压端。
[0010]进一步地，所述测试面板的四周设有向上凸起的防护隔离栏，所述防护隔离栏上开设有缺口。防护隔离栏的设置，起到防止测试时不同PCS间或测试针与铜块间由于相位差或设计的间距过小，易发生串流打火等异常。所述测试面板及其上防护隔离栏采用一块大面板铣出，并在防护隔离栏上铣出缺口，作为相邻单PCS间的连接位放置缺口，确保连片板能顺利放入测试面板中。
[0011]进一步地，所述转接器针盘组件包括针盘架，所述针盘架上固定有多个转换端子盒，每个转换端子盒上均设有一治具转换板，所述治具转换板通过定位PIN固定在转换端子盒上，所述转换端子盒内设有若干组转换端子探针，所述治具转换板上设有与转换端子探针相对应的连接端子针套。所述转换端子盒的底部两侧设有向外伸出的安装板，所述安装板用于将转换端子盒固定在针盘架上，所述转换端子盒上设有定位PIN，所述治具转换板上设有与定位PIN相对应的定位孔，所述治具转换板穿过定位PIN固定在转换端子盒上，所述治具转换板上的连接端子针套与转换端子盒上的转换端子探针相对应，每个连接端子针套分别套在对应的转换端子探针上。
[0012]进一步地，每个转换端子盒与两个高压箱连接。每组高压箱均设有一个低压输出端、一个高压输出端和8组扫描点，每组高压箱的8组扫描点对应8个通道。每个转换端子盒中设有两大组转换端子探针，每大组转换端子探针均包含10小组转换端子探针，每小组转换端子探针均由两个转换端子探针组成，每大组转换端子探针中的10小组转换端子探针中，其中一组与高压箱中低压输出端相连，一组与高压箱中高压输出端相连，其余8组分别与高压箱中的8组扫描点相连，也即是每个转换端子盒与两个高压箱连接形成16个通道。
[0013]进一步地，所述高压箱为12台，每组高压箱均独立输出，由于每组高压箱中有8个通道设置，则本专利技术测试机一共有96个通道，也即是能够一次完成96个单PCS的测试。
[0014]本专利技术在现有Hipot测试机结构基础上，通过增加多组高压箱，在每组高压箱上均设置多组扫描点，将每组扫描点通过本专利技术中的转接器针盘与测试治具组件连接，形成多个测试通道，每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。本专利技术通过将多组高压箱、转接器针盘以及测试治具组件一起集合在测试机上，最终实现了Hipot测试时单pcs不良可直接自动监测出，实现了自动化测试识别PCS不良板，有效降低了人力成本，提升了监测效率。
附图说明
[0015]图1为本专利技术多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机的立体图；图2为图1中每组高压箱的立体图；
图3为图1中转接器针盘组件的立体图；图4为图1中转接器针盘组件的分解图；图5为4中转换端子盒的俯视图；图6为图1中测试治具组件的立体图；图7为图6中单PCS测试组件的立体图。
具体实施方式
[0016]下面将结合具体实施例及附图对本专利技术多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机作进一步详细描述。
[0017]参照图1至图，本专利技术一非限制实施例，一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机，用于连片多且测试项目多的产品的耐压测试，包括机箱100，所述机箱100内自上至下依次设有测试治具组件200、转接器针盘组件300和高压箱组件400，所述高压箱组件400由多组高压箱构成，每组高压箱410上均设有多组扫描点413，每组扫描点413分别与转接器针盘组件300连接，所述转接器针盘组件300与测试治具组件200连接，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机，其特征在于：包括机箱，所述机箱内自上至下依次设有测试治具组件、转接器针盘组件和高压箱组件，所述高压箱组件由多组高压箱构成，每组高压箱上均设有多组扫描点，每组扫描点分别与转接器针盘组件连接，所述转接器针盘组件与测试治具组件连接，形成多个测试通道，每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。2.根据权利要求1所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机，其特征在于，所述测试治具组件包括两个治具夹，两个治具夹之间设有若干个单PCS测试组件。3.根据权利要求2所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机，其特征在于，所述治具夹包括面板承载板和治具承载架，所述面板承载反的一面与若干个单PCS测试组件接触连接，另一面设有治具承载架。4.根据权利要求3所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机，其特征在于，所述治具承载架为U型架，所述U型架为一体成型结构或分体结构，所述U型架与面板承载板之间设有多个支撑柱。5.根据权利要求3所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机，其特征在于，所述单PCS测试组件包括测试面板，所述测试面板的中部设有直接与油...
【专利技术属性】
技术研发人员：鄢超，代伟，古良永，
申请(专利权)人：胜宏科技惠州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。