用于测试集成电路的方法和装置制造方法及图纸

测试集成电路的一个方法，所述电路包括： 测试装置（２），用于测试电路卡和／或在集成电路（１）被安装在电路卡上后连接到该集成电路的其它电路， 用于控制测试装置的输入（７，１２，１３），以及 用于测试集成电路（１）内部操作的测试结构，其特征在于所述方法包括： 为测试装置定义测试方式，在测试方式中测试装置的一个输出（７）连到用于集成电路（１）内部操作的测试结构，和 当集成电路（１）的内部操作被测试时，测试装置（２）设为所述方式，在此集成电路的内部测试结构可以由测试装置（２）的输入（７）来控制。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试集成电路的一种方法，所述电路包含测试电路卡和/或在集成电路安装到电路卡后连接到该集成电路的其它电路的测试装置，为控制测试装置的输入端口，以及测试集成电路内部操作的测试结构。本专利技术还涉及一个集成电路，其包含测试电路卡和/或当集成电路安装到电路卡后连接到该集成电路的其它电路的测试装置，为控制测试装置的输入端口，以及测试集成电路内部操作的测试结构。本专利技术尤其涉及ASIC电路内部操作的测试，该电路由电路生产厂商提供。该测试的目的是通过向电路输入端送测试数据，然后监视从电路输出端所获得的信号来检查电路的操作。为了进行这些测试，在电路制作过程中形成所谓的扫描路径测试结构，该测试结构特意地专门针对由电路内部测试。一个单独的管脚，即输入端，保留在电路中用于控制扫描路径测试结构。所述管脚被证明存在很大问题。因为在集成电路中装配它经常要求更大的空间。扫描路径测试在例如“数字系统测试和可测试设计”中被描述(由M.Abramovie，M.A.Breuer和A.D.Friedman，美国纽约计算机科学出版社)，因此它在此连接中没有被更详细地描述。除对一个集成电路的内部操作测试外本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：O·皮雷恩，
申请(专利权)人：诺基亚电信公司，
类型：发明
国别省市：