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本发明涉及一种电路板测试设备，它包括多个电路板测试点。测试设备有一电子分析器，它包括多个测试连接部，每一电路板测试点藉由一电连接部与一测试连接部接触。电子分析器电连接至一格栅图形，把适配器和／或转换器设在格栅图形上。适配器和／或转换器（将受...
该专利属于ATG测试体系两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过ATG测试体系两合公司授权不得商用。

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