本发明专利技术提供一种在与进行记录同时地进行校正的实时校正中，对于提高记录、追踪、再现的精度有效的光信息记录装置和光拾取器装置。通过将由激光二极管输出的激光使用衍射光栅进行分岔，从而形成记录用光束点（２０Ａ）、再现用光束点（２０Ｄ）和（２０Ｅ）、以及追踪用光束点（２０Ｂ）和（２０Ｃ）。这样，通过各自独立地设置记录、再现、追踪用的光束点，从而一方面维持追踪的精度，一方面获得再现劣化少的信号。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光信息记录装置和光拾取器(pick-up)装置，特别涉及对实时的记录条件的校正有效的光信息记录装置和光拾取器装置。
技术介绍
对光盘等光信息记录介质的信息记录是通过以下动作来进行的，即以EFM(Eight to Fourteen Modulation)方式对记录数据进行调制，根据该调制信号形成记录脉冲，根据该记录脉冲控制激光的强度或照射定时，在光盘上形成记录坑。在此，记录坑的形成是利用因激光的照射而产生的热来进行的，因此，要求对记录脉冲的设定考虑蓄热效果和热干扰等。因此，以往按光盘的种类以策略(strategy)的形式对构成记录脉冲的各种参数的设定进行多个定义，从这些策略中选择最适于该记录环境的策略，对光盘进行记录。该策略不只依赖于例如光拾取器的点径偏差、机构精度偏差等光信息记录装置的个体差别，还依赖于用于记录再现的光盘的制造商类别和记录速度，因此设定最佳策略会提高记录品质。为此，人们提出了这样的方法，即求出与各制造商类别对应的光盘的最佳策略，将其与制造商类别对应地预先存储在存储器中，在对光盘进行信息记录时，读取记录在光盘上的光盘的制造商类别，从上述存储器中读出与该所读取的制造商类别对应的最佳策略并进行使用。但是，根据上述方法，虽然可以对预先存储在存储器中的制造商类别的光盘进行最佳记录，但是却不能对未存储在存储器中的制造商类别的光盘进行最佳记录，并且，即使是预先存储在存储器中的制造商类别的光盘，当记录速度不同时，也不能进行最佳记录。因此，如下述的专利文献1～专利文献4所示，提出了多个按记录条件预先进行测试记录，根据该测试记录确定最佳策略，从而能应对各种光盘的方法。日本特开平5-144001号公报[专利文献2]日本特开平4-137224号公报[专利文献3]日本特开平5-143999号公报[专利文献4]日本特开平7-235056号公报然而，上述专利文献1～4所示的方法，由于在开始信息记录前需要进行测试记录，因此无法在记录的同时校正策略，难以应对内外周的最佳条件不同的情况。作为解决该问题，即由于存在着光盘从内周部到外周部若干个记录特性有差异，记录装置一方也在内周部和外周部的记录速度不同的情况，因此记录品质产生内外差的问题的方法，以下的专利文献揭示了通过调整激光输出来缓解内外差的技术。日本特开昭53-050707号公报[专利文献6]日本特开2001-312822号公报在上述专利文献5和6中，公开了通过检测出辅助光束的光量变化，自动地进行激光输出的优化的方法，该种方法被称为OPC。上述这样的OPC，由于是调整功率的方法，能够通过不对称(asymmetry)值等统计上的指标求出校正条件，因此也可以实现一边记录一边进行校正的实时校正，但是，在校正脉冲宽度和脉冲的相位条件时，由于需要记录脉冲与在光盘上所形成的坑之间的偏移量，因此用以往的OPC难以进行应对。因此，为了进行脉冲条件的实时校正，就需要在记录的同时检测出坑的位置和长度的技术。作为解决这一问题的一个方法，在下述专利文献中公开了通过独立使用记录用光束和再现用光束，从而同时进行记录和再现的方法。日本特开平7-129956号公报[专利文献8]日本特开平9-147361号公报在上述专利文献7中，公开了一边用主光束进行记录，一边用辅助光束进行再现的方法，在专利文献8中，公开了一边用主光束进行记录，一边用辅助光束进行再现和追踪(tracking)的方法。但是，在专利文献7所公开的方法中，没有考虑对追踪的应对，此外，在专利文献8所公开的方法中，存在以下的问题，即由于以追踪为目的，使用配置于岸(Land)和沟槽(Groove)的边界上的光束来进行再现，因此在追踪时，容易产生再现信号的劣化。
技术实现思路
因此，本专利技术提供一种在与进行记录同时地进行记录条件的校正的实时校正中，对提高记录、追踪、再现的精度有效的方法。为了实现上述目的，本专利技术的第1方案提供一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于在上述记录用激光和再现用激光之外，将该追踪用激光照射在上述介质上，由此进行上述记录用激光和/或上述再现用激光的追踪。这样，通过独立地设置再现用激光和追踪用激光，即便进行追踪，也能够进行信号劣化少的再现。在此，作为要追踪的对象，有记录用激光和再现用激光，优选的是将这两者设为追踪的对象。另外，作为追踪的方法，可以使用众所周知的三光束法和差动推挽法中的任一者。此外，本专利技术的第2方案提供一种光信息记录装置，将一束激光分岔后生成记录用激光和再现用激光，通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，并且通过上述再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于将上述一束激光进一步分岔后生成追踪用激光，将该追踪用激光照射在上述介质上，由此进行上述一束激光的追踪。这样，通过在使用了分岔结构的情况下，追踪用的激光也通过分岔生成，将作为分岔源的一束激光作为追踪对象，能够在实质上进行记录用激光和再现用激光这两者的追踪。另外，作为构成追踪的基础的信息，可以使用记录用激光的反射光、再现用激光的反射光的任一者。在此，一束激光，设为包括作为在将由特定的光源照射的激光分成几个阶段进行了分岔时的基础的激光。即，设为也包括由某激光经过中间分岔步骤而生成记录用激光和再现用激光的情况的激光。此外，本专利技术的第3方案提供一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于通过照射上述记录用激光在上述介质上形成的记录用点，与通过照射上述再现用激光在上述介质上形成的再现用点之间的距离H，通过下式确定，即H≥Vx×T其中，T为形成上述坑所需要的时间，V为上述介质的线速度。这样，通过考虑坑形成时间，配置记录用点和再现用点，能够再现反映了记录环境的影响的最终状态的坑，因此可以进行更高精度的实时校正。另外，形成坑所需要的时间，在为色素型介质的情况下，优选的是考虑记录材料的热特性与记录条件之间的关系再进行确定，在为相变型介质的情况下，优选的是考虑无机材料的相变特性再进行确定，更优选的是通过预先测试多个种类的介质，从而预先按不同的坑长进行定义。此外，本专利技术的第4方案提供一种光拾取器装置，经由物镜、准直透镜、环形透镜，由第1和第2检波器，分别对被照射到光记录介质上的第1和第2光束点进行受光处理，该光拾取器装置的特征在于在进行以下设定的情况下，即将上述第1和第2光束点的光轴垂直方向的间隔设为Y1，将光轴水平方向的间隔设为X1，将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的间隔设为Ly，将光轴水平方向的间隔设为Lx，将上述物镜的焦距设为f1，将上述准直透镜的焦距设为f2，将上述环形透镜的垂直方向的焦距设为f3y，将上述环形透镜的水平方向的焦距设为f3x，将上述准直透镜与环形透镜的主点间距离设为d，将上述Y2和X2以下式定义，Y2＝[f1·f2·f3y/(f2+f3-d)]·Y1X2＝[f1·f2·f3x/(f2+f3-d)]·X1由此，在上述环形透镜为凸透镜并且f3y＞f3x时，上述Y2、X2、Ly、X2，以满足Y2＞Ly和X2＜Lx的条件构成。这样，在环形透镜为凸透镜时，将Y2＞Ly和X2＜Lx设本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于：在上述记录用激光和再现用激光之外，将该追踪用激光照射在上述介质上，由此进行上述记录用激光和／或上述再现用激光的追 踪。
【技术特征摘要】
JP 2004-7-6 199431/20041.一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于在上述记录用激光和再现用激光之外，将该追踪用激光照射在上述介质上，由此进行上述记录用激光和/或上述再现用激光的追踪。2.一种光信息记录装置，将一束激光分岔后生成记录用激光和再现用激光，通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，并且通过上述再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于将上述一束激光进一步分岔后生成追踪用激光，将该追踪用激光照射在上述介质上，由此进行上述一束激光的追踪。3.一种光信息记录装置，通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑，同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测，其特征在于通过照射上述记录用激光在上述介质上形成的记录用点，与通过照射上述再现用激光在上述介质上形成的再现用点之间的距离H，通过下式确定，即H≥V×T其中，T为形成上述坑所需要的时间，V为上述介质的线速度。4.一种光拾取器装置，经由物镜、准直透镜、环形透镜，由第1和第2检波器，分别对被照射到光记录介质上的第1和第2光束点进行受光处理，该光拾取器装置的特征在于在进行以下设定的情况下，即将上述第1和第2光束点的光轴垂直方向的间隔设为Y1，将光轴水平方向的间隔设为X1，将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的间隔设为Ly，将光轴水平方向的间隔设为Lx，将上述物镜的焦距设为f1，将上述准直透镜的焦距设为f2，将上述环形透镜的垂直方向的焦距设为f3y，将上述环形透镜的水平方向的焦距设为f3x，将上述准直透镜与环形透镜的主点间距离设为d，将上述Y2和X2以下式定义，Y2＝[f1·f2·f3y/(f2+f3-d)]·Y1X2＝[f1·f2·f3x/(f2+f3-d)]·X1由此，在上述环形透镜为凸透镜并且f3y＞f3x时，上述Y2、X2、Ly、X2，以满足Y2＞Ly和X2＜Lx的条件构成。5.根据权利要求4所述的光拾取器装置，其特征在于在将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的宽度设为Wy，光轴水平方向的宽度设为Wx时，上述Lx、Wx，以满足Lx≥Wx的条件构成。6.根据权利要求4所述的光拾取器装置，其特征在于在将光轴垂直方向设为Y轴，将光轴水平方向设为X轴，将光轴方向设为Z轴时，上述第1检波器的检测面和上述第2检波器的...
【专利技术属性】
技术研发人员：砂川隆一，小山胜弘，宫泽冬树，
申请(专利权)人：太阳诱电株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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