微粒特性的光学探测制造技术

本发明专利技术描述了一种探测气流中的微粒的方法。所述方法包括接收表示以多个波长从气流散射的光的强度的信号，并且处理表示以波长中的每一个接收的光的强度的信号和对应的波长依赖参数，以产生表示气流中的微粒的至少一个特性的输出信号。本发明专利技术还描述微粒探测系统。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及光学的微粒探测。在一个形式中，本专利技术涉及光学烟雾探测器，光学烟雾探测器使用电磁辐射的多个波长，以便能够进行一系列尺寸的微粒探测。在优选的形式中，本专利技术将被描述为使用光的4个波长而执行微粒探测，然而不应当考虑本专利技术被限制为这种典型的应用或执行。
技术介绍
已经公知探测空气中的微粒的多种方法。一种方法包括将光束投射穿过探测室 (探测室中包含空气样品)，并且测量以特定散射角从光束散射的光量。这样的微粒探测器可以是吸气式的，因为其将空气主动吸入其中，或者可选择地，其可以依靠自然的空气流， 以使空气移动进入探测室中。公知的是，微粒的角散射特性取决于与微粒尺寸相比的入射光的波长。因此，烟雾和微粒的探测器已经使用多个散射角和/或多个波长而被制造，以探测关注的预定尺寸的微粒。例如，紫外光被小微粒(例如烟雾)相对强地散射，而红外光被这样的微粒散射较少。另一方面，紫外和红外光对于接收的光强的变化同样敏感，接收的光强的变化由一些因素引起，例如系统的漂移、系统光学器件的污染或者将大微粒(例如灰尘)引入探测室。具有这样的多波长或多散射角的微粒探测系统，需要能够准确地确定以多个散射角本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种探测气流中的微粒的方法，包括：接收表示以多个波长从气流散射的光的强度的信号；处理表示以所述波长中的每一个接收的光的强度的信号和对应的波长依赖参数，以产生表示气流中的微粒的至少一个特性的输出信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：布赖恩·亚历山大，
申请(专利权)人：爱克斯崔里斯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：BS