时延测量装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及硬件电路高精度测量技术领域，公开了一种时延测量装置及测试方法，包括数据源模块，用于输出校准数据；数模转换模块，与数据源模块相连接，用于将校准数据转换成模拟校准信号，模拟校准信号包括至少两种不同特征的周期信号；模数转换模块，与数模转换模块直接连接形成第一环路，且通过待测样品与数模转换模块连接形成第二环路；计算模块，用于根据模拟校准信号和第一采集信号获取第一时间参数，根据模拟校准信号和第二采集信号获取第二时间参数，且根据第一时间参数和第二时间参数计算待测样品的时延。利用包括至少两种不同特征的周期信号的校准信号对待测样品进行时延测量，解决了高频率多周期信号起始时刻难以确定的问题。的问题。的问题。

【技术实现步骤摘要】
时延测量装置及测试方法


[0001]本专利技术涉及硬件电路高精度测量
，特别是涉及一种时延测量装置及测试方法。

技术介绍

[0002]在多通道同步系统中，一般都需要测量硬件电路的时延，完成对硬件电路时延的测量后，才能实现多通道同步。对于同步精度要求不太高只需要达到ns级的同步系统，通常会利用单个边沿对齐的方式实现同步，比如利用一个脉冲的边沿，测量硬件电路时延。在一些同步精度达到ps级的应用需求中，则通常会利用多个边沿对齐的方式来测量硬件时延，比如利用正弦波、周期性方波等多个波形的边沿，测量硬件电路时延。
[0003]然而，利用多边沿对齐的方案，需要测量宽频段、群延时不一致的高频电路的时延，必须使用对应频段的周期性边沿信号进行测试。比如测量1GHz频率的电路时延，则需要使用1GHz频率的周期性边沿信号。在实际测量中，因为每个周期持续时间只有1ns，因此很难识别具体哪一个周期边沿应该被作为计算的起点时刻。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对高频率多周期信号起始时刻难以确定的问题，提供一种时延测量装置及测试方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种时延测量装置，其特征在于，包括：数据源模块，用于输出校准数据；数模转换模块，与所述数据源模块相连接，用于将所述校准数据转换成模拟校准信号，所述模拟校准信号包括至少两种不同特征的周期信号；模数转换模块，与所述数模转换模块直接连接而形成第一环路，所述第一环路用于获取第一采集信号，且所述模数转换模块通过待测样品而与所述数模转换模块连接而形成第二环路，所述第二环路用于获取第二采集信号；计算模块，与所述模数转换模块相连接，用于根据所述模拟校准信号和所述第一采集信号获取第一时间参数，根据所述模拟校准信号和所述第二采集信号获取第二时间参数，且根据所述第一时间参数和所述第二时间参数计算所述待测样品的时延。2.根据权利要求1所述的时延测量装置，其特征在于，所述时延测量装置还包括：开关模块，分别与所述数模转换模块、所述模数转换模块和所述待测样品相连接，用于控制所述第一环路的连接通断，控制所述第二环路的连接通断。3.根据权利要求1或2所述的时延测量装置，其特征在于，所述模拟校准信号包括第一周期信号和第二周期信号，所述第一周期信号与所述第二周期信号的波形、幅度、频率、周期中至少有一项特征不同。4.根据权利要求3所述的时延测量装置，其特征在于，所述第一周期信号包括正弦波、方波、梯形波、三角波，所述第二周期信号包括正弦波、方波、梯形波、三角波。5.根据权利要求1所述的时延测量装置，其特征在于，所述模拟校准信号包括第一周期信号、第二周期信号和第三周期信号，所述第一周期信号、所述第二周期信号和第三周期信号之间任意两种周期信号的波形、幅度、频率、周期中至少...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛为勇，王悦，
申请(专利权)人：普源精电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：