测量内电路电阻和电流的电路及方法技术

本发明专利技术提供一种不用断开导体而测量导体内交流电流和直流电流的电路。已调制的电流源与导体段并联连接，输入测试电流。同步解调器也并联在该导体段的两端，从流过导体上的电流所产生的电压降中分离出测试电流所产生的电压降。测试电压降和电压降由电压表来测量，从而能够计算流过导体段的电流和该导体段的电阻。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般涉及测量电流的电路，更具体地说，涉及测量工作电路导体中的电流的方法和装置。测量流过导体的电流可以通过多种不同的方法来实现。传统破坏性的方法是将导体断开并将电流测量装置插入，象电流表一样与导体串联。然而，在许多情况下，断开铜线，印刷电路(p.c.)板覆铜线，或集成电路引线这样的导体很困难并且不方便，可能还会引起导体损坏，特别是对于印刷电路板的覆铜线尤其是这样。目前已经开发出非破坏性的方法，它可以进行内电路的电流测量而不断开导体。通过使用电流钳表和磁传感探头检测导线周围的磁场，来确定流过导体的电流。这一技术使得不用接触导体就能确定其电流。然而，电流钳表和磁传感探头一般容易受到周围磁场干扰的影响，并且需要导体周围有一定的物理清洁度，这样就使得在测量印刷电路板覆铜线中的电流时，这些工具的使用受到限制。另外一种非破坏性的方法是使用一对双线探头(“开尔文环Kelvinclips”)，该方法沿其长度，在两个分离端与导体电连接，一般成为四线测量，它消除了探头电阻的影响。每一个两线的探头具有源触点和检测触点。在检测触点之间测量两点之间的电压降。通过源触点输入的平衡电流将被测电压清为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试导体中电流的方法包括： （ａ）选择所述导体中的一段，所述电流在所述导体段两端产生电压降； （ｂ）在所述导体段上跨接已调制电流源，所述调制电流源响应具有所选择的频率的调制波形而产生测试电流，从而在所述导体段两端产生测试电压降； （ｃ）在所述导体段上跨接同步解调器，以便通过按照所述调制波形对所述测试电压降进行同步解调而将所述测试电压降从所述电压降中分离出来； （ｄ）用电压表测量所述测试电压降； （ｅ）断开所述已调制电流源； （ｆ）利用所述电压表测试所述导体段两端的所述电压降；以及 （ｇ）根据所述测试电压降、所述电压降和所述测试电流，确定所述电流。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：JM伦德，SD斯威夫特，
申请(专利权)人：弗兰克公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]