交错式探针卡及导电探针制造技术

本发明专利技术公开一种交错式探针卡及导电探针，所述交错式探针卡包含间隔地设置的上导板与下导板及排成多列且穿过上导板与下导板的多个导电探针。每个导电探针呈长形且定义有长度方向。每个导电探针包含有底面与分别相连于底面两个边缘的两个长侧面，两个长侧面之间的距离朝远离底面的渐缩方向逐渐地缩小。于多列导电探针的相邻两列之中，其中一列导电探针是与其中另一列导电探针呈间隔地交错设置并具有彼此反向的渐缩方向，并且彼此相邻但分属于不同列导电探针的任两个长侧面之间在非平行于每列导电探针的排列方向上具有侧向间距。据此，通过导电探针的结构设计，相邻两个导电探针所需维持的预定间距是以非平行于排列方向的侧向间距来实现。

【技术实现步骤摘要】
交错式探针卡及导电探针
本专利技术涉及一种探针卡，尤其涉及一种交错式探针卡及导电探针。
技术介绍
现有探针卡包含有多列的导电探针，并且每列导电探针是平行于一排列方向、并用来顶抵于待测物上的一列金属垫。然而，于每列导电探针中，任两个相邻的所述导电探针于排列方向上需维持着一预定间距，所以现有探针卡的结构设计于无形中被局限住。于是，本专利技术人认为上述缺陷可改善，乃特潜心研究并配合科学原理的运用，终于提出一种设计合理且有效改善上述缺陷的本专利技术。
技术实现思路
本专利技术实施例在于提供一种交错式探针卡及导电探针，能有效地改善现有探针卡所可能产生的缺陷。本专利技术实施例公开一种交错式探针卡，包括一上导板与一下导板以及多个导电探针。上导板与一下导板彼此间隔地设置；多个导电探针各呈长形且定义有一长度方向，多个所述导电探针穿设于所述上导板与所述下导板；其中，多个所述导电探针排成多列，并且每列所述导电探针平行于一排列方向，并且每个所述导电探针包含有：一底面及两个长侧面，底面平行于所述长度方向、并穿过所述上导板与所述下导板；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种交错式探针卡，其特征在于，所述交错式探针卡包括：/n一上导板与一下导板，彼此间隔地设置；以及/n多个导电探针，各呈长形且定义有一长度方向，多个所述导电探针穿设于所述上导板与所述下导板；其中，多个所述导电探针排成多列，并且每列所述导电探针平行于一排列方向，并且每个所述导电探针包含有：/n一底面，平行于所述长度方向、并穿过所述上导板与所述下导板；及/n两个长侧面，分别相连于所述底面的两个边缘，并且两个所述长侧面皆平行于所述长度方向、且穿过所述上导板与所述下导板；其中，两个所述长侧面之间的一距离朝远离所述底面的一渐缩方向逐渐地缩小；/n其中，于多列所述导电探针的相邻两列之中，其中一列所述导电...

【技术特征摘要】
1.一种交错式探针卡，其特征在于，所述交错式探针卡包括：
一上导板与一下导板，彼此间隔地设置；以及
多个导电探针，各呈长形且定义有一长度方向，多个所述导电探针穿设于所述上导板与所述下导板；其中，多个所述导电探针排成多列，并且每列所述导电探针平行于一排列方向，并且每个所述导电探针包含有：
一底面，平行于所述长度方向、并穿过所述上导板与所述下导板；及
两个长侧面，分别相连于所述底面的两个边缘，并且两个所述长侧面皆平行于所述长度方向、且穿过所述上导板与所述下导板；其中，两个所述长侧面之间的一距离朝远离所述底面的一渐缩方向逐渐地缩小；
其中，于多列所述导电探针的相邻两列之中，其中一列所述导电探针是与其中另一列所述导电探针呈间隔地交错设置并具有彼此反向的所述渐缩方向，并且彼此相邻但分属于不同列所述导电探针的任两个所述长侧面之间在非平行于所述排列方向上具有一侧向间距。


2.依据权利要求1所述的交错式探针卡，其特征在于，每个所述导电探针包含有一测试端面，并且呈间隔地交错设置的两列所述导电探针的所述测试端面是用来可分离地顶抵于一待测物的一列金属垫；其中，每个所述导电探针的任一部位包含有垂直于所述长度方向的一横截面，其形状等同于所述测试端面的形状。


3.依据权利要求1所述的交错式探针卡，其特征在于，所述上导板形成有多个上穿孔，所述下导板形成有多个下穿孔；多个所述导电探针分别可活动地穿过所述上导板的多个所述上穿孔、并分别可活动地穿过所述下导板的多个所述下穿孔；其中，每个所述下穿孔的形状对应于相对应所述导电探针的任一部位垂直于所述长度方向的一横截面。


4.依据权利要求1所述的交错式探针卡，其特征在于，每个所述导电探针包含有远离所述底面且相连于两个所述长侧面的一顶面，并且...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢开杰，李晓刚，刁盈铭，苏伟志，
申请(专利权)人：中华精测科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71