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本发明公开一种垂直式测试装置及其片状探针，所述片状探针包括一片本体、一第一接触部、一行程部及一第二接触部。所述片本体在一长度方向上具有一长度，所述片本体在垂直所述长度方向的一厚度方向上具有一厚度，并且所述长度除以所述厚度的一比值介于25～8...
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