适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构制造技术

本实用新型专利技术公开一种适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构，包括插座面板、插头和线束，插座面板固定在处理器背板上，插头与插座面板插接，在插座面板的两侧设置有若干定位凹槽，线束通过压接套固定在插头上，在插头下表面设置有与定位凹槽位置对应的定位柱。本实用新型专利技术在进行接口安装时，先进行快速的定位，使插头和插座面板进行全完契合，然后拧紧螺丝即可；本实用新型专利技术的插头的出线口开口向下，使线束的出线方向垂直向下，不会发生折弯和松动现象，且设置的压接套牢固的将线束固定在插头上，不容易产生松动，从而不影响数据传输。从而不影响数据传输。从而不影响数据传输。

【技术实现步骤摘要】
适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构


[0001]本技术属于半导体测试
，具体涉及一种适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构。

技术介绍

[0002]在半导体测试领域广泛使用P&P Handler设备，例如EPSON NS8000系列集成电路测试处理器，NS8000系列普遍使用通用接口总线(General
‑
Purpose Interface Bus，GPIB)进行通讯，该系列Handler GPIB接口接线后线束3会向下弯曲，接口处拉的比较紧，一段时间后接口处会有松动影响通讯，GPIB线长期拉紧并弯曲会导致使用寿命降低，且在安装时需要固定4个螺丝，使插头和面板准确插接，若定位不准，容易损坏接口的插针。

技术实现思路

[0003]本技术解决的技术问题：GPIB接口接线后线束3会向下弯曲，接口处拉紧受力，容易产生松动影响通讯，GPIB线长期拉紧并弯曲导致使用寿命降低，安装时定位不准，容易损坏接口的插针。
[0004]技术方案：为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案如下：
[0005]一种适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构，包括插座面板、插头和线束，所述插座面板固定在处理器背板上，所述插头与插座面板插接，在所述插座面板的两侧设置有若干定位凹槽，所述线束通过一压接套固定在插头上，在所述插头下表面设置有与定位凹槽位置对应的定位柱。
[0006]作为优选，所述插头的出线口开口向下，使线束的出线方向垂直向下。
[0007]作为优选，所述压接套与出线口螺纹连接，在所述压接套上设置有供线束通过的通孔。
[0008]作为优选，所述出线口设置有内螺纹，所述压接套设置有外螺纹。
[0009]作为优选，在所述通孔内设置有橡胶圈。
[0010]作为优选，所述定位凹槽为铁制成的槽口，所述定位柱为磁铁制成，所述定位柱插入定位凹槽内。
[0011]作为优选，所述定位凹槽的开口处置为喇叭口形状。
[0012]作为优选，在所述插座面板的四角设置有螺纹孔，在所述插座面板的四角设置有螺丝安装孔。
[0013]有益效果：与现有技术相比，本技术具有以下优点：
[0014]本技术的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构，在进行接口安装时，先进行快速的定位，使插头和插座面板进行全完契合，然后拧紧螺丝即可；本技术的插头的出线口开口向下，使线束的出线方向垂直向下，不会发生折弯和松动现象，且设置的压接套牢固的将线束固定在插头上，不容易产生松动，从而不影响数据传输。
附图说明
[0015]图1是本技术的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构处理器面板和插座面板示意图；
[0016]图2是本技术的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构插头的主视图；
[0017]图3是本技术的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构插头的侧视图；
[0018]图4是本技术的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构压接套的结构示意图。
具体实施方式
[0019]下面结合具体实施例，进一步阐明本专利技术，实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行实施，应理解这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围。
[0020]如图1
‑
4所示，一种适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构，包括插座面板1、插头2和线束3，插座面板1通过螺丝固定在处理器背板4上，插头2与插座面板1插接，在插座面板1的两侧设置有若干定位凹槽5，线束3通过一压接套6固定在插头2上，在插头2下表面设置有与定位凹槽5位置对应的定位柱7。
[0021]插头2的出线口8开口向下，能使使线束3的出线方向垂直向下。出线口8设置有内螺纹，压接套6设置有外螺纹。压接套6与出线口8螺纹连接，在压接套6上设置有供线束3通过的通孔9。在通孔9内设置有橡胶圈10，增加线束与压接套之间的摩擦力，使线束3固定更加牢固，不易旋转和滑落，同时起到保护线束表面的作用，
[0022]定位凹槽5为铁制成的槽口，定位柱7为磁铁制成，定位柱7插入定位凹槽5内，由于磁吸的作用，定位柱7自动靠近定位槽，可进行快速定位，定位凹槽5的开口处置为喇叭口形状，定位柱7末端设置弧形倒角，便于定位柱7插入。定位凹槽5和定位柱7的数量分别设置有4个，两两分布在插头的两侧，或者定位凹槽5和定位柱7的数量分别设置有3个，三者成三角分布，也可进行快速定位。
[0023]在插座面板1的四角设置有螺纹孔11，在插座面板1的四角设置有螺丝安装孔12。定位后，利用螺丝穿过螺丝安装孔12与螺纹孔拧紧连接即可。
[0024]以上仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构，其特征在于：包括插座面板(1)、插头(2)和线束(3)，所述插座面板(1)固定在处理器背板(4)上，所述插头(2)与插座面板(1)插接，在所述插座面板(1)的两侧设置有若干定位凹槽(5)，所述线束(3)通过一压接套(6)固定在插头(2)上，在所述插头(2)下表面设置有与定位凹槽(5)位置对应的定位柱(7)。2.根据权利要求1所述的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构，其特征在于：所述插头(2)的出线口(8)开口向下，使线束(3)的出线方向垂直向下。3.根据权利要求2所述的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构，其特征在于：所述压接套(6)与出线口(8)螺纹连接，在所述压接套(6)上设置有供线束(3)通过的通孔(9)。4.根据权利要求3所述的适用于IC...

【专利技术属性】
技术研发人员：王锐，杨小龙，
申请(专利权)人：上海旻艾半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：