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本发明涉及硬件电路高精度测量技术领域，公开了一种时延测量装置及测试方法，包括数据源模块，用于输出校准数据；数模转换模块，与数据源模块相连接，用于将校准数据转换成模拟校准信号，模拟校准信号包括至少两种不同特征的周期信号；模数转换模块，与数模转...
该专利属于普源精电科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过普源精电科技股份有限公司授权不得商用。

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