使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路制造技术

本实用新型专利技术涉及使用一般低压逻辑测试机测试高压ＩＣ的接口电路，使高压ＩＣ的高压输出转换成一般低压逻辑测试机所能接受的电压位准。一种使用低压逻辑测试机测试高压ＩＣ的接口电路，该接口电路包括：第一控制器，衔接待测高压ＩＣ的输出脚位，藉其内部的控制开关的开、闭而进行高压ＩＣ的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；衰减电路，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，以衰减高压ＩＣ的输出至低压逻辑测试机所能接受的电压范围；以及第二控制器，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，藉其内部的控制开关的开、闭，并配合第一控制器而进行高压ＩＣ的输出是否通过衰减电路。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及使用一般低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，使高压IC的高压输出转换成一般低压逻辑测试机所能接受的电压位准。
技术介绍
随着显示器与电视薄型化的趋势，电浆或液晶面板的高压IC的需求量相对大增，为维持这些高压IC的出货品质与良率，量产测试是不可或缺的一环。这些高压IC的输出电压高达80V～100V甚至更高的电压，但是目前一般的逻辑测试机其电源供应电压均小于40V，其输出比较准位(outputcomparator level)均小于12V，仅能测试标准集成电路，无法适用于高压IC。若采用昂贵的高压逻辑测试机，则测试成本将大为提高，不符经济原则。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种测试成本降低的使用一般低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路。一种使用低压逻辑测试机测试高压IC的接口电路，该接口电路介于低压逻辑测试机与待测高压IC之间，其中该待测高压IC系藉由一高压电源供应器提供高压电源以进行测试，该接口电路包括一第一控制器，衔接待测高压IC的输出脚位，藉其内部的控制开关的开、闭而进行高压IC的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；一衰减电路，介于第一控制器与低压本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种使用低压逻辑测试机测试高压ＩＣ的接口电路，该接口电路介于低压逻辑测试机与待测高压ＩＣ之间，其中该待测高压ＩＣ系藉由一高压电源供应器提供高压电源以进行测试，其特征在于：所述接口电路包括：一第一控制器，衔接待测高压ＩＣ的输出脚位，藉 其内部的控制开关的开、闭而进行高压ＩＣ的输出脚位的开路短路测试、功能模式测试或是消耗电流测试；一衰减电路，介于第一控制器与低压逻辑测试机之间，以衰减高压ＩＣ的输出至低压逻辑测试机所能接受的电压范围；以及一第二控制器，介于第一 控制器与低压逻辑测试机之间，藉其内部的控制开关的开、闭，并配合第一控制器而进行高压ＩＣ的输出是否...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：滕贞勇，许益彰，
申请(专利权)人：普诚科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]