【技术实现步骤摘要】
一种散热封装结构及其制备方法、以及电子器件
本专利技术涉及半导体封装结构
,具体涉及一种散热封装结构及其制备方法、以及电子器件。
技术介绍
电子产品的迅猛发展是当今封装技术进化的主要驱动力,小型化、高密度、高频高速、高性能、高可靠性和低成本是先进封装的主流发展方向,其中系统级封装(SystemInaPackage,SIP封装)是最重要也是最有潜力满足这种高密度系统集成的技术之一。SIP封装是指将多种功能晶圆,包括处理器、存储器等功能晶圆根据应用场景、封装基板层数等因素,集成在一个封装内,从而实现一个基本完整功能的封装方案。目前,SIP封装芯片高度集中化,芯片工作过程中产生的热量会对芯片自身产生不可逆的损伤。传统的芯片散热工艺,通常是将散热块贴装在芯片背部,通过散热块将热量导出,从而有效避免了高温对芯片的损伤,但是,这样也大大增加了芯片的厚度,不利于IC芯片(微型电子器件)的小型化。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提出一种散热封装结构及其制备方法、以及电子器件,旨在减小芯片封装结构的封装体厚度。 ...
【技术保护点】
1.一种散热封装结构,其特征在于,包括:/n基板,所述基板具有安装侧;/n芯片,所述芯片设于所述安装侧;/n塑封体,所述塑封体设于所述安装侧,且包裹所述芯片设置;以及,/n散热结构,设于所述塑封体,且所述散热结构与所述芯片连接,用以对所述芯片进行散热。/n
【技术特征摘要】
1.一种散热封装结构,其特征在于,包括:
基板,所述基板具有安装侧;
芯片,所述芯片设于所述安装侧;
塑封体,所述塑封体设于所述安装侧,且包裹所述芯片设置;以及,
散热结构,设于所述塑封体,且所述散热结构与所述芯片连接,用以对所述芯片进行散热。
2.如权利要求1所述的散热封装结构,其特征在于,所述散热结构包括:
散热金属层,设于所述塑封体远离所述基板的一侧;以及,
散热连接部,设于所述塑封体内,且连接所述散热金属层和所述芯片设置。
3.如权利要求2所述的散热封装结构,其特征在于,所述散热连接部设有多个,多个所述散热连接部间隔分布于所述芯片背离所述基板的一侧。
4.如权利要求2所述的散热封装结构,其特征在于,所述散热金属层的材质为铜或不锈钢。
5.如权利要求2所述的散热封装结构,其特征在于,所述散热连接部的材质为锡、银或铜。
6.一种如权利要求1至5任意一项所述的散热封装结构的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
提供一基板,所述基板的一侧设置有芯片;
对所述芯片进行塑封,形成包裹所述芯片设置的塑封体;
在所述塑封体上设置散热连接部,使所述散热连接部的一端与所述芯片连接,另一端显露于所述塑封体远离所述基板的一侧;
在所述塑封体远离所述基板的一侧设置散热金属...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈建超,于上家,
申请(专利权)人:青岛歌尔微电子研究院有限公司,
类型:发明
国别省市:山东;37
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