一种PNP双极型晶体管开关时间的测试装置制造方法及图纸

技术编号:30879571 阅读:16 留言:0更新日期:2021-11-18 16:05
本实用新型专利技术涉及一种PNP双极型晶体管开关时间的测试装置,属于半导体技术领域。包括信号发生器和示波器,所述信号发生器的正极通过第一电阻与基准三极管的基极连接,所述信号发生器的负极与基准三极管的发射极连接并接地,所述基准三极管的集电极通过第二电阻与待测PNP三极管的基极连接,所述待测PNP三极管的基极与待测PNP三极管的发射极之间通过第三电阻连接;所述待测PNP三极管的发射极与稳压电源的正极连接,所述示波器的A端与基准三极管的集电极连接,所述示波器的B端与待测PNP三极管的集电极连接,所述待测PNP三极管的集电极与第四电阻连接并接地。本申请能够对PNP双极型晶体管的开关时间进行测试。晶体管的开关时间进行测试。晶体管的开关时间进行测试。

【技术实现步骤摘要】
一种PNP双极型晶体管开关时间的测试装置


[0001]本技术涉及一种PNP双极型晶体管开关时间的测试装置,属于半导体


技术介绍

[0002]双极型功率晶体管(Power Bipolar Junction switching Transistor简称PBJT))的优点是易于产生大功率、同时获得高压和大电流、饱和压降低、模拟应用频率较高等特点,广泛地运用于航天航空、通讯、雷达和武器装备等电子系统和民用电子设备中,其质量直接影响电子系统(设备)可靠性。开关时间是表征双极型功率晶体管动态特性的特征参数,是评价晶体开关管的最重要的质量参数,也是电子器件生产和使用单位用于评价、验收试验双极型功率晶体开关管的最重要技术参数指标。当晶体管用作开关时,其开关时间参数将直接影响电路的工作频率和整机性能。
[0003]目前的各种测试设备中,NIB

2961A的三极管开关参数测试仪,主要测量小功率三极管的开关参数,测量范围由5nS至500nS;UI9600Ts的测试仪,主要测量NPN中大功率三极管的开关参数,测量范围由1μs至20μs。对于PNP大功率三极管的开关参数测试,由于使用需求较少,目前并没有专门的测试设备。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题是针对上述现有技术提供一种PNP双极型晶体管开关时间的测试装置,能够对PNP双极型晶体管的开关时间进行测试。
[0005]本技术解决上述问题所采用的技术方案为:一种PNP双极型晶体管开关时间的测试装置,包括信号发生器和示波器,所述信号发生器的正极通过第一电阻与基准三极管的基极连接,所述信号发生器的负极与基准三极管的发射极连接并接地,所述基准三极管的集电极通过第二电阻与待测PNP三极管的基极连接,所述待测PNP三极管的基极与待测PNP三极管的发射极之间设有第三电阻,所述第三电阻一端与待测PNP三极管的基极相连,所述第三电阻的另一端与待测PNP三极管的发射极;所述待测PNP三极管的发射极与稳压电源的正极连接,所述示波器的A端与基准三极管的集电极连接,所述示波器的B端与待测PNP三极管的集电极连接,所述待测PNP三极管的集电极与第四电阻连接并接地。
[0006]所述第一电阻和第二电阻的阻值分别为0.95~1.05kΩ;所述第三电阻的阻值为8.5~10kΩ,所述第四电阻的阻值为95~105Ω。
[0007]所述稳压电源的电压值为9.5~10.5V。
[0008]与现有技术相比,本技术的优点在于:一种PNP双极型晶体管开关时间的测试装置,示波器的A点为基准三极管的输入波形测试点,示波器的B点为待测PNP三极管的输出波形测试点,通过同一示波器比较输入和输出的波形,即可得到待测PNP三极管的开关时间,实现对PNP双极型晶体管的开关时间进行测试。
附图说明
[0009]图1为本技术实施例一种PNP双极型晶体管开关时间的测试装置的示意图;
[0010]图中1信号发生器、2第一电阻、3基准三极管、4第二电阻、5第三电阻、6待测PNP三极管、7第四电阻、8示波器、9稳压电源。
具体实施方式
[0011]以下结合附图实施例对本技术作进一步详细描述。
[0012]如图1所示,本实施例中的一种PNP双极型晶体管开关时间的测试装置,包括信号发生器1、稳压电源9、示波器8、基准三极管3、第一电阻2、第二电阻4、第三电阻5、第四电阻7和待测PNP三极管6。信号发生器1的正极与第一电阻2一端相连,信号发生器1的负极与基准三极管6的发射极相连并接地。第一电阻2与基准三极管6的基极相连;基准三极管6的集电极与示波器8的A端相连,基准三极管6的发射极接地。基准三极管6的集电极与第二电阻4一端相连,第二电阻4另一端与待测PNP三极管6的基极相连,待测PNP三极管6的基极还与第三电阻5的一端相连,第三电阻5的另一端与待测PNP三极管6的发射极相连。待测PNP三极管6的发射极与稳压电源9的正极相连,待测PNP三极管6的集电极与第四电阻7一端相连,第四电阻7另一端接地;示波器8的B端与待测PNP三极管6的集电极相连。
[0013]上述信号发生器1的型号为XFG6,基准三极管3的型号为2N2222,示波器8的型号为XSC6,稳压电源9的电压值为10V;第一电阻2和第二电阻4的阻值分别为10kΩ,第三电阻5的阻值为9.1kΩ,第四电阻7的阻值为100Ω。
[0014]第一电阻2前面由信号发生器1提供振荡频率,稳压电源9为基准三极管和待测PNP三极管6供电,示波器8的A点为基准三极管的输入波形测试点,示波器的B点为待测PNP三极管的输出波形测试点,通过同一示波器比较输入和输出的波形,即可得到待测PNP三极管的开关时间,实现对PNP双极型晶体管的开关时间进行测试。对不同功率的待测PNP三极管的开关时间进行测试,得出实施例的测量范围为100ns~20μs。
[0015]除上述实施例外,本技术还包括有其他实施方式,凡采用等同变换或者等效替换方式形成的技术方案,均应落入本技术权利要求的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PNP双极型晶体管开关时间的测试装置,其特征在于:包括信号发生器和示波器,所述信号发生器的正极通过第一电阻与基准三极管的基极连接,所述信号发生器的负极与基准三极管的发射极连接并接地,所述基准三极管的集电极通过第二电阻与待测PNP三极管的基极连接,所述待测PNP三极管的基极与待测PNP三极管的发射极之间设有第三电阻,所述第三电阻一端与待测PNP三极管的基极相连,所述第三电阻的另一端与待测PNP三极管的发射极;所述待测PNP三极管的发射极与稳压电源的正极连接,所述示波...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄强常俊李天鹏
申请(专利权)人:江苏新顺微电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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