用以测试未组装之印刷电路板的设备与方法技术

本发明专利技术涉及一种电路板测试设备，它包括多个电路板测试点。测试设备有一电子分析器，它包括多个测试连接部，每一电路板测试点藉由一电连接部与一测试连接部接触。电子分析器电连接至一格栅图形，把适配器和／或转换器设在格栅图形上。适配器和／或转换器（将受测电路板放在其上）产生从在电路板上的电路板测试点到格栅图形的触点的连接。格栅图形的至少两个触点彼此电连接。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。印刷电路板包括若干电路，随着电子元件持续小型化，这些电路在电路板上的密度一直增加。已知的电路板测试设备或装置基本上可分为两类。属于第一类的是所谓并行测试器，亦即有适配器同时接触全部电路板测试点的测试器。第二类包括所谓指形(finger)测试器，这些设备用两或更多支指形探针(finger probes)依序扫描各别的电路板测试点。适配器型测试设备例如由DE4237591A1、DE4406538A1、DE4323276A、EP215146B1及DE3838413A1揭示。此类适配器基本上把受测电路板的电路板测试点的不规则构造与电子测试设备的给定的格栅图形适配。在受测现代电路板的例子中，这些测试点不再被安排成规则的格栅图形，这就是为什么产生在接触格栅图形及电路板测试点间的连接的接触钉(nail)被安排成倾斜的或在适配器里弯折，或用所谓转换器(translator)把规则的接触格栅图形“转换”成电路板测试点的不规则图形。依据所涉及的设备的型式，对各别的电路作电路中的开路测试(“开路测试”)和对其他电路的短路测试(“短路测试”)。短路测试可能涉及检测低阻及高阻短路。已知若本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用以测试未组装之印刷电路板的设备，包括电子分析器，所述电子分析器电连至格栅图形，把适配器和／或转换器设在所述格栅图形上，将受测电路板放在所述适配器和／或转换器上，所述适配器和／或转换器产生从在所述电路板上测试点到所述格栅图形的触点的电连接，其特征在于，所述格栅图形的至少两个触点彼此电连接，且所述触点至少在一些部分有８００微米或更小的中心间距。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：曼弗雷德普罗科普，
申请(专利权)人：ATG测试体系两合公司，
类型：发明
国别省市：DE[]