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IGBT桥路及驱动保护电路检测装置制造方法及图纸

技术编号:2648104 阅读:536 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种IGBT桥路及驱动保护电路检测装置,上位机经通讯总线与主控单元连接,主控单元产生控制信号经过驱动接口连接到待测单元,通过隔离探头阵列返回测量信息并实现对IGBT桥路及驱动保护电路检测。IGBT桥路及驱动保护电路检测装置检测流程,包括:检测装置自检测、IGBT桥路及驱动保护电路驱动性能检测、IGBT桥路及驱动保护电路控制逻辑检测、IGBT桥路及驱动保护电路故障保护功能检测、IGBT桥路及驱动保护电路整体运行性能检测,实现了在保证不损坏桥路关键器件的前提下,检查出电路连线,接口顺序等方面的错误,并定量检测驱动延迟时间,IGBT开关时间等电路参数,在进行批量化功率桥路制作时,可以快速对IGBT桥路及驱动保护电路的参数一致性进行检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种由IGBT构成的功率开关桥路及驱动保护电路的快速检测装 置,尤其是地面核磁共振找水仪发射机的系统快速检测装置。
技术介绍
CN1917369公开了一种IGBT驱动器,包括整形电路、C P L D逻辑控制器、 脉冲调制放大电路、隔离变压器、脉冲解调电路和输出放大电路;输入的PWM 信号经整形电路,变为矩形波,再进入CPLD逻辑控制器实现逻辑处理,输出后 经调制放大电路,产生尖脉冲信号经隔离变压器耦合到次级,由解调电路还原成 PWM脉冲信号,最后通过输出放大电路驱动IGBT。CN1171649公布了一种全桥电路IGBT的门极驱动方法及其电路。该方法是 使全桥电路中一支对角臂上的其中一只主控开关相对另一只主控开关延时AT 关断;使全桥电路中另一支对角臂上的其中一只主控开关也相对另一只主控开关 延时A T关断。这只需分别在现有全桥硬开关PWMDC / DC变换器中的每一对 角臂上的两只主控开关之一的隔离驱动电路前增加一关断延时电路便可实现。CN03200451公开了一种IGBT过流保护电路。它基于主控芯片UC3875,其 中一个比较器的同向输入端接一个可变电阻,反向输入端接信号采样电路的输出 端,输出端接触发器的触发端。触发器的输出端与主控芯片的5脚之间经过电阻 相连接。同时触发器的输出端经电阻接一个三极管的基极,三极管的射极接地, 集电极接一个二极管的阴极,二极管的阳极接主控芯片的6脚,三极管的基极与 与之连接的电阻之间接有旁路电容。CN10119181提供了一种短路检测装置,包括彼此串联的直流电源、限流 电阻和至少一个显示单元,各显示单元并联有短路检测端子。其中,所述显示单 元为发光二极管。本专利技术所述的短路检测装置设置有直流电源、限流电阻,在被 测信号没有上电的情况下,就能够实现对被测的任意信号间是否存在短路的检 测,且检测结果指示明显。上述公布的专利,对IGBT驱动器驱动,保护电路以及全桥构成等做了详细 阐述,并公布了一种短路检测装置。但是上述各公布的电路在上电测试过程中, 当桥路存在逻辑连接错误或者部分元件工作不正常时,会出现桥路直通短路等永 久性损坏,该直通短路无法用CN10119181中公布的检测方法检测,导致浪费大 量的人力和时间用在故障排除上。因此,需要一种IGBT桥路及驱动保护模块检 测装置,在保证不损坏IGBT桥路模块的情况下,快速检査出电路连接中存在的 逻辑错误及元件损坏,并对待测IGBT桥路及驱动保护模块的参数进行全面测试。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对上述现有技术的不足,提供一种能够用于IGBT桥路及 驱动保护电路的快速检测装置。降低对批量制作的IGBT桥路的检测时间和人力, 提高检测的安全性。本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的上位机9经主控单元1与控制信号端口转换单元2连接,主控单元1通过端 口 N14与显示单元4连接,主控单元1通过端口 Nil与模拟故障信号转换单元 5连接,主控单元1通过端口 N16与测量电源6连接,主控单元1经逻辑切换单 元3、隔离探头阵列8与模拟负载单元7连接,隔离探头阵列8与控制信号端口 转换单元2连接构成。本专利技术的目的还可以通过以下技术方案实现主控单元1是由通讯端口经MCU与可编程分频器连接,编程分频器连接高 频时钟,控制信息输入单元经通讯端口经MCU与故障信号同步产生单元连接组 成;隔离探头是由衰减器经光电耦合驱动器与高速光电耦合器连接构成;模拟负 载单元7采用星形连接;隔离探头阵列8由IO个参数一致,彼此独立的隔离探 头T1-T10组成,Tl-T6探头用于IGBT驱动性能及连接逻辑检测,T7-T9用于对 模拟负载单元电压进行检测。有益效果IGBT桥路及驱动保护电路检测装置用于对由IGBT构成的桥路 及驱动保护电路进行快速、全面的工作性能检测,在保证不损坏桥路关键器件的 前提下,检査出电路连线,端口顺序等方面的错误,并定量检测驱动延迟时间、 IGBT开关时间等电路参数,在进行批量化功率桥路制作时,可以在几分钟内对 IGBT桥路及驱动保护模块的工作参数进行安全、全面的检测;模拟负载单元7 采用星形连接能满足不同IGBT桥路的要求;本专利技术既能满足由IGBT构成的H 桥路检测,又能检测三相全桥的桥路检测需要; 附图说明附图1:为IGBT桥路及驱动保护电路检测装置结构框图附图2:为附图l主控单元l结构框图附图3:为附图1隔离探头阵列8子探头结构框图附图4:为附图l模拟负载单元7结构图附图5:为IGBT构成的H桥路及驱动电路检测电路图 附图6:为IGBT构成的三相全桥及驱动电路检测电路图 附图7:为IGBT桥路及驱动保护模块过流故障保护功能检测框图 l主控单元,2控制信号接口转换单元,3逻辑切换单元,4显示单元,5模 拟故障信号转换单元,6测量电源,7模拟负载单元,8隔离探头阵列,9上位机。Ol测量电源端口, 02驱动板卡的保护功能端口, 03控制信号输入端口, 04桥路输出端口, 05隔离检测探头端口, 06装置电源端口 具体实施例方式下面结合附图和实施例作进一步详细说明上位机9经主控单元1与控制信号端口转换单元2连接,主控单元1通过端 口 N14与显示单元4连接,主控单元1通过端口 Nil与模拟故障信号转换单元 5连接,主控单元1通过端口N16与测量电源6连接,主控单元l经逻辑切换单 元3、隔离探头阵列8与模拟负载单元7连接,隔离探头阵列8与控制信号端口 转换单元2连接构成。主控单元1是由通讯端口经MCU与可编程分频器连接, 编程分频器连接高频时钟,控制信息输入单元经通讯端口经MCU与故障信号同 步产生单元连接组成;隔离探头是由衰减器经光电耦合驱动器与高速光电耦合器 连接构成;模拟负载单元7采用星形连接;隔离探头阵列8由10个参数一致, 彼此独立的隔离探头T1-T10组成,Tl-T6探头用于IGBT驱动性能及连接逻辑 检测,T7-T9用于对模拟负载单元电压进行检测。主控单元1通过N15端口的通讯总线与上位机9连接,主控单元1通过端 口 N14与显示单元4连接,主控单元1通过端口 Nil与模拟故障信号转换单元 5连接,主控单元1通过N12端口与控制信号接口转换单元2连接,主控单元l 通过端口 N13与逻辑切换单元3连接,控制信号接口转换单元2通过端口 N22 与隔离探头阵列8的Tl-T6探头连接,模拟故障信号转换单元5通过N52端口 与隔离探头阵列8的T10探头连接,隔离探头阵列8另一端与逻辑切换单元3 连接,隔离探头阵列8与模拟负载单元7连接,主控单元l与测量电源6连接, IGBT桥路及驱动保护模块检测装置自检测时,主控单元1不与测量电源6连接, IGBT桥路及驱动保护模块检测装置进行控制信号及探头连接逻辑自检测时,信 号流向为9—1—2—8—3—1—4。控制信号接口转换单元2主要完成将主控单元1产生的控制信号转换为不同 的待测IGBT桥路及驱动保护模块所需求的电气标准和逻辑的输入控制信号,通 过输出端口 N21端口输出。同时,控制信号接口转换单元2给出了用于系统自 检测的端口 N22,该端口的逻辑关系与输出到待测IGBT桥路及驱动保护模块的 逻辑关系相同,但是电气规范符合隔离检测探头阵列的电气检测规范。模拟故障信号转换单元本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种IGBT桥路及驱动保护电路的检测装置,其特征在于,上位机(9)经主控单元(1)与控制信号端口转换单元(2)连接,主控单元(1)通过端口N14与显示单元(4)连接,主控单元(1)通过端口N11与模拟故障信号转换单元(5)连接,主控单元(1)通过端口N16与测量电源(6)连接,主控单元(1)经逻辑切换单元(3)、隔离探头阵列(8)与模拟负载单元(7)连接,隔离探头阵列(8)与控制信号端口转换单元(2)连接构成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:林君荣亮亮段清明王中兴王应吉尚新磊李晓朋
申请(专利权)人:吉林大学
类型:发明
国别省市:82[中国|长春]

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