体现活动的跟踪与锁存读出放大器（比较器）特征的方法技术

本发明专利技术提供了一种用于阵列中每个比较器的每个正负输入（ｉｎ＋与ｉｎ－）的非侵入式隔离测试方法。隔离并不影响比较器的读取功能，因此通过使用一次性编程（ＯＴＰ）阵列的普通读取电路可实现比较器的表征。隔离方法依赖于使用测试信号选通控制信号，因而不会对到比较器的输入产生电影响。每个输入信号有四个可能的控制信号，因此需要四个门控测试信号驱动器，这样，总共有１６种输入组合可供每个比较器使用。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及体现比较器特征的方法和设备，更具体地说，涉及在一次性编程(OTP)自对准硅化熔丝阵列中活动的跟踪与锁存读出放大比较器的方法和设备。
技术介绍
OTP(一次性编程)ROM是具有熔丝或反熔丝熔线的存储单元阵列，其特征在于通过施加写入电流熔固熔丝而打开熔线。一旦熔线熔固，则熔线的阻抗会比未熔固熔丝的阻抗高得多。跟踪与锁存读出放大器或比较器连接到OTP熔丝的输出。这些比较器用于比较多熔丝阵列内的两个电压。测试这些比较器的重要之处在于比较器属性特征和体现读出放大器特征的方法需要一个完全或部分为测试读出放大器而设计的专用测试芯片，但这增加了电路的复杂性。这些比较器设计用于比较两个电压。电压大约高出地电平几毫伏，因而在读取过程中会受噪声影响。因此，用于测试读出放大器的测试芯片有时由于噪声引起的差错而产生了不当的结果。测试电路内跟踪与锁存比较器的方法将是建立具有其测试电路的独立比较器，从而体现其性能特征，不过，这会使比较器失去其利用环境，从而产生表征不当的装置和可能错误的结果。比较器需要状态机器生成的一组脉冲才可成功运行。到比较器的所有参考输入连接到单个节点，而所有正输入(in+)彼此相互独立。因为到跟踪与锁存比较器的每个输入在电方面不平衡，所以这使得跟踪与锁存比较器表征变得难以进行。这样，电路内比较器的不平衡测试要求正确的装置理解。因此，如果能够体现存储器本身内活动的读出放大比较器的特征而不影响读出放大比较器性能，则这将会有利。专利技术概述根据本专利技术，提供了一个集成电路，它包括比较器，包括以下组件比较电路、第一输入端口、第二输入端口和输出端口；以及集成到所述集成电路并与所述第一输入端口进行电连接的开关，以便在多个输入信号之间进行可切换选择，其特征在于一个输入信号是根据所述电路操作要求，并且另一个输入信号完全用于测试所述比较器。根据本专利技术的另一方面，提供了体现集成电路内比较器特征的非入侵方法，它包括以下步骤向所述比较器提供电源；提供所述集成电路内的开关以便控制到所述比较器的不同测试输入信号；将第一控制信号切换到所述比较器的所述第一输入端口并监控在所述输出端口提供的输出信号；将第二控制信号切换到所述比较器的所述第二输入端口并监控在所述输出端口提供的输出信号。附图简述现在将参照附图描述本专利技术，其中附图说明图1显示了作为多熔丝阵列一部分的先有技术比较器电路；图2显示了具有用于控制和观察比较器的非侵入式方法构造的比较器电路；图3概述了通过外部触摸垫体现多熔丝阵列内比较器特征的方法；以及图4概述了通过比较器输出体现多熔丝阵列内比较器特征的方法。本专利技术详细说明图1显示了一次性编程(OTP)自对准硅化多熔丝ROM 15，它具有按阵列排列的多个熔丝元件和N-MOS晶体管16。跟踪与锁存比较器10提供到行输出端口，其中，每个跟踪与锁存比较器10具有负输入端口11和正输入端口12。每个比较器10的负输入端口11(in-)连接到同一参考节点11，而每个正输入端口12(in+)连接到不同节点，或行12。到比较器10的输入信号源由3个不同的信号控制在不使用行时，行释放信号13释放行；列驱动器14选择列地址以选择该列中的所有单元；以及读取信号17允许在读取过程中少量电流(100μA)流入熔丝元件16和参考熔丝18。不过，在此实施中，不可能观察或控制电路内的任何活动比较器。图2显示了用于控制和观察比较器20的一个比较器20非侵入式方法的表示。比较器具有负输入端口24和正输入端口23。选定比较器20是ROW[O]比较器，并且提供到比较器20的输入信号对应于测试列中的行[O]21以形成到正输入端口23的正输入(in+)，及虚拟行22中的参考熔丝以形成到比较器20负输入端口24的负输入(in-)。熔丝元件33连接到比较器的正输入端口，并且参考熔丝元件34连接到比较器的负输入端口。图2所示电路具有两种操作模式第一操作模式是测试模式，第二操作模式是正常模式。通过两个小的N-MOS开关39、40，提供了到比较器输入节点的外部访问。这些N MOS开关40的第一个开关可在控制下将第一外部模拟针脚36连接到比较器20的正输入端口。这些N MOS开关39的第二个开关可在控制下将第二外部模拟针脚38连接到比较器20的负输入端口。这些N-MOS开关是小元件，因而不会增加比较器输入端口的负荷或影响该端口。八个输入信号通过其它电路提供到比较器20，包括熔丝电流开关(FCS)信号25、熔丝下拉(FPD)信号26、熔丝单元读取信号(FCR)27、熔丝外部控制(FEC)信号28、参考电流开关信号(RCS)29、参考下拉(RPD)信号30、参考单元读取(RCR)信号31及参考外部控制(REC)信号32。信号25-32是二进制信号，其中“1”表示信号是在“开”或已启用状态，并且“0”表示信号在“闭”或禁用状态。熔丝电流开关(FCS)信号25用于控制熔丝33的读取信号。在启用FCS 25后，100μA的电流会从电流源35流入熔丝33。在操作的测试模式中，FCS 25被禁用时，电流源35的100μA电流不能流入熔丝33。通常，FCS 25是在设为启用状态，或FCS＝1。熔丝下拉(FPD)26信号用于控制行释放。FPD信号26被禁用时，熔丝节点会保持充电。在操作的正常模式中，FCS信号25会被启用，或FCS＝1。熔丝单元读取信号(FCR)27信号为熔丝33选通列地址信号。FCR被禁用时，读出(100μA)电流不会从电流源35流入熔丝33。在操作的正常模式中，FCR信号会被启用，或FCR＝1。熔丝外部控制(FEC)28信号控制将比较器20的正输入端口23，in+连接到外部节点fuse_ext 36的开关。在操作的正常模式中，FEC 28信号会禁用，或FEC＝0。参考电流开关(RCS)29选通读取信号，从而允许100μA的电流从电源37流入参考熔丝34。在操作的测试模式中，RCS 29信号会禁用，因此，100μA的读取电流不能流入参考熔丝34。在操作的正常模式中，RCS 29会被启用，或RCS＝1。参考下拉(RPD)30信号选通参考熔丝34的行释放。RPR被禁用时，虚拟行22的参考熔丝节点保持充电。在操作的正常模式中，RPD会被启用，或RPD＝1。参考单元读取(RCD)31信号选通到参考熔丝34的读取信号。RCR 31被禁用时，100μA的读取电流不流入参考熔丝34。在操作的正常模式中，RCR 31会被启用，或RCR＝1。参考外部控制(REC)32信号控制将比较器20的负输入端口23，in-连接到外部节点re ext 38的开关。在操作的测试模式中，REC 32的设置会禁用，或REC＝0。在操作的正常模式中，到比较器正输入端口的以下输入会被启用FCR、FPD和FCR，而FEC会被禁用。到比较器的负输入端口的以下输入会被启用RCS、RPD和RCR，而REC会被禁用。每个比较器20有两个输入端口23和24。每个输入端口有四个二进制控制信号可用。由于具有两组各4个二进制控制输入信号，因此允许有256种不同的方式控制比较器。下面的示例将概述与本专利技术相关的控制示例。电路设计领域的技术人员明白，测试此电路的许多不同可能性是明显的，并且不应限于示例范围。图3显示的方法用于执行有关熔本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路，它包括：比较器，包括以下组件：比较电路、第一输入端口、第二输入端口和输出端口；以及开关，集成到所述集成电路，并与所述第一输入端口进行电连接以便在多个输入信号之间进行可切换选择，其特征在于一个输入信号是根据所述电 路操作要求，并且另一个输入信号完全用于测试所述比较器。

【技术特征摘要】
US 2001-6-20 09/884,1481.一种集成电路，它包括比较器，包括以下组件比较电路、第一输入端口、第二输入端口和输出端口；以及开关，集成到所述集成电路，并与所述第一输入端口进行电连接以便在多个输入信号之间进行可切换选择，其特征在于一个输入信号是根据所述电路操作要求，并且另一个输入信号完全用于测试所述比较器。2.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于还包括集成到所述集成电路并与所述第二输入端口进行电连接的开关，以便在多个输入信号之间进行可切换选择，其特征在于一个输入信号是根据所述电路操作要求，并且另一个输入信号完全用于测试所述比较器。3.如权利要求2所述的集成电路，其特征在于包括与到所述比较器的每个输入端口进行电连接的多个开关。4.如权利要求3所述的集成电路，其特征在于包括与所述比较器输入端口进行电连接并且与所述输入端口的多个开关进行电连接的多熔丝元件。5.如权利要求4所述的集成电路，其特征在于所述多个开关中的每个开关可至少将接地、电源和外部针脚之一切换连接到所述开关连接的输入端口。6.如权利要求5所述的集成电路，其特征在于包括自对准硅化多熔丝ROM。7.如权利要求6所述的集成电路，其特征在于所述比较器用于读取所述多熔丝ROM的值；以及其特征在于所述一个输入信号可以电连接到至少单个ROM多熔丝元件。8.如权利要求7所述的集成电路，其特征在于包括控制块，其中，表征数据用于对所述控制块编程。9.如权利要求8所述的集成电路，其特征在于包括用于可切换控制到所述电路的输入路径的门控电路。10.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述开关包括多个开关，可将用于所述集成电路装置正常操作的外部针脚、已知电压和导体之一切换连接到所述比较器的所述输入端口，其中所述装置支持两种操作模式，第一模式的特征为所述开关可切换操作，并且第二模式的特征为所述开关是固定用于连接所述集成电路装置正常操作的所述导体。11.一种体现集成电路内比较器特征的非侵入式方法，它包括以下步骤向所述比较器提供电源；提供所述集成电路内的开关以便可切换选择到所述比较器的多个测试输入信号；将第一控制信号切换到所述比较器的所述第一输入端口并监控在所述输出端口提供的输出信号；以及将第二控制信号切换到所述比较器的...

【专利技术属性】
技术研发人员：EG霍里，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]