通过重复数据的使用而提高熔丝编程产率的方法和装置制造方法及图纸

测试集成电路存储器，以发现有缺陷存储元件。为了更换有缺陷存储元件，选择备用存储元件，并且生成串，来表示哪些备用存储元件更换哪些有缺陷存储元件。该串的位数取决于有多少存储元件有缺陷。虽然特定数目的存储元件有缺陷，其中该数目决定串位数，但是响应于相对于二进制串位数有多少熔丝可用于编程，而确定集成电路上要编程的熔丝的数目。也就是，如果相对于串位数，大于特定阈值数目的熔丝可用（这是优选的），则大于该阈值数目的熔丝被编程。相反，则仅仅该特定阈值数目的熔丝被编程。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般涉及通过使用熔丝来测试和更换有缺陷的存储元件。更具体地说，本专利技术涉及熔丝中的位串编码以及随后的熔丝解码。
技术介绍
自动化制造测试环境中复杂集成电路的定制、测试和修复是有挑战性的难题。在这一环境中出现的一个问题是需要在集成电路芯片上的大型存储器阵列中自动地修复有缺陷的存储元件。过去，使用金属熔丝来进行这样的修复。最近，已开发出了电编程熔丝(“电熔丝”)。电熔丝目前被制造为多晶硅链(polysilicon link)。这样的电熔丝具有两个预期的逻辑状态。为了获得逻辑“1”状态，例如通过施加10mA的脉冲200微秒，电熔丝“被编程”(也被称作被熔断、断开、开路等)。该电流扰乱多晶硅链，从而大幅度地增加其电阻。对于相对较低的电阻，逻辑“0”状态，电熔丝不受到这样的“编程”电流，因此多晶硅链保持原封不动。电熔丝的逻辑状态一般可以由感测电路检测。电熔丝显著小于金属熔丝。这样较好，因为随着器件的尺寸减小，有可能将更多的器件放置到集成电路芯片上。从而，发展趋势是越来越大的存储器阵列。由于电熔丝具有较少的机械相关性，因此随着器件工艺学和制造工艺的发展，它们甚至可以缩小尺寸。因此本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于对熔丝进行编程以更换集成电路的有缺陷存储元件的方法，其中该集成电路包括备用存储元件，该方法包括：　　　　ａ）对集成电路的特定存储元件执行测试，以发现有缺陷存储元件；　　　　ｂ）选择一个或多个备用存储元件，以更换一个或多个有缺陷存储元件；　　　　ｃ）生成表示哪些备用存储元件已被选择来更换哪些有缺陷存储元件的二进制串，其中该串具有多位，该位数取决于有多少特定存储元件有缺陷；　　　　ｄ）确定在集成电路上有多少熔丝可用于提供该串的记录；以及　　　　ｅ）响应于该串的位数以及有多少熔丝可用，而将该串记录在多个熔丝中，其中响应于确定相对于串位数大于特定阈值数目的可用熔丝的可用性，而将该串记录在大于该...

【技术特征摘要】
US 2005-4-26 10/908,0331.一种用于对熔丝进行编程以更换集成电路的有缺陷存储元件的方法，其中该集成电路包括备用存储元件，该方法包括a)对集成电路的特定存储元件执行测试，以发现有缺陷存储元件；b)选择一个或多个备用存储元件，以更换一个或多个有缺陷存储元件；c)生成表示哪些备用存储元件已被选择来更换哪些有缺陷存储元件的二进制串，其中该串具有多位，该位数取决于有多少特定存储元件有缺陷；d)确定在集成电路上有多少熔丝可用于提供该串的记录；以及e)响应于该串的位数以及有多少熔丝可用，而将该串记录在多个熔丝中，其中响应于确定相对于串位数大于特定阈值数目的可用熔丝的可用性，而将该串记录在大于该阈值数目的熔丝中。2.如权利要求1所述的方法，其中响应于确定相对于串位数小于特定阈值数目的熔丝的可用性，在步骤e)中，将该串仅仅记录在该特定阈值数目的熔丝中。3.如权利要求1所述的方法，其中确定相对于串位数大于特定阈值数目的可用熔丝的可用性的步骤确定至少两倍于该串的位数的熔丝可用，并且其中在步骤e)中将二进制串的每位记录在两个熔丝中。4.如权利要求2所述的方法，其中确定相对于串位数小于特定阈值数目的熔丝的可用性的步骤确定比该串的位数的两倍少的熔丝可用，并且其中在步骤e)中将二进制串的每位记录在一个熔丝中。5.如权利要求1所述的方法，其中确定可用性的步骤确定存在至少两个熔丝可用于记录二进制串中的一位，并且其中在步骤e)中将这一位记录在两个熔丝中。6.如权利要求2所述的方法，其中确定可用性的步骤确定仅仅存在一个熔丝可用于二进制串中的一位，并且其中在步骤e)中将这一位记录在一个熔丝中。7.如权利要求1所述的方法，其中在步骤c)中生成的串是压缩二进制串，并且在步骤c)中生成的步骤包括压缩特定未压缩二进制串。8.如权利要求3所述的方法，其中步骤e)包括记录格式指示，并且其中该方法包括从熔丝读取所记录的串，其中对于特定格式，即使用于该串的位的两个熔丝中的仅仅一个具有特定状态，也将该位读作具有该特定状态。9.如权利要求3所述的方法，其中步骤e)包括记录格式指示，并且其中该方法包括从熔丝读取所记录的串，其中对于特定格式，即使用于该串的位的两个熔丝中的仅仅一个具有逻辑“1”状态，也将该位读作具有逻辑“1”状态。10.一种用于对熔丝进行编程以更换集成电路的有缺陷存储元件的方法，其中该集成电路包括备用存储元件，该方法包括a)对集成电路的特定存储元件执行测试，以发现有缺陷存储元件；b)选择一个或多个备用存储元件，以更换一个或多个有缺陷存储元件；c)生成表示哪些备用存储元件已被选择来更换哪些有缺陷存储元件的二进制串，其中该串具有多位，该位数取决于多少特定存储元件有缺陷；d)确定在集成电路上有多少熔丝可用于提供该串的记录；以及e)响应于该串中的位数以及有多少熔丝可用，而将该串记录在多个熔丝中，其中响应于确定至少两倍于该串的位数的熔丝可用，而记录格式指示以表示重复位格式，并将二进制串的每位记录在两个熔丝中，并且响应于确定小于该串的位数的两倍的熔丝可用，而记录格式指示以表示单个位格式，并将二进制串的每位记录在一个熔丝中；以及f)读取记录在熔丝中的串以及格式指示，其中如果表示单个位格式，则为该...

【专利技术属性】
技术研发人员：达伦L阿南德，迈克尔A齐格霍弗，迈克尔R奥莱特，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]