光拾取装置制造方法及图纸

在顺利抑制杂散光漏入传感器且即使传感器的位置偏移也可抑制检测信号的精确度劣化的光拾取装置中，未经分光元件衍射而直线前进的BD光(信号光和杂散光)的0级衍射光照射到4分割传感器C1。通过与轨道像的方向垂直的方向上排列的分光元件的衍射区域衍射的BD光(信号光)的+1级衍射光照射到传感器Ba1~Ba4。通过轨道像的方向上排列的分光元件的衍射区域衍射的BD光(信号光)的+1级衍射光照射到传感器Bs1~Bs4。照射区域A11~A18不与传感器Ba1~Ba4、Bs1~Bs4的边界线重叠，分布在对应传感器的中央附近。即使传感器Ba1~Ba4、Bs1~Bs4在X轴、Y轴方向上偏移也可抑制传感器的检测信号劣化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光拾取装置，特别适于在对层叠多个记录层而成的记录介质照射激光时使用。
技术介绍
近年来，随着光盘的大容量化，正在推进记录层的多层化。通过使一张盘内包含多个记录层，能够显著提高盘的数据容量。在层叠记录层时，以往较为普遍的是单面双层，但是最近为了进一步推进大容量化，单面配置三层以上记录层的盘也被实用化。在此，当使记录层的层叠数增加时，能够促进盘的大容量化。但是，另一方面，记录层之间的间隔变窄，层间串扰所弓I起的信号劣化增大。当使记录层多层化时，来自作为记录/再现对象的记录层(目标记录层)的反射光变微弱。因此，担心有如下问题当无用的反射光(杂散光)从位于目标记录层上下的记录层入射到光检测器时，检测信号劣化，从而对聚焦伺服和循迹伺服产生不良影响。因而，在像这样配置多个记录层的情况下，需要适当地去除杂散光以使来自光检测器的信号稳定。在下面的专利文献I中，示出了一种在配置了多个记录层的情况下能够适当地去除杂散光的光拾取装置的新结构。根据该结构，能够在光检测器的受光面上形成只有信号光存在的方形区域(信号光区域)。来自盘的反射光被照射到信号光区域的顶角附近。通过在信号光区域的顶角附近配置光检测器的传感器，能够抑制杂散光对检测信号的影响。专利文献1:日本特开2009-211770号公报
技术实现思路
_6] 专利技术要解决的问题在上述光拾取装置中，当由于经年劣化等而发生传感器的位置偏移时，会产生上述传感器的检测信号的精确度劣化的问题。本专利技术是鉴于这种问题而完成的，其目的在于提供一种能够顺利地抑制杂散光漏入传感器、并且即使发生传感器的位置偏移也能够抑制检测信号的精确度的劣化的光拾取装置_9] 用于解决问题的方案本专利技术的主要方式涉及一种光拾取装置。本方式所涉及的光拾取装置具备激光光源；物镜，其使从上述激光光源射出的激光会聚到记录介质上；像散元件，被上述记录介质反射的上述激光入射到该像散元件，并且，该像散元件使上述激光向第一方向会聚来形成第一焦线(焦線)，并且使上述激光向垂直于上述第一方向的第二方向会聚来形成第二焦线；光检测器，其接收通过了上述像散元件的上述激光；以及分光元件，被上述记录介质反射的上述激光入射到该分光元件，并且，该分光元件通过衍射作用将入射到两个第一区域和两个第二区域的上述激光分别引导至上述光检测器的受光面上的不同的四个位置，其中，上述光检测器具有配置于入射到上述两个第一区域和上述两个第二区域的激光被引导到的位置处的多个传感器、以及配置于未经上述分光元件衍射而直线前进的激光被引导到的位置处的第一 4分割传感器，在使与上述第一方向和上述第二方向分别平行且相交叉的两条直线的交点位于上述激光的光轴时，上述两个第一区域被配置在由上述两条直线作出的一组对顶角所排列的第三方向上，上述两个第二区域被配置在另一组对顶角所排列的第四方向上，上述两个第一区域分别在上述第四方向上被划分为两个第一分割区域，对上述第一分割区域的衍射作用进行调整，使得成对地入射到两个上述第一分割区域而发生衍射后的上述激光在上述光检测器上相离规定的间隙，上述两个第二区域分别在上述第三方向上被划分为两个第二分割区域，对上述第二分割区域的衍射作用进行调整，使得成对地入射到两个上述第二分割区域而发生衍射后的上述激光在上述光检测器上相离规定的间隙，接收入射到上述第一区域的激光的传感器包括独立地接收成对地入射到两个上述第一分割区域的激光的2分割传感器，接收入射到上述第二区域的激光的传感器包括独立地接收成对地入射到两个上述第二分割区域的激光的2分割传感器。专利技术的效果根据本专利技术，能够提供一种能够顺利地抑制杂散光漏入传感器、并且即使发生传感器的位置偏移也能够抑制检测信号的精确度的劣化的光拾取装置。通过下面示出的实施方式的说明来进一步明确本专利技术的效果乃至意义。但是，下面的实施方式只不过是实施本专利技术时的一个例示，本专利技术不受下面的实施方式的任何限制。附图说明图1是说明实施方式所涉及的技术原理(激光的会聚状态)的图，(a)表示激光的会聚状态，(b)表示变形透镜的结构。图2是说明实施方式所涉及的技术原理(光束区域的分布状态)的图，(a)表示光束分割图案，(b)表不信号光的分布状态，(C)表不杂散光I的分布状态，(d)表不杂散光2的分布状态。图3是说明实施方式所涉及的技术原理(信号光与杂散光的分布状态)的图，(a)表不光束区域fl的各光的分布，(b)表不光束区域f2的各光的分布，(C)表不光束区域f3的各光的分布，(d)表示光束区域f4的各光的分布。图4是说明实施方式所涉及的技术原理(只取出信号光的方法)的图，(a)表示对穿过各光束区域的激光的前进方向赋予的矢量，(b)表示面PO上的照射区域。图5是说明基于实施方式所涉及的技术原理的传感器和信号生成方法的图。图6是表示实施例1所涉及的光拾取装置的光学系统的图。图7是说明实施例1所涉及的分光元件的结构的图。图8是表示实施例1所涉及的光检测器的传感器布局的图和表示传感器的位置偏移后的状态的图。图9是表示实施例1所涉及的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的照射区域的示意图。图10是表示实施例1所涉及的衍射区域的台阶高度与衍射效率之间的关系的图和表示S型曲线的图。图11是说明实施例2所涉及的分光元件的结构的图。图12是表示实施例2所涉及的光检测器的传感器布局的图。图13是表示实施例2所涉及的0级衍射光、+1级衍射光、-1级衍射光的照射区域的示意图。图14是表示实施例2的比较例所涉及的分光元件的结构的图和表示照射区域的图。图15是表示实施例2的比较例所涉及的检测信号的仿真结果的图。图16是表示实施例2所涉及的检测信号的仿真结果的图。图17是表示实施例2所涉及的检测信号的仿真结果的图。图18是表示实施例2所涉及的检测信号和位置信号的仿真结果的图。图19是表示变更例I所涉及的分光元件的结构的图和表示照射区域的图。图20是表示变更例2所涉及的分光元件的结构的图和表示其它变更例所涉及的分光元件的结构的图。图21是表示变更例2所涉及的光检测器的传感器布局的图。附图标记说明1:光拾取装置；101 :半导体激光器(激光光源)；114 :BD物镜(物镜)；115 :变形透镜(像散元件)；116 :光检测器；Bal、a4、Bsl、s4 :传感器(2分割传感器);Bz 4分割传感器(第二 4分割传感器)；C1 -A分割传感器(第一 4分割传感器)；H1 H6 :分光兀件；Hll H14、H21 H24、H31 H34、H41 H44、H51 H54、H61 H64 :衍射区域(第二区域、第二分割区域)；H15 H18、H25 H28、H35 H38、H45 H48、H55 H58、H65 H68 :衍射区域(第一区域、第一分割区域);H29、H39、H49、H59、H69 :衍射区域(第三区域)。具体实施例方式下面，参照附图来说明本专利技术的实施方式。<技术原理>首先，参照图1至图5来说明应用于本实施方式的技术原理。图1的(a)、(b)是说明激光的会聚状态的图。图1的(a)是表示被目标记录层反射的激光(信号光)、被比目标记录层深的层反射的激光(杂散光I)、被比目标记录层浅的层反射的激光(杂散光2)的会聚状态的图。图1的(b)是表本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光拾取装置，其特征在于，具备：激光光源；物镜，其使从上述激光光源射出的激光会聚到记录介质上；像散元件，被上述记录介质反射的上述激光入射到该像散元件，并且，该像散元件使上述激光向第一方向会聚来形成第一焦线，并且使上述激光向垂直于上述第一方向的第二方向会聚来形成第二焦线；光检测器，其接收通过了上述像散元件的上述激光；以及分光元件，被上述记录介质反射的上述激光入射到该分光元件，并且，该分光元件通过衍射作用将入射到两个第一区域和两个第二区域的上述激光分别引导至上述光检测器的受光面上的不同的四个位置，其中，上述光检测器具有配置于入射到上述两个第一区域和上述两个第二区域的激光被引导到的位置处的多个传感器、以及配置于未经上述分光元件衍射而直线前进的激光被引导到的位置处的第一4分割传感器，在使与上述第一方向和上述第二方向分别平行且相交叉的两条直线的交点位于上述激光的光轴时，上述两个第一区域被配置在由上述两条直线作出的一组对顶角所排列的第三方向上，上述两个第二区域被配置在另一组对顶角所排列的第四方向上，上述两个第一区域分别在上述第四方向上被划分为两个第一分割区域，对上述第一分割区域的衍射作用进行调整，使得成对地入射到两个上述第一分割区域而发生衍射后的上述激光在上述光检测器上相离规定的间隙，上述两个第二区域分别在上述第三方向上被划分为两个第二分割区域，对上述第二分割区域的衍射作用进行调整，使得 成对地入射到两个上述第二分割区域而发生衍射后的上述激光在上述光检测器上相离规定的间隙，接收入射到上述第一区域的激光的传感器包括独立地接收成对地入射到两个上述第一分割区域的激光的2分割传感器，接收入射到上述第二区域的激光的传感器包括独立地接收成对地入射到两个上述第二分割区域的激光的2分割传感器。...

【技术特征摘要】
2011.09.30 JP 2011-2180751.一种光拾取装置，其特征在于，具备 激光光源； 物镜，其使从上述激光光源射出的激光会聚到记录介质上； 像散元件，被上述记录介质反射的上述激光入射到该像散元件，并且，该像散元件使上述激光向第一方向会聚来形成第一焦线，并且使上述激光向垂直于上述第一方向的第二方向会聚来形成第二焦线； 光检测器，其接收通过了上述像散元件的上述激光；以及 分光元件，被上述记录介质反射的上述激光入射到该分光元件，并且，该分光元件通过衍射作用将入射到两个第一区域和两个第二区域的上述激光分别引导至上述光检测器的受光面上的不同的四个位置， 其中，上述光检测器具有配置于入射到上述两个第一区域和上述两个第二区域的激光被引导到的位置处的多个传感器、以及配置于未经上述分光元件衍射而直线前进的激光被引导到的位置处的第一 4分割传感器， 在使与上述第一方向和上述第二方向分别平行且相交叉的两条直线的交点位于上述激光的光轴时，上述两个第一区域被配置在由上述两条直线作出的一组对顶角所排列的第三方向上，上述两个第二区域被配置在另一组对顶角所排列的第四方向上， 上述两个第一区域分别在上述第四方向上被划分为两个第一分割区域，对上述第一分割区域的衍射作用进行调整，使得成对地入射到两个上述第一分割区域而发生衍射后的上述激光在上述光检测器上相离规定的间隙， 上述两个第二区域分别在上述第三方向上被划分为两个第二分割区域，对上述第二分割区域的衍射作用进行调整，使得成对地入射到两个上述第二分割区域而发生衍射后的上述激光在上述光检测器上相离规定的间隙， 接收入射到上述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：尾形正人，
申请(专利权)人：三洋电机株式会社，三洋光学设计株式会社，
类型：发明
国别省市：