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本发明提供了一种用于阵列中每个比较器的每个正负输入（ｉｎ＋与ｉｎ－）的非侵入式隔离测试方法。隔离并不影响比较器的读取功能，因此通过使用一次性编程（ＯＴＰ）阵列的普通读取电路可实现比较器的表征。隔离方法依赖于使用测试信号选通控制信号，因而不会...
该专利属于NXP股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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