电子元件设计、采购和制造协作制造技术

设计电子元件（１２００）包括：从设计者接收器件标准（例如参数值、采购值等）（１２０２）；在数据库查询对应于该器件标准的器件（１２０４）；在数据库查询与相应的器件相关的采购数据和／或工程数据（１２０６）；基于采购数据将器件呈现给设计者（１２０８）；以及从设计者接收将所呈现的器件中的一个识别为选定器件的输入（１２１０）。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术通常涉及一种电子元件的设计和制造，以及更具体地说，涉及一种能够在元件的设计阶段集成设计和采购(procurement)分析的示意图设计(schematic design)工具。
技术介绍
计算机辅助设计(CAD)系统非常公知并且广泛用在电子电路的设计中。已知系统允许设计者将对象输入电子制图文件中并连接对象以便“画出”正在设计的电路。尽管一些CAD系统显得非常复杂，并且向设计者提供大量制图工具，但这些程序基本上仅是制图工具。制图文件中的对象仅是弧、圆、线条等等。尽管能组合弧、圆和线条来提供对象的外观(例如，晶体管符号、器件组件、文字标签等等)，对象仍然仅是弧、圆、线条等等的组合。CAD程序不能将对象识别为具有任何实际物理特性的实体(例如，器件类型、功能等等)。图1示例说明从构思电子元件到制造电子元件的传统方法。在初始的构思阶段102中，考虑电子元件的总体结构、目的和功能等等。然后，在示意图设计阶段104，设计者将构思变为示意图。如上所述，示意图是简单的电路图，具有表示各种电子器件的符号(电阻器、晶体管、电容器等等)。然后，在第三阶段106中，将示意图发送给印刷电路板(PCB)设计者，为该电子元件设计一个或多个PCB。PCB设计阶段106非常耗时，要求设计者识别图中的每个器件、组合用于每个器件的工程数据(器件类型、值、组装、占位面积(footprint)等等)、识别图中器件的互连性，然后布局PCB。接着，在第四步骤108中制作PCB。在第五阶段110，还将示意图的副本传送到产品引进中心(PIC，ProductIntroduction Center)，在这里，购买构造电子元件所需的电子器件。为了减少元件上市的时间，PCB设计阶段106和PIC购买阶段110通常同时发生。在一些情况下，对PIC来说需要选择和/或替换设计中的电子器件。结果是PCB制作所使用的设计可能与PIC所使用的设计稍微不同。接着，在第六阶段112中，组装原型，并且该设计经受DFx分析(例如，可制造性设计、可测试性设计、制作设计、采购设计、可靠性设计和质量设计等等)。如果DFx分析的结果不满意，那么将元件设计返回到设计阶段104以便补救一些发觉的缺陷。通常，在可以大批量制造之前，设计将经历几次反复。一旦在原型和DFx阶段112中发现元件设计可接受，将设计转交到大批量工厂，在这里，在第七阶段114中，建立用于元件器件的供应链，并执行附加DFx分析。进行任何所需的设计修正，以及修正后的设计被转交到大批量采购阶段116，在这里，获得制造所设计的元件所需的电子器件。最后，在第九阶段118中制造所述元件。注意，存在从大批量采购阶段116和制造阶段118到供应链建立阶段114的反馈，以便微调供应链。然而，注意没有从阶段114、116或118中的任何一个到示意图设计阶段104的任何反馈。因此，如果新的设计修正从示意图设计阶段104流入制造阶段118，在阶段114中校正的任何设计误差将会再发生。总的来说，在初始设计阶段中的多次重新设计以及由缺少从制造到设计的反馈导致的重复设计误差均使得增加上市的时间并增加设计成本。因此，所需要的是一种用于设计电子元件的系统和方法，减少采购处理所需的重复设计次数。还需要一种减少引入到设计至制造流的设计误差的次数的系统和方法。还需要一种便于容易地注释(annotation)设计变化的系统和方法。
技术实现思路
本专利技术通过提供一种用于集成电子元件设计工具与业务规则过滤器和设计分析处理的系统和方法，克服了与现有技术相关的问题。本专利技术的一个方面便于利用从采购观点来说优选的器件来设计元件，因此减少了基于设计变化的后续采购的需要。本专利技术的另一方面便于在设计阶段实现可制造性和/或模型测试，从而减少了基于后续制造的设计变化的需要。用于设计电子元件的方法包括从设计者接收器件标准(例如参数值、采购值等等)；在数据库查询对应于搜索标准的器件；在数据库查询与相应器件相关的采购数据和/或工程数据；基于采购数据，将器件提交给设计者；以及从将所提交的器件的一个识别为选定器件的设计者接收输入。在特定方法中，基于一个或多个采购值(例如制造商、价格、可利用性、制造商状态等等)排序所返回的器件，并按有序列表提交给设计者。然后，将表示选定器件的对象输入到设计文件中，以及将对象与器件的工程和/或采购数据相关联。在特定实施例中，通过将工程数据嵌入文件对象中，将对象与工程数据相关联。可选地，可以通过至数据库的链接将数据与对象相关联。能够与设计文件对象相关联的工程数据的类型包括但不限于器件占位面积数据、器件引脚输出网表数据、器件物理尺寸数据、参数数据和封装数据。另外，可以由设计者将连接数据和注释数据输入到设计文件对象中。将采购和/或工程数据与设计文件对象相关联便于执行操作和可制造性测试。在一种方法中，检索设计规则并对设计文件运行测试。设计测试运行的类型包括但不限于可制造性设计、可测试性设计、制作设计、采购设计、可靠性设计和质量设计。另外，可以对设计文件运行预测模拟测试，因为文件对象与参数数据相关联。另外，可以运行设计的采购测试，因为文件对象与采购数据相关联。根据特定测试的性质和设计者的喜好，当将器件置于设计文件中或当完成设计时，可以运行上述测试。通过更新设计规则，可以从制造处理向设计阶段提供反馈。类似地，通过更新数据库中的采购数据，可以从采购部门向设计者提供反馈。相信这种反馈在现有技术中并不公知。在另一特定方法中，生成设计后报告，这在后续制造处理中很有用。这种报告的例子包括但不限于网表(定义器件互连)以及材料清单(BOM)。还公开了计算机可读介质，具有嵌入其中的、用于使计算机便于执行本专利技术的方法的代码。还描述了一种用于设计电子元件的系统。该系统包括用于从设计者接收数据和命令的设计者接口，以及示意图设计工具。示意图设计工具响应从设计者接收的器件标准(例如参数数据)，并用于在数据库中查询满足器件标准的器件和与器件相关联的采购数据，以及基于采购数据，将器件提交给设计者。然后，设计工具用于从设计者接收表示选择了一种所显示的器件的输入，将表示所选定器件的对象插入设计文件中，以及将采购数据与文件对象相关联。与器件相关的工程数据还与文件对象相关联。特定的实施例进一步包括材料清单发生器，用于根据与设计文件中的对象相关联的采购和/或工程数据生成材料清单。另一个特定的实施例包括网表发生器，用于根据与设计文件中的对象相关联的工程数据生成网表。另一个实施例包括用于对设计文件执行设计分析的设计分析器(DFx、预测模拟等等)。还公开了用于将数据存储在零件数据库中的创新数据结构。还公开了用于将采购和/或工程数据与设计文件中的对象相关联的创新数据结构。还公开了用于从构思阶段至制造处理和通过制造处理获得电子元件的创新业务方法。附图说明参考下述附图来描述本专利技术，其中，相同的标记基本上表示类似的元件图1示例说明从构思到制造获得电子元件的现有技术方法；图2示例说明根据本专利技术的一个实施例，从构思到制造获得电子元件的方法；图3是示例说明在元件的设计阶段，采购和设计分析的集成的关系图；图4是示出工程和采购数据至设计者桌面的流向的框图；图5是示出用于图4中所示的供应链数据的示例性数据结构的图；图6是示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于设计电子元件的方法，所述方法包括：从设计者接收参数值；在数据库中查询对应于所述参数值的器件；在所述数据库中查询与所述器件相关的采购数据；基于所述采购数据，将所述器件呈现给所述设计者；以及从所述 设计者接收将所述器件中的一个识别为选定器件的输入。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：尼古拉斯E布拉思韦特，拉姆G博马肯蒂，维斯瓦努撒恩加纳帕西，保罗N伯恩斯，道格拉斯E马多克斯，迈克尔A德坎，
申请(专利权)人：弗莱克斯特罗尼克斯美国国际公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]