【技术实现步骤摘要】
侧壁互联板及其制作工艺
本专利技术涉及半导体
,具体地说是一种侧壁互联板及其制作工艺。
技术介绍
电子半导体行业发展迅速,随着5nm工艺制程的普及,人工智能芯片和微处理器芯片的尺寸越来越小,但是芯片的互联PAD却越来越多,为了使芯片能够跟PCB板做互联,传统的封装方式一般是采用FAN-OUT的方式或者转接板扇出的方式来进行焊接,把密集的PAD通过互联线扇出到面积更大的区域,然后通过BGA焊球或者LGA引脚跟PCB板固定。但是这种互联工艺只考虑到把芯片的焊脚做了再分布,却没有考虑到BGA或者LGA在PCB板上占的面积却几乎没有变化。而伴随着芯片的尺寸变小,终端同样面临相似的趋势,要么终端直接微型化,或者终端上的芯片更密集,功能更全,这就要求芯片在终端PCB上的焊接面积不能太大,很明显现在的扇出工艺不能解决这个问题。同时因为现有芯片普遍厚度不超过400um,而PCB板可以达到几个毫米的厚度,还有较大可利用空间,因此只是用芯片侧壁做互联,能节省的面积有限。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种能减小PCB板的面积、堆叠模组的厚度可调且堆叠模组的侧壁面积可以随着需要增加或者减小的侧壁互联板及其制作工艺。按照本专利技术提供的技术方案,所述侧壁互联板,它包括堆叠模组、芯片与PCB板;所述堆叠模组包括硅片,在硅片的每个侧面均设有硅片侧面焊盘,在每个硅片侧面焊盘上均设有硅片侧面焊球,在硅片内设有竖直向设置的联接柱,在硅片的正面设有硅片正面焊盘,在硅片的背 ...
【技术保护点】
1.一种侧壁互联板,其特征是:它包括堆叠模组(1)、芯片(2)与PCB板(3);/n所述堆叠模组(1)包括硅片(11),在硅片(11)的每个侧面均设有硅片侧面焊盘(12),在每个硅片侧面焊盘(12)上均设有硅片侧面焊球(13),在硅片(11)内设有竖直向设置的联接柱(14),在硅片(11)的正面设有硅片正面焊盘(15),在硅片(11)的背面设有硅片背面焊盘(16),联接柱(14)的上端与硅片正面焊盘(15)相接,联接柱(14)的下端与硅片背面焊盘(16)相接,在硅片背面焊盘(16)上设有硅片背面焊球(17);/n所述芯片(2)包括芯片本体(21),在芯片本体(21)的背面设有芯片背面焊盘(22),在芯片背面焊盘(22)上设有芯片背面焊球(23);/n所述PCB板(3)包括PCB板本体(31),在PCB板本体(31)上开设有PCB板凹槽,在PCB板凹槽的侧壁设有PCB板侧面焊盘(32),在PCB板凹槽的底面上设有PCB板底面焊盘(33);/n所述堆叠模组(1)固定在PCB板凹槽内,硅片侧面焊球(13)与PCB板侧面焊盘(32)焊接固定,硅片背面焊球(17)与PCB板底面焊盘(33)焊接固 ...
【技术特征摘要】
1.一种侧壁互联板,其特征是:它包括堆叠模组(1)、芯片(2)与PCB板(3);
所述堆叠模组(1)包括硅片(11),在硅片(11)的每个侧面均设有硅片侧面焊盘(12),在每个硅片侧面焊盘(12)上均设有硅片侧面焊球(13),在硅片(11)内设有竖直向设置的联接柱(14),在硅片(11)的正面设有硅片正面焊盘(15),在硅片(11)的背面设有硅片背面焊盘(16),联接柱(14)的上端与硅片正面焊盘(15)相接,联接柱(14)的下端与硅片背面焊盘(16)相接,在硅片背面焊盘(16)上设有硅片背面焊球(17);
所述芯片(2)包括芯片本体(21),在芯片本体(21)的背面设有芯片背面焊盘(22),在芯片背面焊盘(22)上设有芯片背面焊球(23);
所述PCB板(3)包括PCB板本体(31),在PCB板本体(31)上开设有PCB板凹槽,在PCB板凹槽的侧壁设有PCB板侧面焊盘(32),在PCB板凹槽的底面上设有PCB板底面焊盘(33);
所述堆叠模组(1)固定在PCB板凹槽内,硅片侧面焊球(13)与PCB板侧面焊盘(32)焊接固定,硅片背面焊球(17)与PCB板底面焊盘(33)焊接固定,芯片背面焊球(23)与硅片正面焊盘(15)焊接固定。
2.一种侧壁互联板的制作工艺包括以下步骤:
1a、通过光刻、刻蚀工艺在硅片(11)的正面制作TSV凹槽;
1b、在硅片(11)的正面形成绝缘层,在绝缘层上方制作种子层;在硅片(11)的正面镀铜,使铜金属充满TSV凹槽,通过铜CMP工艺使硅片(11)的正面的铜金属去除,只剩下TSV凹槽内的铜金属而形成嵌入式的硅片侧面焊盘(12);
1c、通过光刻、刻蚀工艺在硅片(11)的正面制作TSV深孔,在硅片(11)的正面沉积绝缘层或者直接热氧化形成绝缘层,通过物理溅射、磁控溅射或者蒸镀工艺在绝缘层上方制作种子层;在硅片(11)的正面镀铜,使铜金属充满TSV深孔,通过铜CMP工艺使硅片(11)的正面的铜金属去除,只剩下TSV深孔内的铜金属而形成联接柱(14),硅片(11)的正面的绝缘层予以保留;
1d、首先在绝缘层上方制作种子层,然后光刻定义RDL和焊盘位置,通过电镀工艺在TSV深孔口露出端制作RDL和焊盘金属,形成硅片正面焊盘(15);
1e、对硅片(11)的正面做临时键合,然后减薄背面,使TSV露出,在背面做钝化层,抛光使TSV金属露出,然后继续制作RDL和硅片背面焊盘(16),形成转接板;
1f、拆除临时键合,把多层转接板做晶圆级键合形成整晶圆堆叠模组...
【专利技术属性】
技术研发人员:冯光建,郭西,顾毛毛,黄雷,高群,
申请(专利权)人:浙江集迈科微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:浙江;33
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