本发明专利技术公开一种垂直式测试装置及其片状探针，所述片状探针包括一片本体、一第一接触部、一行程部及一第二接触部。所述片本体在一长度方向上具有一长度，所述片本体在垂直所述长度方向的一厚度方向上具有一厚度，并且所述长度除以所述厚度的一比值介于25～85。所述第一接触部自所述片本体的顶缘延伸所形成。所述行程部自所述片本体的底缘朝远离所述片本体的方向弯曲地延伸所形成，所述行程部能够受力变形而续有一回弹力。所述第二接触部自远离所述片本体的所述行程部端缘延伸所形成。据此，通过片本体来定位于第一导板单元，而行程段无需通过错位即可提供片状探针检测受力所需的行程，进而利于垂直式测试装置进行片状探针的植针与维护更换。植针与维护更换。植针与维护更换。
【技术实现步骤摘要】
垂直式测试装置及其片状探针
[0001]本专利技术涉及一种探针头，尤其涉及一种垂直式测试装置及其片状探针。
技术介绍
[0002]现有的垂直式测试装置包含多个导板及穿设于上述多个导板的多个导电探针，并且上述每个导电探针会受到位在间隔板相反侧的两个导板单元的错位所定位、并形变成弯曲段，以提供所述导电探针检测时所需的行程。据此，现有垂直式测试装置中的导电探针并不易植针与维护更换，进而使得生产与维修成本难以降低。
[0003]于是，本专利技术人认为上述缺陷可改善，乃特潜心研究并配合科学原理的运用，终于提出一种设计合理且有效改善上述缺陷的本专利技术。
技术实现思路
[0004]本专利技术实施例在于提供一种垂直式测试装置及其片状探针，能有效地改善现有垂直式测试装置的导电探针所可能产生的缺陷。
[0005]本专利技术实施例公开一种垂直式测试装置，其包括：一第一导板单元与一第二导板，其彼此对应设置；其中，第一导板单元包含有两个第一导板，并且两个第一导板各形成有多个第一长形孔，每个第一长形孔平行于一长度方向；其中，任一个第一导板的多个第一长形孔沿垂直长度方向的一高度方向分别对应于另一个第一导板的多个第一长形孔；以及多个片状探针，其两端分别穿过第一导板单元与第二导板单元，并且每个片状探针包含有：一片本体，其穿设于分属不同第一导板且彼此对应的两个第一长形孔内、并被两个第一导板所夹持；其中，片本体在长度方向上具有一长度，片本体在垂直长度方向与高度方向的一厚度方向上具有一厚度，并且长度除以厚度的一比值介于25～85；一第一接触部，其自片本体的顶缘延伸所形成，并且第一接触部裸露于两个的一导板之外；一行程部，自片本体的底缘朝远离片本体的方向弯曲地延伸所形成，并且行程部在长度方向上的一延伸距离不大于长度的两倍；其中，行程部位于第一导板单元与第二导板单元之间，并且行程部能够受力变形而续有一回弹力；及一第二接触部，自远离片本体的行程部端缘沿高度方向延伸所形成，并且第二接触部穿过第二导板单元。
[0006]优选地，于每个片状探针及相对应的两个第一长形孔中，片本体在垂直厚度方向的一表面上凹设形成有一卡槽，第一导板单元在相对应的两个第一长形孔中的至少其中一个内形成有一卡榫；其中，两个第一导板于厚度方向上彼此位移，以使每个卡榫插设于相对应的片状探针的卡槽。
[0007]优选地，于每个片状探针中，并且长度除以厚度的一比值介于5～7，并且第一接触部、行程部及第二接触部皆位于片本体沿长度方向与高度方向所虚拟延伸的空间之内。
[0008]优选地，于每个片状探针中，行程部具有一圆弧段，并且圆弧段的曲率半径自片本体朝向第二接触部的方向渐增，而圆弧状能够受力变形而续有回弹力。
[0009]优选地，每个片状探针的行程部在长度方向上的延伸距离大于长度，并且每个片
状探针能相对于高度方向以小于45度的一植针角度依序插设于第一导板单元与第二导板单元；其中，多个第二接触部沿厚度方向排成一列，而多个片本体则交错地分布于该列第二接触部的相反两侧。
[0010]优选地，于每个片状探针中，行程部位于片本体沿高度方向正投影所形成的一投影区域内，以使每个片状探针能沿高度方向依序插设于第一导板单元与第二导板单元。
[0011]优选地，于每个片状探针中，第一接触部呈T字形或L字形，并且第一接触部挡止于远离第二导板单元的第一导板单元的表面。
[0012]优选地，垂直式测试装置进一步包括有一转接板，并且每个片状探针的第一接触部固定于转接板，而每个片状探针的第二接触部用来可分离地顶抵于一待测物。
[0013]优选地，垂直式测试装置进一步包括有：多个垫片，分别设置于第一导板单元与第二导板单元彼此相邻的表面；一间隔板，通过多个垫片而夹持于第一导板单元与第二导板单元之间；及一垫高板，夹持于两个第一导板之间；其中，任一个垫片可选择性地抽离垂直式测试装置。
[0014]本专利技术实施例也公开一种片状探针，其包括：一片本体，其在一长度方向上具有一长度，片本体在垂直长度方向的一厚度方向上具有一厚度，并且长度除以厚度的一比值介于25～85；一第一接触部，其自片本体的顶缘延伸所形成；一行程部，自片本体的底缘朝远离片本体的方向弯曲地延伸所形成，并且行程部在长度方向上的一延伸距离不大于长度的两倍；其中，行程部能够受力变形而续有一回弹力；以及一第二接触部，自远离片本体的行程部端缘沿高度方向延伸所形成。
[0015]综上所述，本专利技术实施例所公开的垂直式测试装置及其片状探针，通过片本体来定位于第一导板单元，而所述行程段无需通过错位即可提供所述片状探针检测受力所需的行程，进而利于所述垂直式测试装置进行所述片状探针的植针与维护更换、并降低生产与维修成本。
[0016]为能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，但是此等说明与附图仅用来说明本专利技术，而非对本专利技术的保护范围作任何的限制。
附图说明
[0017]图1为本专利技术实施例一的垂直式测试装置的立体示意图。
[0018]图2为本专利技术实施例一的片状探针的立体示意图。
[0019]图3为本专利技术实施例一的垂直式测试装置的剖视示意图。
[0020]图4为图2的片状探针另一种方式的立体示意图。
[0021]图5为图4的片状探针又一种方式的立体示意图。
[0022]图6为本专利技术实施例二的垂直式测试装置的剖视示意图。
[0023]图7为图6的垂直式测试装置的底视示意图。
[0024]图8为图6的垂直式测试装置的植针方式示意图。
[0025]图9为本专利技术实施例三的垂直式测试装置的立体示意图。
[0026]图10为本专利技术实施例四的垂直式测试装置的立体示意图。
[0027]图11为图10的垂直式测试装置的底视示意图。
具体实施方式
[0028]以下是通过特定的具体实施例来说明本专利技术所公开有关“垂直式测试装置及其片状探针”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本专利技术的优点与效果。本专利技术可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不悖离本专利技术的构思下进行各种修改与变更。另外，本专利技术的附图仅为简单示意说明，并非依实际尺寸的描绘，事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本专利技术的相关
技术实现思路
，但所公开的内容并非用以限制本专利技术的保护范围。
[0029]应当可以理解的是，虽然本文中可能会使用到“第一”、“第二”、“第三”等术语来描述各种组件或者信号，但这些组件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要是用以区分一组件与另一组件，或者一信号与另一信号。另外，本文中所使用的术语“或”，应视实际情况可能包括相关联的列出项目中的任一个或者多个的组合。
[0030][实施例一][0031]请参阅图1至图5所示，其为本专利技术的实施例一。本实施例公开一种垂直式测试装置1000，包括有一探针头100以及抵接于上述探针头100(probe head)一本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种垂直式测试装置，其特征在于，所述垂直式测试装置包括：一第一导板单元与一第二导板，其彼此对应设置；其中，所述第一导板单元包含有两个第一导板，并且两个所述第一导板各形成有多个第一长形孔，每个所述第一长形孔平行于一长度方向；其中，任一个所述第一导板的多个所述第一长形孔沿垂直所述长度方向的一高度方向分别对应于另一个所述第一导板的多个所述第一长形孔；以及多个片状探针，其两端分别穿过所述第一导板单元与所述第二导板单元，并且每个所述片状探针包含有：一片本体，其穿设于分属不同所述第一导板且彼此对应的两个所述第一长形孔内、并被两个所述第一导板所夹持；其中，所述片本体在所述长度方向上具有一长度，所述片本体在垂直所述长度方向与所述高度方向的一厚度方向上具有一厚度，并且所述长度除以所述厚度的一比值介于25～85；一第一接触部，其自所述片本体的顶缘延伸所形成，并且所述第一接触部裸露于两个所述的一导板之外；一行程部，自所述片本体的底缘朝远离所述片本体的方向弯曲地延伸所形成，并且所述行程部在所述长度方向上的一延伸距离不大于所述长度的两倍；其中，所述行程部位于所述第一导板单元与所述第二导板单元之间，并且所述行程部能够受力变形而续有一回弹力；及一第二接触部，自远离所述片本体的所述行程部端缘沿所述高度方向延伸所形成，并且所述第二接触部穿过所述第二导板单元。2.依据权利要求1所述的垂直式测试装置，其特征在于，于每个所述片状探针及相对应的两个所述第一长形孔中，所述片本体在垂直所述厚度方向的一表面上凹设形成有一卡槽，所述第一导板单元在相对应的两个所述第一长形孔中的至少其中一个内形成有一卡榫；其中，两个所述第一导板于所述厚度方向上彼此位移，以使每个所述卡榫插设于相对应的所述片状探针的所述卡槽。3.依据权利要求1所述的垂直式测试装置，其特征在于，于每个所述片状探针中，并且所述长度除以所述厚度的一比值介于5～7，并且所述第一接触部、所述行程部及所述第二接触部皆位于所述片本体沿所述长度方向与所述高度方向所虚拟延伸的空间之内。4.依据权利要求1所述的垂直式测试装置，其特征在于，于每个所述片状探针中，所述行程部具有一圆弧段，并且所述圆弧段的曲率半径自所述片本体朝向所...
【专利技术属性】
技术研发人员：李文聪，魏逊泰，李晓刚，丁亘生，
申请(专利权)人：中华精测科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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