改进读信号特性的光学头制造技术

在一种可操作用于从光学记录介质读取和向光学记录介质记录的光学头中，由第一反射镜将由光发射元件发射的光束反射向光发射元件，并且由第二反射镜将该反射的光束反射向光学记录介质，并且将其聚焦到光学记录介质的记录表面上。在这种情况下，第一反射镜阻挡了从第二反射镜向光学记录介质传播的光束的主光线，并且第二反射镜包括以光束的主光线为中心的、并且彼此分离预定间隔的多个同心环形镜。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光学头，用于记录到光学记录介质、或从光学记录介质读取，光学记录介质例如CD、DVD或蓝光盘，更具体地，本专利技术涉及当读取已记录的信息时改进信号的特性。
技术介绍
光盘设备使用光学头将激光照射到光盘上，并且使用所反射的光读取信息。图1是示出了根据现有技术的光学头的典型结构的剖面图。光学头13配置有光接收元件1301、光发射元件1302、光栅透镜(gratinglens)1306和反射表面1305和1308。由光发射元件1302发射的激光在通过反射表面1305和1308之后，由光栅透镜1306聚焦到光盘1310的记录表面上。然后，在通过光栅透镜1306和反射表面1308之后，通过在反射表面1305上形成的光栅将所反射的光衍射并且导引到光接收元件1301。图1中的虚线1307表示衍射光。光接收元件1301根据衍射光1307的强度来输出电信号。光盘设备使用电信号以获得在光盘1310上记录的信息，并且控制光学头13的位置。该结构使能够减小光学头13的尺寸和重量。例如，在日本专利no.2,738,204和no.2,790,264中描述了根据现有技术的光学头13的结构。然而，近年来一直在寻求记录密度的进一步提高。在这个方面，利用根据现有技术的光学头，入射到光盘1310上的激光的中心部分将被反射表面1305阻挡。这影响了在光盘1310的记录表面上形成的束斑的光强分布。图2是示出了束斑的光强分布的曲线。如图2所示，束斑的光强分布14具有主瓣14a和旁瓣14b。当激光的中心部分被阻挡时，如在现有技术中那样，由于所谓的超分辨现象导致旁瓣14b的峰值相对于主瓣14a的峰值而增加，难以改进记录密度。
技术实现思路
考虑到以上问题，本专利技术的目的是提供一种减小束斑旁瓣的光学头。为了实现该目的，根据本专利技术的光学头可操作用于从光学记录介质读取和/或向光学记录介质记录，并且包括光发射元件，可操作用于发射光束；第一反射镜，适合于将光束反射向光发射元件；以及第二反射镜，适合于将由第一反射镜反射的光束反射向光学记录介质。在这种情况下，第一反射镜阻挡了从第二反射镜向光学记录介质传播的光束的主光线；第二反射镜包括以光束的主光线为中心的多个同心环形镜；以及同心环形镜彼此分离预定的间隔。该结构通过阻挡由光发射元件发射的光束的一部分，使能够减小束斑的旁瓣。因此，可以实现高记录密度。根据本专利技术的另外的光学头可操作用于从光学记录介质读取和/或向光学记录介质记录，并且包括光发射元件，可操作用于发射光束；第一反射镜，适合于将光束反射向光发射元件；第二反射镜，适合于将由第一反射镜反射的光束反射向光学记录介质；以及相位调节单元，适合于调节以预定角度入射到光学记录介质上的光束的相位。在这种情况下，第一反射镜阻挡了从第二反射镜向光学记录介质传播的光束的主光线，并且将相位调节单元设置在从第一反射镜到光学记录介质的光程上。该结构通过调节由光发射元件发射的光束的一部分的相位，使能够减小束斑的旁瓣。此外，相位调节单元可以是在第二反射镜中设置的凹入部分和凸出部分之一。该结构通过调节由光发射元件发射的光束的一部分的光程长度从而调节到达光盘的记录表面的光束的相位，使能够减小束斑的旁瓣。在这种情况下，如果凹入或凸出部分的高度D由以下等式表示D=λ4n,]]>其中，λ是由光发射元件发射的光束的波长，以及n是当入射到第二反射镜上时光束通过的物质的折射率，或者如果当在入射到第二反射镜上时光束通过的物质的折射率n近似等于1，凹入部分或凸出部分的高度D由以下等式表示D=λ4,]]>通过对由光发射元件发射的光束的一部分的相位进行颠倒，以将电场强度相对于其他分量进行偏移，可以减小束斑的旁瓣。此外，光学头还可以包括透镜表面，设置在从光发射元件到光学记录介质的光程上，并且适合于折射光束，并且相位调节元件可以是在透镜表面上设置的凹入部分和凸出部分之一。该结构通过调节由光发射元件发射的光束的一部分的相位，使能够减小束斑的旁瓣。在这种情况下，如果凹入部分或凸出部分的高度D由以下等式表示D=λ2(n1-n0),]]>其中，λ是由光发射元件发射的光束的波长，n0是入射到透镜表面上之前光束通过的物质的折射率，以及n1是入射到透镜表面上之后光束通过的物质的折射率，通过对由光发射元件发射的光束的一部分的相位进行颠倒，以相对于其他分量对电场强度进行偏移，可以减小束斑的旁瓣。此外，根据本专利技术的光学头可操作用于从光学记录介质读取和/或向光学记录介质记录，并且包括光发射元件，可操作用于发射光束；聚焦元件，是光轴与光束的主光线实质重合的凸透镜，以及其中，面向光发射元件的表面的中央部分是透射衍射光栅，并且面向光学记录介质的表面的中央部分是第一反射镜，适合于将光束反射向光发射元件；第二反射镜，适合于将经由透射衍射光栅由第一反射镜反射的光束反射向聚焦元件；以及光接收元件，适合于接收从光学记录介质反射的光束中由透射衍射光栅衍射的一阶衍射光。在这种情况下，第二反射镜包括多个同心环形平面镜，所述平面镜彼此分离，并且所述平面镜之间的反射率小于所述平面镜的反射率。该结构通过阻挡由光发射元件发射的光束的一部分，使能够减小束斑的旁瓣。根据本专利技术的另外的光学头可操作用于从光学记录介质读取和/或向光学记录介质记录，并且包括光发射元件，可操作用于发射光束；聚焦元件，是光轴与光束的主光线实质重合的凸透镜，以及其中，面向光发射元件的表面的中央部分是透射衍射光栅，并且面向光学记录介质的表面的中央部分是第一反射镜，适合于将光束反射向光发射元件；第二反射镜，适合于将经由透射衍射光栅由第一反射镜反射的光束反射向聚焦元件；以及光接收元件，适合于接收从光学记录介质反射的光束中由透射衍射光栅衍射的一阶衍射光。在这种情况下，以凸透镜的光轴为中心的第二反射镜的环形部分与第二反射镜的其他部分相比，是沿光轴方向提高或压低的形式之一。根据本专利技术的另一个光学头可操作用于从光学记录介质读取和/或向光学记录介质记录，并且包括光发射元件，可操作用于发射光束；聚焦元件，是光轴与光束的主光线实质重合的凸透镜，以及其中，面向光发射元件的表面的中央部分是透射衍射光栅，并且面向光学记录介质的表面的中央部分是第一反射镜，适合于将光束反射向光发射元件；第二反射镜，适合于将经由透射衍射光栅由第一反射镜反射的光束反射向聚焦元件；以及光接收元件，适合于接收从光学记录介质反射的光束中由透射衍射光栅衍射的一阶衍射光。在这种情况下，以凸透镜的光轴为中心的聚焦元件的透镜表面的环形部分由相对于透镜表面的其他部分不同的透镜函数来表示。根据本专利技术的另外的光学头可操作用于从光学记录介质读取和/或向光学记录介质记录，并且包括光发射元件，可操作用于发射光束；聚焦元件，是光轴与光束的主光线实质重合的凸透镜，以及其中，面向光发射元件的表面的中央部分是透射衍射光栅，并且面向光发射元件的表面中除透射衍射光栅之外的部分是凹面镜，并且面向光学记录介质的表面的中央部分是第一反射镜，适合于将光束反射向光发射元件；以及光接收元件，适合于接收从光学记录介质反射的光束中由透射衍射光栅衍射的一阶衍射光。在这种情况下，以凸透镜的光轴为中心的凹面本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学头，可操作用于从光学记录介质读取和／或向光学记录介质记录，所述光学头包括：光发射元件，可操作用于发射光束；第一反射镜，适合于将所述光束反射向所述光发射元件；以及第二反射镜，适合于将由所述第一反射镜反射的光束反 射向所述光学记录介质，其中，所述第一反射镜阻挡了从所述第二反射镜向所述光学记录介质传播的光束的主光线；所述第二反射镜包括以所述光束的主光线为中心的多个同心环形镜；以及所述同心环形镜彼此分离预定的间隔。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2004-12-1 349145/20041.一种光学头，可操作用于从光学记录介质读取和/或向光学记录介质记录，所述光学头包括光发射元件，可操作用于发射光束；第一反射镜，适合于将所述光束反射向所述光发射元件；以及第二反射镜，适合于将由所述第一反射镜反射的光束反射向所述光学记录介质，其中，所述第一反射镜阻挡了从所述第二反射镜向所述光学记录介质传播的光束的主光线；所述第二反射镜包括以所述光束的主光线为中心的多个同心环形镜；以及所述同心环形镜彼此分离预定的间隔。2.一种光学头，可操作用于从光学记录介质读取和/或向光学记录介质记录，所述光学头包括光发射元件，可操作用于发射光束；第一反射镜，适合于将所述光束反射向所述光发射元件；第二反射镜，适合于将由所述第一反射镜反射的光束反射向所述光学记录介质；以及相位调节单元，适合于调节以预定角度入射到所述光学记录介质上的光束的相位，其中，所述第一反射镜阻挡了从所述第二反射镜向所述光学记录介质传播的光束的主光线；以及将所述相位调节单元设置在从所述第一反射镜到所述光学记录介质的光程上。3.根据权利要求2所述的光学头，其中，所述相位调节单元是在所述第二反射镜中设置的凹入部分和凸出部分之一。4.根据权利要求3所述的光学头，其中，所述凹入部分或凸出部分的高度D由以下等式表示D=λ4n,]]>其中，λ是由所述光发射元件发射的光束的波长，以及n是当入射到所述第二反射镜上时所述光束通过的物质的折射率。5.根据权利要求4所述的光学头，其中，当入射到所述第二反射镜上时所述光束通过的物质的折射率n近似等于1，所述凹入部分或凸出部分的高度D由以下等式表示D=λ4.]]>6.根据权利要求2所述的光学头，其中，还包括透镜表面，设置在从所述光发射元件到所述光学记录介质的光程上，并且适合于折射所述光束，其中，所述相位调节元件是在所述透镜表面上设置的凹入部分和凸出部分之一。7.根据权利要求6所述的光学头，其中，所述凹入部分或凸出部分的高度D由以下等式表示D=λ2(n1-n0),]]>其中，λ是由所述光发射元件发射的光束的波长，n0是在入射到所述透镜表面上之前所述光束通过的物质的折射率，以及n1是在入射到所述透镜表面上之后所述光束通过的物质的折射率。8.一种光学头，可操作用于从光学记录介质读取和/或向光学记录介质记录，所述光学头包括光发射元件，可操作用于发射光束；聚焦元件，是光轴与所述光束的主光线实质重合的凸透镜，以及其中，面向所述光发射元件的表面的中央部分是透射衍射光栅，并且面向...

【专利技术属性】
技术研发人员：小野泽和利，山中一彦，东条友昭，奥田拓也，井岛新一，久保淳一，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，纳卢克斯株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]