体现活动的跟踪与锁存读出放大器（比较器）特征的方法技术

本发明专利技术提供了一种用于阵列中每个比较器的每个正负输入（ｉｎ＋与ｉｎ－）的非侵入式隔离测试方法。隔离并不影响比较器的读取功能，因此通过使用一次性编程（ＯＴＰ）阵列的普通读取电路可实现比较器的表征。隔离方法依赖于使用测试信号选通控制信号，因而不会对到比较器的输入产生电影响。每个输入信号有四个可能的控制信号，因此需要四个门控测试信号驱动器，这样，总共有１６种输入组合可供每个比较器使用。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及体现比较器特征的方法和设备，更具体地说，涉及在一次性编程(OTP)自对准硅化熔丝阵列中活动的跟踪与锁存读出放大比较器的方法和设备。
技术介绍
OTP(一次性编程)ROM是具有熔丝或反熔丝熔线的存储单元阵列，其特征在于通过施加写入电流熔固熔丝而打开熔线。一旦熔线熔固，则熔线的阻抗会比未熔固熔丝的阻抗高得多。跟踪与锁存读出放大器或比较器连接到OTP熔丝的输出。这些比较器用于比较多熔丝阵列内的两个电压。测试这些比较器的重要之处在于比较器属性特征和体现读出放大器特征的方法需要一个完全或部分为测试读出放大器而设计的专用测试芯片，但这增加了电路的复杂性。这些比较器设计用于比较两个电压。电压大约高出地电平几毫伏，因而在读取过程中会受噪声影响。因此，用于测试读出放大器的测试芯片有时由于噪声引起的差错而产生了不当的结果。测试电路内跟踪与锁存比较器的方法将是建立具有其测试电路的独立比较器，从而体现其性能特征，不过，这会使比较器失去其利用环境，从而产生表征不当的装置和可能错误的结果。比较器需要状态机器生成的一组脉冲才可成功运行。到比较器的所有参考输入连接到单个节点，而所有正输入(in+)彼本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路，它包括：比较器，包括以下组件：比较电路、第一输入端口、第二输入端口和输出端口；以及开关，集成到所述集成电路，并与所述第一输入端口进行电连接以便在多个输入信号之间进行可切换选择，其特征在于一个输入信号是根据所述电 路操作要求，并且另一个输入信号完全用于测试所述比较器。

【技术特征摘要】
US 2001-6-20 09/884,1481.一种集成电路，它包括比较器，包括以下组件比较电路、第一输入端口、第二输入端口和输出端口；以及开关，集成到所述集成电路，并与所述第一输入端口进行电连接以便在多个输入信号之间进行可切换选择，其特征在于一个输入信号是根据所述电路操作要求，并且另一个输入信号完全用于测试所述比较器。2.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于还包括集成到所述集成电路并与所述第二输入端口进行电连接的开关，以便在多个输入信号之间进行可切换选择，其特征在于一个输入信号是根据所述电路操作要求，并且另一个输入信号完全用于测试所述比较器。3.如权利要求2所述的集成电路，其特征在于包括与到所述比较器的每个输入端口进行电连接的多个开关。4.如权利要求3所述的集成电路，其特征在于包括与所述比较器输入端口进行电连接并且与所述输入端口的多个开关进行电连接的多熔丝元件。5.如权利要求4所述的集成电路，其特征在于所述多个开关中的每个开关可至少将接地、电源和外部针脚之一切换连接到所述开关连接的输入端口。6.如权利要求5所述的集成电路，其特征在于包括自对准硅化多熔丝ROM。7.如权利要求6所述的集成电路，其特征在于所述比较器用于读取所述多熔丝ROM的值；以及其特征在于所述一个输入信号可以电连接到至少单个ROM多熔丝元件。8.如权利要求7所述的集成电路，其特征在于包括控制块，其中，表征数据用于对所述控制块编程。9.如权利要求8所述的集成电路，其特征在于包括用于可切换控制到所述电路的输入路径的门控电路。10.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述开关包括多个开关，可将用于所述集成电路装置正常操作的外部针脚、已知电压和导体之一切换连接到所述比较器的所述输入端口，其中所述装置支持两种操作模式，第一模式的特征为所述开关可切换操作，并且第二模式的特征为所述开关是固定用于连接所述集成电路装置正常操作的所述导体。11.一种体现集成电路内比较器特征的非侵入式方法，它包括以下步骤向所述比较器提供电源；提供所述集成电路内的开关以便可切换选择到所述比较器的多个测试输入信号；将第一控制信号切换到所述比较器的所述第一输入端口并监控在所述输出端口提供的输出信号；以及将第二控制信号切换到所述比较器的...

【专利技术属性】
技术研发人员：EG霍里，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]