多探针无损检查系统技术方案

本发明专利技术的名称为多探针无损检查系统。本文公开了无损检查系统。该无损检查系统包括运动平台和工具组件。该工具组件连接至运动平台，使得工具组件可相对于运动平台移动。该工具组件包括检查工具组件，该检查工具组件包括连接至工具组件的基础结构和连接至基础结构的多个探针组件。每个探针组件包括第一线性致动器和探针，该探针不同于多个探针组件中的任何其他一个的探针，用于检查结构的不同结构特征。每个探针使用多个探针组件中的相应一个的第一线性致动器，沿第一轴相对于探针中的另一个并且基本垂直于基础结构可移动。

【技术实现步骤摘要】
多探针无损检查系统
本公开内容一般地涉及用于检查零件的检查系统，并且更具体地涉及多探针无损检查系统。
技术介绍
以无损方式检查或扫描结构使用不同的探针在结构表面上进行扫描。不同的探针可以被配置为扫描不同的表面拓扑结构。在常规系统中，基于被检查结构的结构特征和/或表面拓扑，从运动平台上一次一个地安装、使用和移除不同尺寸的不同探针。不断地将探针安装到运动平台上或从运动平台上移除探针可能很耗时。
技术实现思路
响应于现有技术，具体是响应于与常规检查系统相关的问题和缺点，已经开发了本申请的主题。因此，已经开发了本申请的主题以使用无损检查方法来检查多种结构，该无损检查方法克服了现有技术的至少一些上述缺点。本文公开了无损检查系统。无损检查系统包括运动平台和工具组件。工具组件连接至运动平台，使得工具组件可相对于运动平台移动。工具组件包括检查工具组件，该检查工具组件包括连接至工具组件的基础结构和连接至基础结构的多个探针组件。每个探针组件包括第一线性致动器和探针，该探针不同于多个探针组件中的任何其他一个探针的探针，用于检查结构的不同结构特征。使用多个探针组件中的相应一个的第一线性致动器，每个探针可相对于探针中的另一个沿着第一轴并且基本垂直于基础结构移动。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例1。检查工具组件进一步包括第二线性致动器，该第二线性致动器连接至基础结构和多个探针组件中的每一个。第二线性致动器被配置为使多个探针组件沿基本垂直于第一轴的第二轴移动。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例2，其中实例2还包括根据以上实例1的主题。无损检查系统进一步包括控制器，该控制器被配置为致动所述第一线性致动器以将多个探针中的一个定位到扫描位置，并且将一个或多个其他探针定位到非扫描位置。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例3，其中实例3还包括根据以上实例2的主题。第一轴穿过工具组件的参考点。处于扫描位置的多个探针组件中的一个与参考点对准，使得第一轴穿过多个探针组件中的一个。处于非扫描位置的其他探针组件未与参考点对准，使得第一轴不穿过其他探针组件。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例4，其中实例4还包括根据以上实例3的主题。第一轴穿过工具组件的参考点。确定位于扫描位置的多个探针组件中的一个探针组件的位置相对于参考点的偏移，用于扫描。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例5，其中实例5还包括根据以上实例3-4中任何一个的主题。多个探针组件中的每个探针可围绕平行于第一轴的第一径向轴旋转，并且可围绕基本垂直于第一轴和第一径向轴的第二径向轴旋转。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例6，其中实例6还包括根据以上实例1-5中任何一个的主题。多个探针组件中的一个探针组件包括多个探针。当多个探针组件中的至少另一个处于非扫描位置时，多个探针被配置为当探针组件处于扫描位置时扫描结构。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例7，其中实例7还包括根据以上实例1-6中任何一个的主题。无损检查系统进一步包括一个或多个传感器。基于使用一个或多个传感器捕获的关于结构的数据，选择多个探针组件中的一个探针组件以处于扫描位置，并且选择多个探针组件中的另一个探针组件以处于非扫描位置。该段落的前述主题表征了本公开的实例8，其中实例8还包括根据以上实例1-7中的任何一个的主题。多个探针组件包括第一探针组件和第二探针组件，第一探针组件包括用于扫描结构的基本平坦区域的第一探针，第二探针组件包括用于扫描结构的不平坦区域的第二探针。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例9，其中实例9还包括根据以上实例1-8中的任何一个的主题。本文进一步公开了使用无损检查系统扫描结构的方法。方法包括将工具组件的检查工具组件的第一探针组件移出扫描位置。第一探针组件包括用于检查结构的第一结构特征的一个或多个探针。方法还包括将检查工具组件的第二探针组件移动到扫描位置。第二探针组件包括用于检查结构的第二结构特征的一个或多个探针。第二结构特征是与第一结构特征不同的类型。使用无损检查系统扫描结构的方法进一步包括使用第二探针组件的一个或多个探针扫描结构。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例10。将第一探针组件移出扫描位置的步骤包括在第一方向上沿第一轴致动连接至第一探针组件的线性致动器。将第二探针组件移动到扫描位置的步骤包括在与第一方向相反的第二方向上沿第一轴致动连接至第二探针组件的线性致动器。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例11，其中实例11还包括根据以上实例10的主题。方法进一步包括沿着基本垂直于第一轴的第二轴致动连接至第一探针组件和第二探针组件的第二线性致动器，以进一步将第一探针组件移出扫描位置和将第二探针组件移入扫描位置。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例12，其中实例12还包括根据以上实例11的主题。第一轴穿过工具组件的参考点。当处于扫描位置时，第一轴穿过第二探针组件。该段落的前述主题表征了本公开的实例13，其中实例13还包括根据以上实例12的主题。方法进一步包括沿第二轴确定第二探针组件的扫描位置相对于工具组件的参考点的偏移。该段落的前述主题表征了本公开的实例14，其中实例14还包括根据以上实例12-13中的任何一个的主题。将第一探针组件移出扫描位置并将第二探针组件移入扫描位置包括围绕径向轴致动连接至检查工具组件的径向致动器，其中第一探针组件和第二探针组件不可移动地固定至检查工具组件，并且彼此偏移。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例15，其中实例15还包括根据以上实例10-11中的任何一个的主题。将第一探针组件移出扫描位置并将第二探针组件移入扫描位置包括：致动连接至第一探针组件的第一径向致动器，和致动连接至第二探针组件的第二径向致动器。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例16，其中实例16还包括根据以上实例10-11中的任何一个的主题。方法进一步包括基于待检查结构的结构特征以及第一探针组件的一个或多个探针和第二探针组件中的一个或多个探针中的一个来动态地选择第一探针组件或第二探针组件中的一个以移入扫描位置。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例17，其中实例17还包括根据以上实例10-16中任何一个的主题。方法进一步包括在计算设备处接收第一探针组件的一个或多个探针和第二探针组件的一个或多个探针捕获的多个数据集，该多个数据集描述了结构的多种结构特征。方法还包括基于多个数据集生成结构的单次扫描。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例18，其中实例18还包括根据以上实例10-17中的任何一个的主题。另外，本文公开了无损检查系统。无损检查系统包括运动平台和工具组件。工具组件连接至运动平台，使得工具组件可相对于运动平台移动。该工具组件包括检查工具组件，该检查工具组件包括多个探针组件。每个探针组件包括用于检查结构的不同结构特征的不同探针。多个探针组件可使用径向致动器围绕轴旋转，以将多个探针组件中的至少一个移动到扫描位置。该段落的前述主题表征了本公开内容的实例19。径向致本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种无损检查系统(100)，其包括：/n运动平台(102)；和/n工具组件(110)，其连接至所述运动平台(102)，使得所述工具组件(110)可相对于所述运动平台(102)移动，其中所述工具组件(110)包括检查工具组件(130)，所述检查工具组件(130)包括：/n连接至所述工具组件(110)的基础结构(131)；和/n连接至所述基础结构的多个探针组件(134a、134n)，每个探针组件(134a、134n)包括第一线性致动器(133a、133n)和探针(135a、135n)，所述探针(135a、135n)不同于所述多个探针组件(134a、134n)中的任何其他一个的探针(135a、135n)，用于检查结构(140)的不同结构特征(145、146)，其中每个探针(135a、135n)使用多个探针组件(134a、134n)中相应一个的第一线性致动器(133a、133n)沿第一轴(A)相对于探针(135a、135n)的另一个探针并且垂直于所述基础结构(131)可移动。/n

【技术特征摘要】
20191007 US 16/595,0941.一种无损检查系统(100)，其包括：
运动平台(102)；和
工具组件(110)，其连接至所述运动平台(102)，使得所述工具组件(110)可相对于所述运动平台(102)移动，其中所述工具组件(110)包括检查工具组件(130)，所述检查工具组件(130)包括：
连接至所述工具组件(110)的基础结构(131)；和
连接至所述基础结构的多个探针组件(134a、134n)，每个探针组件(134a、134n)包括第一线性致动器(133a、133n)和探针(135a、135n)，所述探针(135a、135n)不同于所述多个探针组件(134a、134n)中的任何其他一个的探针(135a、135n)，用于检查结构(140)的不同结构特征(145、146)，其中每个探针(135a、135n)使用多个探针组件(134a、134n)中相应一个的第一线性致动器(133a、133n)沿第一轴(A)相对于探针(135a、135n)的另一个探针并且垂直于所述基础结构(131)可移动。


2.根据权利要求1所述的无损检查系统(100)，其中：
所述检查工具组件(130)进一步包括第二线性致动器(132)，所述第二线性致动器(132)连接至所述基础结构(131)和所述多个探针组件(134a、134n)中的每个；和
所述第二线性致动器(132)被配置为使所述多个探针组件(134a、134n)沿垂直于所述第一轴(A)的第二轴(B)移动。


3.根据权利要求2所述的无损检查系统(100)，进一步包括控制器(108)，其被配置为致动所述第一线性致动器(133a，133n)以将所述多个探针中的一个定位到扫描位置并且将所述其他一个或多个探针定位到非扫描位置。


4.根据权利要求3所述的无损检查系统(100)，其中：
第一轴(A)穿过所述工具组件(110)的参考点(145)；
处于所述扫描位置的所述多个探针组件(134a、134n)中的一个与所述参考点(145)对准，使得所述第一轴(A)穿过所述多个探针组件(134a、134n)中的一个；和
处于非扫描位置的所述其他探针组件(134a、134n)未与所述参考点(145)对准，使得所述第一轴(A)不穿过所述其他探针组件(134a、134n)。


5.根据权利要求3所述的无损检查系统(100)，其中：
所述第一轴(A)穿过所述工具组件(110)的参考点(145)；和
确定定位在所述扫描位置的所...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·M·史诺泽奇，B·A·菲泽，
申请(专利权)人：波音公司，
类型：发明
国别省市：美国;US