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用于测试集成电路的方法和装置制造方法及图纸
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下载用于测试集成电路的方法和装置的技术资料
文档序号:2638105
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测试集成电路的一个方法,所述电路包括: 测试装置(2),用于测试电路卡和/或在集成电路(1)被安装在电路卡上后连接到该集成电路的其它电路, 用于控制测试装置的输入(7,12,13),以及 用于测试集成电路(1)内部操作的测...
该专利属于诺基亚电信公司所有,仅供学习研究参考,未经过诺基亚电信公司授权不得商用。
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