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测试集成电路存储器，以发现有缺陷存储元件。为了更换有缺陷存储元件，选择备用存储元件，并且生成串，来表示哪些备用存储元件更换哪些有缺陷存储元件。该串的位数取决于有多少存储元件有缺陷。虽然特定数目的存储元件有缺陷，其中该数目决定串位数，但是响应...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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