评价透明基体的光学特性的方法技术

本发明专利技术是一种评价配置在显示装置上的透明基体的光学特性的方法，其特征在于，从透明基体的定量化了的析像度指标值(T)、定量化了的反射像扩散性指标值(R)、及定量化了的眩光指标值中选择2个，来评价所述透明基体的光学特性。根据本发明专利技术，与目的、用途相对应，能够适当选定透明基体和对其进行施工的防眩处理。本发明专利技术中，例如能够利用于在LCD装置、OLED装置、PDP装置、及平板型显示装置的各种显示装置设置的透明基体的光学特性评价中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及。
技术介绍
通常，在IXD (Liquid Crystal Display)装置等显示装置上，为了该显示装置的保护而配置由透明基体构成的罩。然而，在显示装置上设置这样的透明基体的情况下，在要经由透明基体来观察显示装置的显示画面时，经常发生虽然放置于周边但会映入的情况。当透明基体产生这样的映入时，显示画面的观察者难以观察显示画面，而且接受到不愉快的印象。因此，为了抑制这样的映入，采用例如对透明基体的表面实施形成凹凸形状的防眩处理的方法等。需要说明的是，在专利文献I中公开了使用特殊的装置来评价向显示装置的映入的方法。在先技术文献专利文献专利文献1:日本特开2007-147343号公报
技术实现思路
【专利技术要解决的课题】如前述那样，在专利文献I中公开了使用特殊的装置来评价向显示装置的映入的方法。然而，透明基体要求的光学特性并不仅局限于映入的减少。即，透明基体根据用途而要求析像度、反射像扩散性、及眩光等各种光学特性。因此，在选定透明基体时，仅考虑任I个光学特性的话并不充分，经常需要同时考虑多个光学特性。在此所述的析像度在通过透明基体而观察显示图像时，表示得到与显示图像何种程度一致的像。而且，反射像扩散性表示放置在透明基体的周边的物体(例如照明)的反射像与原来的物体何种程度一致。此外，眩光表示来自显示图像的光(像)透过透明基体时因透明基体表面而散射，由于散射了的光相互干涉而产生的亮点的不均观察到何种程度。另一方面，透明基体要求的光学特性中，经常存在处于权衡的关系的特性。例如，通常提高反射像扩散性时，对透明基体的表面实施防眩处理。然而，在实施这样的防眩处理的情况下，透明基体的析像度处于下降的倾向。这样，若要基于多个光学特性而对透明基体实施防眩处理时，有时难以选定适当的防眩处理。本专利技术鉴于这样的背景而作出，其目的在于提供一种在本专利技术中，根据目的、用途等，能够适当地选定透明基体和对该透明基体进行施工的防眩处理的。【用于解决课题的方案】在本专利技术中，提供一种，所述透明基体配置在显示装置上，其特征在于，从透明基体的定量化的析像度指标值、定量化的反射像扩散性指标值、及定量化的眩光指标值中选择2个，来评价所述透明基体的光学特性。在此，在本专利技术的方法中，所述选择的指标值的组可以是所述析像度指标值和所述反射像扩散性指标值的组、所述眩光指标值和所述反射像扩散性指标值的组、或者所述析像度指标值和所述眩光指标值的组。另外，在本专利技术的方法中，所述定量化的析像度指标值可以通过如下步骤得到:从具有第一及第二表面的透明基体的所述第二表面侧沿着与所述透明基体的厚度方向平行的方向照射第一光，测定从所述第一表面沿着与所述透明基体的厚度方向平行的方向透射的透射光(称为0°透射光)的亮度的步骤；使所述第一光的相对于所述透明基体的第一表面的受光角度在-90°?+90°的范围内变化，测定从所述第一表面侧透射的全部透射光的亮度的步骤；及根据以下的式(I)来推算析像度指标值T的步骤，析像度指标值T =(全部透射光的亮度-0°透射光的亮度)/ (全部透射光的亮度)式(I)。另外，在本专利技术的方法中，所述定量化的反射像扩散性指标值通过如下步骤得到:从具有第一及第二表面的透明基体的所述第一表面侧沿着相对于所述透明基体的厚度成45°的方向照射第二光，测定由所述第一表面反射的45°正反射光的亮度的步骤；使由所述第一表面反射的反射光的受光角度在0°?+90° °的范围内变化，测定由所述第一表面反射的全部反射光的亮度的步骤；及根据以下的式(2)来推算反射像扩散性指标值R的步骤，反射像扩散性指标值R =(全部反射光的亮度-45°正反射光的亮度)/ (全部反射光的亮度)式(2)。另外，在本专利技术的方法中，所述析像度指标值及/或反射像扩散性指标值可以使用变角光度计来取得。另外，在本专利技术的方法中，所述定量化的眩光指标值通过如下步骤得到:(a)将具有第一及第二表面的透明基体配置在显示装置上的步骤，且为所述透明基体以使第二表面位于所述显示装置侧的方式配置在该显示装置上的步骤；(b)从所述第一表面侧拍摄所述透明基体，并取得图像的步骤；及(c)选择所述数字图像的一部分作为解析区域，将所述解析区域分割成由多个像素构成的多个区域，求出所述各区域内的最大亮度值和最大亮度倾斜，使用根据所述解析区域的所述最大亮度值和所述最大亮度倾斜各自的变动而算出的指标值，对所述透明基体的眩光进行定量化的步骤。另外，在本专利技术的方法中，所述显示装置可以是选自由LCD装置、OLED装置、PDP装置及平板型显示装置构成的组中的一个装置。另外，在本专利技术的方法中，所述透明基体可以由钠钙玻璃或铝硅玻璃构成。这种情况下，所述透明基体的第一及第二表面中的至少一方可以被进行化学强化处理。另外，在本专利技术的方法中，所述透明基体的所述第一或第二、或者两方的表面被进行防眩处理。这种情况下，所述防眩处理可以通过对所述透明基体的第一表面应用选自由磨砂处理、蚀刻处理、喷砂处理、抛光处理、或硅涂层处理构成的组中的至少一个处理方法来实施。【专利技术效果】在本专利技术中，能够提供一种根据目的、用途等而可适当地选定透明基体的。【附图说明】图1是概略性地表示本专利技术的一实施例的取得透明基体的析像度指标值的方法的流程的图。图2是示意性地表示取得析像度指标值时使用的测定装置的一例的图。图3是概略性地表示本专利技术的一实施例的取得透明基体的反射像扩散性指标值的方法的流程的图。图4是示意性地表示取得反射像扩散性指标值时使用的测定装置的一例的图。图5是概略性地表示本专利技术的一实施例的取得透明基体的眩光指标值的方法的流程的图。图6是标绘了在各种透明基体中得到的析像度指标值T(横轴)与反射像扩散性指标值R (纵轴)的关系的一例的图。图7是标绘了在各种透明基体中得到的眩光指标值(横轴)与反射像扩散性指标值R (纵轴)的关系的一例的图。图8是标绘了在各种透明基体中得到的析像度指标值T(横轴)与眩光指标值S (纵轴)的关系的一例的图。图9是表示在各透明基体中得到的、基于目视的析像度等级的判定结果(纵轴)与析像度指标值T(横轴)之间的关系的一例的坐标图。图10是将具有等级I?等级12的各自的反射像扩散性的透明基体汇总表示的图。图11是表示在各透明基体中得到的、基于目视的反射像扩散性的等级(纵轴)与反射像扩散性指标值R(横轴)之间的关系的一例的坐标图。图12是表示等级O及等级7的各自的眩光的透明基体的图。图13是表示在各透明基体中得到的、眩光指标值(纵轴)与基于目视的眩光的等级(横轴)之间的关系的一例的坐标图。【具体实施方式】以下，详细说明本专利技术。在本专利技术中，提供一种评价配置在显示装置上的透明基体的光学特性的方法，其特征在于，从透明基体的定量化了的析像度指标值、定量化了的反射像扩散性指标值、及定量化了的眩光指标值之中选择2个，评价所述透明基体的光学特性。如前所述，配置在显示装置的表面的透明基体要求析像度、反射像扩散性及眩光防止性等各种光学特性。因此，在选定透明基体时，仅考虑单一的光学特性的话经常存在不充分的情况。相对于此，在本专利技术中，从析像度指标值、反射像扩散性指标值及眩光指标值之中选择2个，评价透明基体的光学特性。在这样的方法中，考虑2个光学特性，能够选定透明基本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种评价透明基体的光学特性的方法，所述透明基体配置在显示装置上，其特征在于，从透明基体的定量化的析像度指标值、定量化的反射像扩散性指标值、及定量化的眩光指标值中选择2个，来评价所述透明基体的光学特性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：玉田稔，小林裕介，妹尾具展，
申请(专利权)人：旭硝子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP