驱动器集成电路的输出电阻测试仪及其测试方法技术

提供了可高精度地、以较高速度、较便宜地构成测成具有多数个管腿的驱动器ＩＣ的输出阻抗的输出阻抗测试仪及其测试方法。用高速扫描器接受来自ＤＵＴ的多个输出管腿的输出电压并用电压测试仪顺次测试电压来求输出阻抗，把设置于输出管腿与输入端子之间的可编程负载ＰＬ构成为对比输出电压高一个恒定电压和低一个恒定电压的门限电压源ＶＴ１群和ＶＴ２群这２系统的电压进行设定。可编程负载ＰＬ群在ＶＴ１群中吐出、在ＶＴ２群中吸入恒定负载电流。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及对比如说LCD(液晶)驱动器IC和喷泡打印机(bubble jet printer)驱动器IC之类的有多个输出管腿的驱动器IC的输出电阻进行测试的输出电阻测试仪及其测试方法。图3示出的是有多个管腿的驱动器IC10的一个例子。虽然管腿数目因种类而异，但有很多为160管腿至300管腿。把电源电压连到电源端子VDD等等上并把接地端子GND接地来驱动IC。在多个输入端子INi(i＝1-n)上，从外部加上控制信号，并由该控制信号发出输出管腿名字及其输出电压的命令。比如说，输出电压值是8位的信号，可以发出256个等级的命令。从多个输出管腿OUTi(i＝1-m)中的已接收到命令的输出管腿把命令所指定的恒定电压值供给到外部的负载上。有这种多个管腿的驱动器IC(以下称之为“DUT”)10的多个输出管腿OUTi必须正确无误地向负载供给由控制信号指定的电压电流。且输出电阻也必须符合规格要求。所以历来在DUT10的制造过程或制造之后或者在入库检查中要测试每一DUT10的输出电压、输出电流和输出电阻以检查该DUT10是否合格。图4示出了现有的检查方式。DC测试单元15是内藏恒流源的电压测试仪。由于通过开关可以吐出也可吸入任意值的恒流，故可以设定输出电流IL，可以测定DUT10的输出电压VO，又可测定输出电阻RO。输出电阻RO是把无负载时的输出电压VO与有负载时的电压值VM之差被负载电流IL除的值。若用公式表示则变成为RO＝(VO-VM)/IL。负载电压值VM由电压测试仪测定。图4(A)是用加电流电压测定模式，用一个DC测试单元15，一次一个管腿边切换边测试DUT10的多数个输出管腿OUTi的输出电压的方法。由于DC测试单元15只有一个，故虽然造价低，但过于花费时间且过于慢。图4(B)是设有Nch(n路)DC测试单元15并用加电流电压测试模式同时进行测试，每N个管腿切换一次进行测试的测试。测试时间与图4(A)比虽然变为1/N。但由于需要Nch的DC测试单元15j(j＝1-N)，故造价高。图4(C)是有DUT10的全部输出管腿OUTi(i＝1-m)的量那么多个DC测试单元15i并且加电流电压测试模式一次测试全部输出管腿OUTi的测试方法。这样一来，虽然测试时间变得非常高速，但由于要设置全部输出管腿OUTi的量那么多个DC测试单元15，故价格也变为极其之高。图4(D)对DUT10的全部输出管腿OUTi(i＝1-m)都分别准备了要连接的可编程负载PL20i。而DUT10的每一输出管腿则连到高速扫描器16的各自的输入端子上。PL20i向DUT10加电流，电压测定用一台电压测试仪17通过高速扫描器16进行。由于电流不向电压测试仪17一侧流，所以可以使用高速扫描器。这种方式可以比较高速地进行测试而且比较便宜。可编程负载PL20如图5所示，由二极管桥、两个恒流源ILL和ILH，门限电压源VT构成。由于是二极管桥，故已连接到DUT10上的一端a的电压与已连到VT上的另一端b的电压相等。因而，采用使门限电压源VT的电压可变的办法。就可以使DUT10一侧的一端a的电压可变。假定把DUT10的输出电平设定为H(高)电平VOH和L(低)电平VOL，把VT的电压值假设定为其中间值，即VT＝(VOH+VOL)/2，则在DUT10的输出电平为H电平的时候，负载电流ILH从输出管腿流往PL20。反过来，在输出电平为L电平的时候，负载电流ILL从PL20一侧流入DUT10一侧。负载电流ILH和ILL选择说明书中的值，使之流有恒定的负载电流ILH或ILL。现有的驱动器IC的输出阻抗的测定方式，如上所述，是从图4(A)到图4(D)的方式。不论用哪种测试方式都可测定输出电阻、其值虽然因DUT的种类而不同，但大约为300Ω-数千Ω，一般为数百Ω左右。然而，用各自的测试方式所测得的测定值虽然有重复性，但在变更测定方式时，其测定值大多不一样。测试方法，不论哪一种都是使从全部的输出管腿OUTi输出恒定的电压，用开关进行切换或同时进行测量。但有时候会因输出电阻的测试方式的不同而使测定值的差为±100Ω左右。因此要在输出电阻上附加上测试方式，既不便而且也变成为不正确的测定值。其原因也因DUT10的种类或设计而不一样，但已经知道各输出管腿的电源和输出电阻不独立，而是在输出部分的若干个块内相互有关连因而相互干扰。这儿所说的干扰已弄明白不仅仅是电感或电容所产生的电磁感应等等的干扰，而且因分压电阻电路的连接方法而产生的干扰大。这样一来，可以知道在上述测试方式中，图4(A)的方式在输出管腿之间没有干扰，故可正确地进行测定。因而，在从图4(B)到图4(D)的测试方式中必须给测定值加上修正值。本专利技术对现有测试方式进行了研讨，为了得到与图4(A)的测试结果相同的值，对图4(D)的方式进行了改良，提供一种可以消除管腿间的干扰，可高精度地、高速地且比较便宜地构成的驱动器IC的输出电阻测试仪。另外，为了得到与图4(A)的测试结果相同的值，还改良了测试方式，提供一种可以消除输出管腿间的干扰、可以高精度地、高速地且可比较便宜地构成的驱动器IC的输出电阻测试方法。本专利技术是一种对现有测试方式的图4(D)的电路方式进行研讨，反复进行实验，利用高速扫描器作成为使得用1台电压测试仪，就可以高精度地且以比较高的速度进行测试的测试装置。另外还地测试方法进行了改良，提供了一种可以消除输出管腿间的干扰，可以构成高精度地高速地测试驱动器IC的输出电阻的方法。首先，对驱动器IC的输出电阻测试仪进行说明。该电路方式作成为设置2系统的可编程负载PL的门限电压源以消除DUT内部的电流干扰，并使得一个系统的门限电压VT1比DUT的输出电压高一个恒定电压，使另一系统的VT2反过来低一个恒定电压，且把该VT1和VT2的电压系统的PL对于DUT的输出管腿的排列交互地或每两个地或每三个地进行排列，使得由PL向DUT内部流入电流或引入电流以抵消DUT内部的电流的干扰。DUT内部的电路构成因种类或因制造厂家不同设计也不一样。有的时候DUT内部的电压源和输出管腿1对1地相对应且输出电阻恒定，但大多数情况是把输出管腿分割成若干个块，并在1个块中对1个电压源的电压进行分压来使之与多个输出管腿相对应。电路方式是多种多样的。因此，不管是什么样的电路方式，要想获得有重复性的测定值的话，对DUT内部电流取平衡就行。所以得知，在输出电阻的测定中，当从DUT中引出恒定的电流并给以同量的电流时，就可以测定正确的输出电阻而不会对DUT内部的电流成分产生干扰。这种方法理想的是对于每一个块也要有等量的电流的流入流出。因此，虽然对于DUT的输出管腿的排列顺序可以交互地进行流入流出或每两个管腿进行流入流出，或者每多个管腿进行流入流出，但由于一个块的输出管腿数是不明确的，故理想的是每一个管腿交互地进行。本专利技术的第1方面由具有与DUT的各输出管腿OUTi(i＝1-m)对应的输入端子的高速扫描器，顺次对该高速扫描器的各输入端子的电压进行测定的电压测试仪、分别设置于上述DUT的各输出管腿OUTi和上述高速扫描器的各输入端子上的2系统的可编程负载PL群构成。所谓该2系统的可编程负载PL群，是门限电压源的电压比DUT的输出电压高一恒定电压的VT1群和低一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种驱动器ＩＣ的输出电阻测试仪，在测试本身是具有多数个输出管腿的驱动器ＩＣ的ＤＵＴ（１０）的直流特性的输出电阻测试仪中，其特征是： 有分别连接到ＤＵＴ（１０）的各输出管腿ＯＵＴｉ上去的输入端子的高速扫描器（１６）； 顺次测试上述高速扫描器（１６）的各输入端子的电压的电压测试仪（１７）； 可对分别设置于上述ＤＵＴ（１０）的各输出管腿ＯＵＴｉ与上述高速扫描器（１６）的各输入端子之间，且可以把门限电压设定得比ＤＵＴ（１０）的输出电压高一个恒定电压的门限电压ＶＴ１群与可设定得低一个恒定电压的门限电压源ＶＴ２群这两个系统的电压进行设定的可编程负载ＰＬ（２０ｉ）群。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：长岛真人，长门喜雄，小野宗范，
申请(专利权)人：株式会社爱德万测试，
类型：发明
国别省市：JP[日本]